광학적 특성 분석을 이용한 미술품의 진위감정 시스템 및 방법

    公开(公告)号:KR101759247B1

    公开(公告)日:2017-07-18

    申请号:KR1020150084407

    申请日:2015-06-15

    Abstract: 본발명은미술품표면에서반사되어나오는가시광선영역대의빛에대한고유한정보및 라인레이저(Line laser)를이용한데이터를기준으로효율적인판정이가능하도록한 광학적특성분석을이용한미술품의진위감정시스템및 방법에관한것으로, 미술품에백색광을조사하고라인레이저를미술품에조사하는광 조사부;상기광 조사부에서조사되는백색광에의한반사광정보, 빛의세기를측정을하고라인레이저가산란및 반사되어나타나는이미지데이터를측정하는광특성측정및 처리부;상기광특성측정및 처리부에서측정된반사광정보, 반사광세기정보, 표면형상데이터를기준으로한 해당미술품의광학특성정보를 DB화하여저장하는광학특성 DB 구축부;광학특성 DB 구축부에저장된광학특성정보를기준으로진위판정대상미술품의진위를판정하는미술품진위판정부;를포함하는것이다.

    광학적 특성 분석을 이용한 미술품의 진위감정 시스템 및 방법
    2.
    发明公开
    광학적 특성 분석을 이용한 미술품의 진위감정 시스템 및 방법 有权
    使用光学特性分析测试绘画真实性的系统和方法

    公开(公告)号:KR1020160147533A

    公开(公告)日:2016-12-23

    申请号:KR1020150084407

    申请日:2015-06-15

    Abstract: 본발명은미술품표면에서반사되어나오는가시광선영역대의빛에대한고유한정보및 라인레이저(Line laser)를이용한데이터를기준으로효율적인판정이가능하도록한 광학적특성분석을이용한미술품의진위감정시스템및 방법에관한것으로, 미술품에백색광을조사하고라인레이저를미술품에조사하는광 조사부;상기광 조사부에서조사되는백색광에의한반사광정보, 빛의세기를측정을하고라인레이저가산란및 반사되어나타나는이미지데이터를측정하는광특성측정및 처리부;상기광특성측정및 처리부에서측정된반사광정보, 반사광세기정보, 표면형상데이터를기준으로한 해당미술품의광학특성정보를 DB화하여저장하는광학특성 DB 구축부;광학특성 DB 구축부에저장된광학특성정보를기준으로진위판정대상미술품의진위를판정하는미술품진위판정부;를포함하는것이다.

    특이 광 투과 현상을 위한 나노홀 어레이 기판 및 이를 이용하는 초고해상도 이미지 시스템
    3.
    发明公开
    특이 광 투과 현상을 위한 나노홀 어레이 기판 및 이를 이용하는 초고해상도 이미지 시스템 有权
    用于特殊光传输的纳米阵列基板和使用其的超分辨率成像系统

    公开(公告)号:KR1020160096347A

    公开(公告)日:2016-08-16

    申请号:KR1020150017866

    申请日:2015-02-05

    CPC classification number: G02B21/0076 G01N21/6458

    Abstract: 본발명은형광처리한관측대상내부의형광물질을외부광원을통해자극하여형광발현을유발하고이를이미지화할 수있는특이광 투과현상을위한나노홀 어레이기판및 이를이용하는초고해상도이미지시스템에관한것이다. 본발명은본 발명은소정의파장을가지는빛을발진시키기위한레이저와, 상기레이저에서발진된빛에서특정색의빛만선택반사하기위한다이크로익미러와, 상기다이크로익미러에의해선택반사된빛의사이즈를조절하기위한시준수단과, 상기시준수단에의해사이즈가조절된빛이조사되어특이광 투과현상이발현되는나노홀어레이기판과, 상기나노홀어레이기판과시준수단사이에구비되어나노홀어레이기판으로빛이수직으로조사되도록하는프리즘과, 상기나노홀어레이기판에의해형성되는근접장을통해발현되는형광이미지를수집하는대물렌즈및 상기대물렌즈에의해수집된형광이미지를기록하는전하결합소자(Charge Coupled Device, CCD)를포함하며, 상기나노홀어레이기판에는수직으로조사되는입사광과교차되는방향으로경사지게형성되는다수의나노홀이형성되어나노홀의직경보다작은크기의광스팟이형성된다. 이와같은본 발명에의하면, 보다선명한형광이미지가출력되는초고해상도이미지시스템이구성될수 있다.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于非同寻常的光学传输的纳米孔阵列基片和一种使用该纳米孔阵列基片的超分辨率成像系统,该超分辨率成像系统激发荧光处理物体中的荧光材料,以通过外部光源观察以诱导荧光表达并产生图像, 荧光表达。 根据本发明,超分辨率成像系统包括:激光器,用于振荡具有规定波长的光; 二向色镜,用于仅选择性地仅反射由激光振荡的光中的特定颜色的光; 准直装置,用于调节由二向色镜反射的光的大小; 发射大小由准直装置调节的光的纳米孔阵列基板,以表现出非凡的光传输现象; 设置在所述纳米孔阵列基板和准直装置之间的棱镜,以垂直地向所述纳米孔阵列基板发光; 收集由由纳米孔阵列基板形成的近场表示的荧光图像的物镜; 以及电荷耦合器件(CCD)来记录由物镜收集的荧光图像。 在纳米孔阵列基板上形成多个纳孔,并且在与垂直发射的入射光交叉的方向上倾斜以形成尺寸小于纳孔的直径的光斑。 根据本发明,超分辨率成像系统能够输出更清晰的荧光图像。

    특이 광 투과 현상을 위한 나노홀 어레이 기판 및 이를 이용하는 초고해상도 이미지 시스템
    4.
    发明授权
    특이 광 투과 현상을 위한 나노홀 어레이 기판 및 이를 이용하는 초고해상도 이미지 시스템 有权
    用于非凡光学传输的纳米孔阵列基板和使用其的超分辨率成像系统

    公开(公告)号:KR101710570B1

    公开(公告)日:2017-02-27

    申请号:KR1020150017866

    申请日:2015-02-05

    Abstract: 본발명은형광처리한관측대상내부의형광물질을외부광원을통해자극하여형광발현을유발하고이를이미지화할 수있는특이광 투과현상을위한나노홀 어레이기판및 이를이용하는초고해상도이미지시스템에관한것이다. 본발명은본 발명은소정의파장을가지는빛을발진시키기위한레이저와, 상기레이저에서발진된빛에서특정색의빛만선택반사하기위한다이크로익미러와, 상기다이크로익미러에의해선택반사된빛의사이즈를조절하기위한시준수단과, 상기시준수단에의해사이즈가조절된빛이조사되어특이광 투과현상이발현되는나노홀어레이기판과, 상기나노홀어레이기판과시준수단사이에구비되어나노홀어레이기판으로빛이수직으로조사되도록하는프리즘과, 상기나노홀어레이기판에의해형성되는근접장을통해발현되는형광이미지를수집하는대물렌즈및 상기대물렌즈에의해수집된형광이미지를기록하는전하결합소자(Charge Coupled Device, CCD)를포함하며, 상기나노홀어레이기판에는수직으로조사되는입사광과교차되는방향으로경사지게형성되는다수의나노홀이형성되어나노홀의직경보다작은크기의광스팟이형성된다. 이와같은본 발명에의하면, 보다선명한형광이미지가출력되는초고해상도이미지시스템이구성될수 있다.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于非凡光学传输的纳米孔阵列基片和一种使用该多孔光学透射的纳米孔阵列基片,该超分辨率成像系统可刺激荧光处理物体中的荧光材料,由外部光源观察以诱导荧光表达,并产生 荧光表达。 根据本发明,超分辨率成像系统包括:激光器,用于振荡具有规定波长的光; 二向色镜,用于仅选择性地仅反射由激光振荡的光中的特定颜色的光; 准直装置,用于调节由二向色镜反射的光的大小; 发射大小由准直装置调节的光的纳米孔阵列基板,以表现出非凡的光传输现象; 设置在所述纳米孔阵列基板和准直装置之间的棱镜,以垂直地向所述纳米孔阵列基板发光; 收集由由纳米孔阵列基板形成的近场表示的荧光图像的物镜; 以及电荷耦合器件(CCD)来记录由物镜收集的荧光图像。 在纳米孔阵列基板上形成多个纳孔,并且在与垂直发射的入射光交叉的方向上倾斜以形成尺寸小于纳孔的直径的光斑。 根据本发明,超分辨率成像系统能够输出更清晰的荧光图像。

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