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公开(公告)号：WO2022019551A1
公开(公告)日：2022-01-27
申请号：PCT/KR2021/008845
申请日：2021-07-09
Applicant: 삼성전자주식회사
Abstract: 전자 장치가 개시된다. 전자 장치는, 입력 전압을 제공하는 전원부, 인덕터, 전원부 및 인덕터 사이에 연결된 스위치, 및 입력 전압을 부하로 제공하는 바이패스(bypass) 다이오드(diode)를 포함하며 부하와 연결된 PFC(power factor correction) 회로 및 입력 전압 및 PFC 회로를 통해 부하로 제공되는 출력 전압을 감지하고, 입력 전압과 출력 전압의 차이에 기초하여 인덕터 및 바이패스 다이오드의 구동을 제어하는 제어 회로를 포함한다.
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公开(公告)号：WO2022191421A1
公开(公告)日：2022-09-15
申请号：PCT/KR2022/001214
申请日：2022-01-24
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 강신호
Abstract: 전자 장치 및 제어 방법이 개시된다. 전자 장치는 AC 전원을 DC 전원으로 변환하는 변환부, PFC 회로 및 PFC 제어 회로를 포함하는 PFC부 및 컨버터부를 포함하고, 컨버터부는 변압기를 이용하여 PFC부로부터 출력된 전압을 제어하여 출력 단자를 통해 전원을 공급하고, 전자 장치가 멀티미디어 기능으로 동작하는 경우 제1 스위치를 제1 상태로 설정하고, 전자 장치가 조명 기능으로 동작하는 경우 제1 스위치를 제2 상태로 설정하며, PFC부는 제1 스위치의 상태에 기초하여 PFC 제어 회로를 제어한다.
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公开(公告)号：WO2023027319A1
公开(公告)日：2023-03-02
申请号：PCT/KR2022/009533
申请日：2022-07-01
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 강신호
Abstract: 본 개시의 일 실시예의 전자 장치는, 전력을 공급하는 소켓, 소켓으로의 물체 인입 여부를 감지하는 센서, 소켓으로의 전류 공급을 제어하는 스위치, 소켓에 흐르는 전류를 감지하는 검류 장치 및 센서 및 검류 장치의 감지 결과에 기초하여, 스위치를 제어하는 프로세서를 포함하고, 프로세서는, 소켓으로의 물체 인입이 감지되면 기설정된 검류 시간 동안 스위치를 제어하고, 검류 시간 동안 소켓에 흐르는 전류에 기초하여 소켓으로의 전류 공급이 유지되도록 스위치를 제어한다.
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公开(公告)号：KR1020150073733A
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：KR1020130161763
申请日：2013-12-23
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H05B37/02
CPC classification number: H05B37/0209 , H05B37/0227
Abstract: 본발명은광원장치에관한것으로서, 복수의발광소자가직렬로연결된복수의발광소자스트링이상호병렬로연결된발광소자어레이부; 외부전원으로부터인가된교류전압을정류하여상기발광소자어레이부에구동전원을공급하는전원공급부; 상기전원공급부로부터공급되는구동전원의전압을검출하여, 상기구동전원이공급되면제어신호를출력하는신호생성부; 상기신호생성부로부터출력된제어신호의변화에따라스위치제어신호를반전하는스위치제어부; 및상기스위치제어부와연결되어상기스위치제어부의스위치제어신호에따라상기복수의발광소자스트링에공급되는구동전원을선택적으로차단하는스위치부;를포함하여, 추가적인설비없이도조명장치의색온도를조절할수 있는효과가있다.
Abstract translation: 光源装置技术领域本发明涉及一种光源装置，包括：发光器件阵列单元，其具有并联连接的多个发光器件串，每个具有串联连接的多个发光器件; 电源单元，对从外部电源施加的交流电压进行整流，以向所述发光元件阵列单元提供驱动电力; 信号发生单元，其检测从所述电源单元提供的驱动电力的电压，以便在提供所述驱动电力时输出控制信号; 开关控制单元，其根据从信号生成单元输出的控制信号的变化来反转开关控制信号; 以及开关单元，其连接到开关控制单元，并且根据开关控制单元的开关控制信号选择性地阻断提供给发光串的驱动电力。 此外，光源装置具有在没有附加设备的情况下控制照明装置的色温的效果。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR101638228B1
公开(公告)日：2016-07-11
申请号：KR1020140058364
申请日：2014-05-15
Applicant: 주식회사 코리아 인스트루먼트 , 삼성전자주식회사
Abstract: 본발명의프로브핀은프로브기판의회로패턴과연결되는프로브빔 영역, 및반도체소자의콘택패드와접촉되는프로브팁 영역을포함하고, 상기프로브빔 영역은, 스트립형태의제1금속패턴, 상기제1금속패턴상에적층되고, 상기제1금속패턴보다길이가긴 제2금속패턴, 및상기제2금속패턴상에적층되고, 상기제1금속패턴과실질적으로동일한길이의제3금속패턴을포함하고, 상기프로브팁 영역은상기제2금속패턴의전단부에서상기콘택패드방향으로일체로돌출형성된 2차원구조를가진다. 이와같은본 발명의구성에의하면반도체소자의파인피치에대처하여검사를실시할수 있다.
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公开(公告)号：KR101545815B1
公开(公告)日：2015-08-20
申请号：KR1020140048785
申请日：2014-04-23
Applicant: 주식회사 코리아 인스트루먼트 , 삼성전자주식회사
CPC classification number: G01R1/073 , G01R31/26 , G01R31/2818
Abstract: 본 발명의 손상된 박막 저항 교체가 가능한 프로브 카드는, 프로브 기판 내부의 배선 라인과 상기 프로브 기판 상의 상면 단자가 테스터와 프로브 사이에서 전기 신호를 인터페이싱 하는 프로브 카드에 있어서, 상기 배선 라인에 의하여 인터페이싱 되는 상기 전기 신호의 경로에 저항을 제공하기 위하여 상기 프로브 기판 상에 제1 두께를 가지는 박막 저항 패턴; 상기 프로브 기판 상에 상기 제1 두께보다 큰 제2 두께를 가지고, 상기 박막 저항 패턴의 양단에 전기적으로 연결되는 한 쌍의 박막 회로 패턴; 및 상기 박막 저항 패턴 및 상기 한 쌍의 박막 회로 패턴을 보호하기 위하여 박막 저항 패턴 및 박막 회로 패턴 상에 적층되되, 저항 교체용 오프닝을 통하여 상기 한 쌍의 박막 회로 패턴을 노출시키는 보호막을 포함한다. 이와 같은 본 발명에 의하면, 손상된 박막 저항 교체가 용이하다.
Abstract translation: 能够替代本发明的损坏的薄膜电阻器的探针卡在探针基板中具有布线，并且在探针卡上具有与测试器和探针之间的电信号对接的上表面端口。 本发明的探针卡包括：薄膜电阻图案，其在探针基板上具有第一厚度，以便提供对由布线接合的电信号的路径的电阻; 一对薄膜电路图案，其具有比探针衬底上的第一厚度大的第二厚度，并且电连接到薄膜电阻器图案的两端; 以及层叠在薄膜电阻图案和薄膜电路图案上的保护膜，以保护薄膜电阻器图案和薄膜电路图案，并且通过打开用于电阻器更换来暴露薄膜电路图案。 根据本发明，容易更换损坏的薄膜电阻器。
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公开(公告)号：KR1020150070857A
公开(公告)日：2015-06-25
申请号：KR1020130157528
申请日：2013-12-17
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: G01R35/00 , G01R31/2889
Abstract: 본발명의기술적사상에의한일 양태에따른프로브카드검사장치는기판과, 상기기판을덮는제1 절연층과, 상기제1 절연층상에형성되어프로브탐침의물리적결함을검출하는제1 검출부를포함하며, 상기제1 검출부는접지탐침의결함을검출하며상기제1 절연층의일부를노출시키는복수의개구부를정의하는제1 도전패턴을구비한접지검출부와, 신호탐침과전원탐침의결함을검출하며상기제1 절연층의일부를노출시키는복수의개구부를정의하는제2 도전패턴을구비한신호및 전원검출부를포함한다.
Abstract translation: 根据本发明的实施例的探针卡测试装置包括：基板; 覆盖基板的第一绝缘层; 以及第一检测部，其形成在所述第一绝缘层上并检测探针的物理缺陷，其中所述第一检测部包括：接地检测部，其具有限定多个开口部的第一导电图案，所述第一导电图案检测 接地探针并暴露第一绝缘层的一部分; 以及信号和电源检测部分，其具有限定多个开口部分的第二导电图案，其检测信号探针和电源探针的缺陷，并暴露第一绝缘层的一部分。
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公开(公告)号：KR1020170102691A
公开(公告)日：2017-09-12
申请号：KR1020160025134
申请日：2016-03-02
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 강신호
IPC: G09G3/34
CPC classification number: G09G3/3413 , G09G2310/0286 , G09G2320/064 , G09G2320/0646
Abstract: 본개시는디스플레이장치및 디스플레이장치의구동방법에관한것으로서, 본개시의실시예에따른디스플레이장치는복수의발광소자가병렬연결되어구성되는발광부, 및복수의발광소자를턴온시킨후, 복수의발광소자각각의턴-오프기간을조정하여복수의발광소자각각의휘도를조절하는구동회로부를포함할수 있다.
Abstract translation: 显示装置和显示装置的驱动方法技术领域本公开涉及显示装置和显示装置的驱动方法，并且根据本公开的实施例的显示装置包括其中多个发光元件并联连接的发光部分， 以及驱动电路单元，用于通过调节每个发光器件的关断周期来调节多个发光器件中的每一个的亮度。
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公开(公告)号：KR1020150132657A
公开(公告)日：2015-11-26
申请号：KR1020140058364
申请日：2014-05-15
Applicant: 주식회사 코리아 인스트루먼트 , 삼성전자주식회사
CPC classification number: G01R3/00 , G01R1/06733 , G01R31/2601
Abstract: 본발명의프로브핀은프로브기판의회로패턴과연결되는프로브빔 영역, 및반도체소자의콘택패드와접촉되는프로브팁 영역을포함하고, 상기프로브빔 영역은, 스트립형태의제1금속패턴, 상기제1금속패턴상에적층되고, 상기제1금속패턴보다길이가긴 제2금속패턴, 및상기제2금속패턴상에적층되고, 상기제1금속패턴과실질적으로동일한길이의제3금속패턴을포함하고, 상기프로브팁 영역은상기제2금속패턴의전단부에서상기콘텍패드방향으로일체로돌출형성된 2차원구조를가진다. 이와같은본 발명의구성에의하면반도체소자의파인피치에대처하여검사를실시할수 있다.
Abstract translation: 根据本发明的探针包括连接到探针基板的电路图案的探测光束区域和与半导体器件的接触焊盘接触的探针尖端区域。 探测光束区域包括带状的第一金属图案，层叠在第一金属图案上并且比第一金属图案长的第二金属图案，以及堆叠在第二金属图案上的第三金属图案。 第三金属图案的长度基本上等于第一金属图案的长度。 探针尖端区域具有沿着接触焊盘的方向从第二金属图案的前端突出的2D结构。 根据本发明的结构，通过处理半导体器件的精细间距来进行检查。
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