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公开(公告)号:KR1020060013025A
公开(公告)日:2006-02-09
申请号:KR1020040061794
申请日:2004-08-05
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: B82B3/0004 , B25J19/00 , B25J19/02 , B82B3/0095 , B82Y40/00
Abstract: 본 발명은 정전기적으로 구동되는 적어도 두 개의 나노 튜브가 프로브 팁에 장착된 나노 집게를 개시한다. 본 발명에 따른 나노 집게는, 테이퍼진 팁이 일측 단부로부터 축방향으로 돌출하여 형성된 도전성 프로브; 상기 프로브 표면의 적어도 일부에 형성된 절연층; 상기 프로브 표면의 절연층 상에 형성된 적어도 하나의 전극; 상기 전극과 연결되며, 상기 프로브 팁 보다 더 돌출하도록 상기 절연층 상에 부착된 적어도 두 개의 전도성 나노 소자; 및 상기 도전성 프로브 및 전극에 각각 전압을 공급하기 위한 전원;을 포함하는 것을 특징으로 한다.
주사터널현미경(STM), 원자력현미경(AFM), 프로브, 나노 집게, 탄소나노튜브, 정전기력, 나노 물질-
公开(公告)号:KR100695167B1
公开(公告)日:2007-03-14
申请号:KR1020060001122
申请日:2006-01-04
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L27/115 , H01L21/8247 , B82Y10/00
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公开(公告)号:KR100601962B1
公开(公告)日:2006-07-14
申请号:KR1020040061794
申请日:2004-08-05
Applicant: 삼성전자주식회사
Abstract: 본 발명은 정전기적으로 구동되는 적어도 두 개의 나노 튜브가 프로브 팁에 장착된 나노 집게를 개시한다. 본 발명에 따른 나노 집게는, 테이퍼진 팁이 일측 단부로부터 축방향으로 돌출하여 형성된 도전성 프로브; 상기 프로브 표면의 적어도 일부에 형성된 절연층; 상기 프로브 표면의 절연층 상에 형성된 적어도 하나의 전극; 상기 전극과 연결되며, 상기 프로브 팁 보다 더 돌출하도록 상기 절연층 상에 부착된 적어도 두 개의 전도성 나노 소자; 및 상기 도전성 프로브 및 전극에 각각 전압을 공급하기 위한 전원;을 포함하는 것을 특징으로 한다.
주사터널현미경(STM), 원자력현미경(AFM), 프로브, 나노 집게, 탄소나노튜브, 정전기력, 나노 물질
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