公开(公告)号：KR1019940002269B1

公开(公告)日：1994-03-19

申请号：KR1019910022952

申请日：1991-12-13

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 김용권 ,  김상광 ,  민영진 ,  최인수

IPC: G06F11/00

Abstract: The checking system employs a micro controller to reduce labor charge and increase test reliability. The apparatus comprises the following: a micro controller which includes the program controlling the test apparatus; a control buffer; an address decoder; a bidirectional data buffer; an I/O control whose input connecting to the output of the register and outputting control signal for the variable resistor.

Abstract translation: 检查系统采用微控制器减少人工费，提高测试可靠性。 该装置包括：包括控制测试装置的程序的微控制器; 控制缓冲器 地址解码器; 双向数据缓冲器; I / O控制器，其输入端连接到寄存器的输出端并输出可变电阻器的控制信号。

公开(公告)号：KR100076815B1

公开(公告)日：1994-08-30

申请号：KR1019910022952

申请日：1991-12-13

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 김용권 ,  김상광 ,  민영진 ,  최인수

IPC: G06F11/00

公开(公告)号：KR1019930014007A

公开(公告)日：1993-07-22

申请号：KR1019910022952

申请日：1991-12-13

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 김용권 ,  김상광 ,  민영진 ,  최인수

IPC: G06F11/00

Abstract: 내용 없음