公开(公告)号：KR3009440060000S

公开(公告)日：2018-02-13

申请号：KR3020160054479

申请日：2016-11-11

Applicant: 삼성전자주식회사

Designer： 심형섭

公开(公告)号：KR3009440040000S

公开(公告)日：2018-02-13

申请号：KR3020160054476

申请日：2016-11-11

Applicant: 삼성전자주식회사

Designer： 심형섭

公开(公告)号：KR3009148120000S

公开(公告)日：2017-07-17

申请号：KR3020160054963

申请日：2016-11-15

Applicant: 삼성전자주식회사

Designer： 심형섭

公开(公告)号：KR3008378510000S

公开(公告)日：2016-02-03

申请号：KR3020150012021

申请日：2015-03-10

Applicant: 삼성전자주식회사

Designer： 심형섭

公开(公告)号：KR3008378450000S

公开(公告)日：2016-02-03

申请号：KR3020150012014

申请日：2015-03-10

Applicant: 삼성전자주식회사

Designer： 심형섭

公开(公告)号：KR1020150026079A

公开(公告)日：2015-03-11

申请号：KR1020130104431

申请日：2013-08-30

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 심형섭 ,  정혜순 ,  황대식

IPC: G06F3/048 ,  G06F3/14

CPC classification number: G06F3/0482 ,  G06F3/0481 ,  G06F3/04886 ,  G06F2203/04803

Abstract: 본 발명의 실시예는 다수의 윈도우를 제공하는 전자 기기의 화면 전환 방법 및 장치에 관한 것으로, 전자 기기에서 상기 전자 기기와 기능적으로 연결된 다수의 윈도우들을 제공하는 동작; 상기 다수의 윈도우들 중 제 1 어플리케이션을 표시하고 있는 적어도 하나의 윈도우를 선택하는 동작; 상기 선택된 적어도 하나의 윈도우에서 실행되고 있는 제 2 어플리케이션과 연관된 입력을 획득하는 동작; 및 상기 획득된 입력에 기반하여, 상기 제 2 어플리케이션을 상기 적어도 하나의 윈도우를 통하여 표시하는 동작을 포함할 수 있다. 한편, 본 발명은 상술한 실시예에 한정되지 않고, 본 발명의 기술적 사상에 바탕을 둔 다양한 실시예가 가능하다.

Abstract translation: 本发明的实施例涉及一种在提供多个窗口的电子设备上切换屏幕的方法及其装置。 该方法可以包括：提供与电子设备功能连接的多个窗口的动作; 选择在窗口中显示第一应用的至少一个窗口的动作; 获取与所选窗口上运行的第二应用相关的输入的动作; 以及基于获取的输入在窗口上显示第二应用的动作。 同时，本发明不限于所描述的实施例，并且可以应用于基于本发明的技术思想的各种情况。

公开(公告)号：KR3007069080000S

公开(公告)日：2013-08-29

申请号：KR3020130000586

申请日：2013-01-04

Applicant: 삼성전자주식회사

Designer： 심형섭 ,  안특모

公开(公告)号：KR3006314640000S

公开(公告)日：2012-02-29

申请号：KR3020100052643

申请日：2010-12-06

Applicant: 삼성전자주식회사

Designer： 심형섭 ,  석호영 ,  김은영

公开(公告)号：KR1020040036848A

公开(公告)日：2004-05-03

申请号：KR1020020065521

申请日：2002-10-25

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 김영주 ,  송미정 ,  심형섭

IPC: C12Q1/00

Abstract: PURPOSE: A method for detecting defects in a microarray is provided, thereby automatically detecting defects in the microarray without examination with the naked eye. CONSTITUTION: A method for detecting defects in a microarray comprises the steps of: scanning fluorescence from the microarray spot containing fluorescent materials; calculating detection factors, F_median, FSD, F_mean, Dia, B_mean, BSD and Bplus1SD from the scanning result; selecting two factors from the calculated detection factors to obtain XY coordinates; and applying the XY coordinates to a detecting equation to detect one or more defects from dust, blackhole, bright surface, uneven surface, irregular bright, scratch, thread, speckle, displace, spread, crack, comet and flow spread, wherein the detection factor F_median is a median value of all pixel brights in the spots; the detection factor FSD is standard deviation of all pixel brights in the spots; the detection factor F-mean is a mean value of all pixel brights in the spots; the detection factor Dia is diameter of the spot region; the detection factor B_mean is a mean value of all pixel brights in the background; the detection factor BSD is standard deviation of all pixel brights in the background; and the detection factor Bplus1SD is percentage of pixels having higher bright value than background bright value + 1 standard deviation.

Abstract translation: 目的：提供一种用于检测微阵列缺陷的方法，从而自动检测微阵列中的缺陷，而不用肉眼检查。 构成：用于检测微阵列中的缺陷的方法包括以下步骤：从含有荧光材料的微阵列点扫描荧光; 从扫描结果计算检测因子F_median，FSD，F_mean，Dia，B_mean，BSD和Bplus1SD; 从计算出的检测因子中选取两个因子，得到XY坐标; 并将XY坐标应用于检测方程，以检测灰尘，黑洞，明亮表面，不平坦表面，不规则亮度，划痕，线，斑点，位移，扩展，裂纹，彗星和流量扩展中的一个或多个缺陷，其中检测因子 F_median是斑点中所有像素亮度的中值; 检测因子FSD是斑点中所有像素亮度的标准偏差; 检测因子F-mean是斑点中所有像素亮度的平均值; 检测因子Dia是斑点区域的直径; 检测因子B_mean是背景中所有像素亮度的平均值; 检测因子BSD是背景中所有像素亮度的标准偏差; 并且检测因子Bplus1SD是比背景亮度+ 1标准偏差具有更高亮度的像素的百分比。

公开(公告)号：KR200075908Y1

公开(公告)日：1993-11-08

申请号：KR2019910003795

申请日：1991-03-21

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 심형섭

IPC: H04N1/00