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公开(公告)号：KR102205900B1
公开(公告)日：2021-01-21
申请号：KR1020140011732
申请日：2014-01-29
Applicant: 삼성전자주식회사
Abstract: 분석장치및 분석장치의카트리지장착상태를판단하는방법이개시된다. 개시된분석장치는검체가담기는웰들을구비한카트리지를장착하는장착부와, 카트리지의웰들을측정하는측정부와, 측정부에서측정된상기웰들에대한측정신호들을처리하는연산처리부를포함하며, 연산처리부는웰들에대한측정신호들의편차를이용하여카트리지의장착상태를판단한다.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1020150090747A
公开(公告)日：2015-08-06
申请号：KR1020140011732
申请日：2014-01-29
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: G01N21/13 , G01N2201/0256
Abstract: 분석장치및 분석장치의카트리지장착상태를판단하는방법이개시된다. 개시된분석장치는검체가담기는웰들을구비한카트리지를장착하는장착부와, 카트리지의웰들을측정하는측정부와, 측정부에서측정된상기웰들에대한측정신호들을처리하는연산처리부를포함하며, 연산처리부는웰들에대한측정신호들의편차를이용하여카트리지의장착상태를판단한다.
Abstract translation: 公开了一种分析装置和确定安装在分析装置中的盒的安装状态的方法。 所公开的分析装置包括：安装单元，其构造成安装其上形成有用于容纳样品的孔的盒; 用于测量形成在所述盒上的井的测量单元; 以及操作处理单元，用于处理相对于由测量单元测量的孔的测量信号，其中所述操作处理单元基于所测量的信号相对于所述孔的偏差确定所述盒的安装状态。
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公开(公告)号：KR1020150066722A
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：KR1020130152102
申请日：2013-12-09
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: G01N21/75 , G01N21/272 , G01N21/5907 , G01N21/6408 , G01N21/77 , G01N21/78 , G01N2035/00128
Abstract: 시약과시료의반응이발생하는챔버에광을조사하고, 챔버로부터광신호를검출하는검출부와검출된광신호에기초하여광학적특성데이터를획득하고, 기준시점까지획득된광학적특성데이터를이용하여검사결과를예측하는제어부를포함하는검사장치를개시한다.
Abstract translation: 公开了一种测试装置。 测试装置包括：检测单元，其将光照射到产生试剂和样品之间的反应的室，并感测来自该室的光信号; 以及控制单元，基于检测到的光信号获得光学特性数据，并使用在基准时间获得的光学特征数据来预测测试结果。
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公开(公告)号：KR1020150074624A
公开(公告)日：2015-07-02
申请号：KR1020130162577
申请日：2013-12-24
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: G01N21/59 , G01N21/75 , G01N2201/0612 , G01N2201/0621 , G01N2201/0696 , G01N2201/105 , G01N2201/121 , G01N2201/127
Abstract: 광학검출장치및 측정오차의보정방법이개시된다. 개시된광학검출장치는시료카트리지의검출챔버들을스캔하여측정하는장치로서, 검출챔버들에광들을조사하는광원들을구비한광원부; 및검출챔버들에조사된광들을검출하는광검출기;를포함하며, 광원들은검출챔버들의검체를측정하는데사용되는주파장광원들과, 측정오차를보정하는데사용되는데사용되는부파장광원을포함하며, 주파장광원들과부파장광원은검출챔버들을스캔하는스캔라인과평행한라인을따라배열된다.
Abstract translation: 公开了一种用于补偿测量误差容限的光学检测装置和方法。 所公开的光学检测装置是用于扫描和测量样本盒的检测室的装置，包括：光源部分，包括用于用光照射检测室的光源; 以及用于检测照射到检测室的光的光检测器。 光源包括用于测量检测室的样本的主波长光源和用于补偿测量误差的亚波长光源，并且主波长光源和亚波长光源沿着 与用于扫描检测室的扫描线平行的线。
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