듀얼 모드 듀얼 밴드 단말기의 대기 통화 방사 전력 제어방법 및 장치
    1.
    发明授权
    듀얼 모드 듀얼 밴드 단말기의 대기 통화 방사 전력 제어방법 및 장치 有权
    控制双线双模终端辐射功率的方法及其方法

    公开(公告)号:KR100819882B1

    公开(公告)日:2008-04-08

    申请号:KR1020070007074

    申请日:2007-01-23

    CPC classification number: H04W16/14 H04W52/40 H04W88/06 H04W52/28

    Abstract: A method and an apparatus for controlling the idle call radiation power of a DBDM(Dual Band Dual Mode) terminal are provided to prevent deterioration in call radiation sensitivity by reducing either call Tx power level in an idle call and preventing the coupling of two antennas. An apparatus for controlling the idle call Tx power of a DBDM terminal, which supports the first and second communication networks through two different antennas, comprises the first wireless communication part(110), the second wireless communication part(120), a Tx power processing part(130), a control part(180), an input part(150), a storage part(160), a display part(170) and an audio processing part(140). The first wireless communication part transmits and receives calls with the first communication network. The second wireless communication part transmits and receives calls with the second communication network. The Tx power processing part adjusts the call Tx power levels of the first and second wireless communication parts. In case a call with the second communication network is connected in the middle of executing a call through the first communication network, the control part holds the call with the first communication network, and controls the Tx power processing part so as to decrease the call Tx power level of the first wireless communication part.

    Abstract translation: 提供一种用于控制DBDM(双频带双模)终端的空闲呼叫辐射功率的方法和装置,以通过减少空闲呼叫中的呼叫Tx功率电平并防止两个天线的耦合来防止呼叫辐射灵敏度的恶化。 一种用于控制通过两个不同天线支持第一和第二通信网络的DBDM终端的空闲呼叫Tx功率的装置,包括第一无线通信部分(110),第二无线通信部分(120),Tx功率处理 部分(130),控制部分(180),输入部分(150),存储部分(160),显示部分(170)和音频处理部分(140)。 第一无线通信部分与第一通信网络发送和接收呼叫。 第二无线通信部分与第二通信网络发送和接收呼叫。 Tx功率处理部分调整第一和第二无线通信部分的呼叫Tx功率电平。 在第二通信网络的呼叫在通过第一通信网络执行呼叫的中间连接的情况下,控制部分与第一通信网络保持呼叫,并且控制Tx功率处理部分以减少呼叫Tx 第一无线通信部分的功率电平。

    반도체 장치 제조 시스템
    2.
    发明公开
    반도체 장치 제조 시스템 无效
    半导体器件制造系统

    公开(公告)号:KR1020060061525A

    公开(公告)日:2006-06-08

    申请号:KR1020040100306

    申请日:2004-12-02

    Inventor: 최재경

    CPC classification number: H01L21/67276 H01L21/6715 H01L21/6773

    Abstract: 자동 반송차를 이용하여 반도체 장치를 제조하는 시스템에서, 자동 반송차는 기판 가공 장치들로 웨이퍼 카세트를 이송한다. 상기 자동 반송차와 이격되어 설치되는 제어 유닛은 상기 자동 반송차의 이동 경로를 무선으로 제어한다. 제1 무선 송수신 유닛은 상기 제어 유닛과 연결되고, 제2 무선 송수신 유닛은 상기 자동 반송차에 장착된다. 따라서 상기 제어 유닛과 상기 자동 반송차는 상기 이동 경로를 제어하기 위한 제어 신호와 상기 자동 반송차의 위치 및 동작 정보를 무선으로 송수신한다. 따라서, 작업자가 일의 급한 정도에 따라서 상기 무선 반송차의 이동 경로를 자유롭게 제어할 수 있으므로 상기 기판 가공 장치의 가동율을 향상시킬 수 있다.

    노패턴 웨이퍼 검출 장치
    3.
    发明公开
    노패턴 웨이퍼 검출 장치 无效
    用于检测非图形波形的装置

    公开(公告)号:KR1020060039508A

    公开(公告)日:2006-05-09

    申请号:KR1020040088611

    申请日:2004-11-03

    Inventor: 최재경

    Abstract: 포토리소그래피 공정 후 웨이퍼의 패턴 형성 여부를 확인하기 위한 노패턴 웨이퍼 검출 장치는 촬상 수단을 이용하여 상기 포토리소그래피 공정이 수행된 웨이퍼의 이미지를 기 설정된 웨이퍼 이미지와 비교하여 상기 웨이퍼의 패턴 형성 여부를 판단한다. 상기 기 설정된 웨이퍼 이미지를 이용하여 상기 촬상 이미지에 정렬 마크가 존재 유무를 확인한다. 따라서 상기 웨이퍼의 패턴 형성 여부를 확인한다.

    오버레이 측정 방법
    4.
    发明公开
    오버레이 측정 방법 无效
    测量覆盖精度的方法

    公开(公告)号:KR1020070010793A

    公开(公告)日:2007-01-24

    申请号:KR1020050065694

    申请日:2005-07-20

    Inventor: 최재경

    CPC classification number: G03F7/70633 H01L22/12 H01L23/544

    Abstract: A method for measuring overlay accuracy is provided to reduce an error rate of a semiconductor device by monitoring a profile of a measuring mark by using an overlay image, which is automatically stored. A test wafer, which includes an overlay mark, is loaded on an overlay measuring device(S110). The overlay mark is read by using the overlay measuring device(S130). An overlap mark on a sample unit is compared with the adjacent overlay marks. The overlay mark has one of a box-like shape, a bar-like shape, and a spot-like shape. The overlay image is stored on the overlay measuring device(S150). The read result is analyzed by using a predetermined routine(S170). The overlay image is automatically stored on the overlay measuring device, such that a defective profile is easily acknowledged.

    Abstract translation: 提供了一种用于测量重叠精度的方法,通过使用自动存储的覆盖图像监视测量标记的轮廓来减少半导体器件的错误率。 包括重叠标记的测试晶片装载在覆盖测量装置上(S110)。 使用覆盖测量装置读取重叠标记(S130)。 将样品单元上的重叠标记与相邻的重叠标记进行比较。 覆盖标记具有盒状形状,棒状形状和斑点形状中的一种。 覆盖图像存储在覆盖测量装置上(S150)。 通过使用预定例程来分析读取结果(S170)。 覆盖图像自动存储在覆盖测量装置上,使得容易确认有缺陷的轮廓。

    반도체 기판 가공 설비
    5.
    发明公开
    반도체 기판 가공 설비 无效
    用于制造半导体基板的设备

    公开(公告)号:KR1020050113409A

    公开(公告)日:2005-12-02

    申请号:KR1020040038043

    申请日:2004-05-28

    Inventor: 최재경

    CPC classification number: H01L21/67253 G03F7/16 H01L21/6715 H01L22/12

    Abstract: 반도체 기판 상에 양질의 막을 코팅하기 위한 반도체 기판 가공 설비에 있어서, 상기 설비는 클린룸 내부에 설치되어 반도체 기판에 대한 코팅 공정을 수행하는 코팅 장치, 클린룸으로부터 이격된 셀 공간에 설치되며 코팅 장치 내부에 수행되는 공정을 제어 및 모니터링 하기 위한 컨트롤 유닛, 및 코팅 장치와 컨트롤 유닛을 연결하기 위한 커넥팅 유닛을 포함한다. 여기서 셀 공간은 대기 중에 노출되며 특별한 청정 환경이 유지되지 않는 공간이다. 또한 커넥팅 유닛은 클린룸에서 유틸리티 존을 통하여 셀 공간으로 연장된다. 클린룸 외부에 컨트롤 유닛을 설치하여 클린룸 내로 들어가지 않더라도 원격으로 코팅 장치를 제어할 수 있다. 따라서 코팅 공정 또는 코팅 장치에 이상이 발생할 경우, 이를 신속하게 대처할 수 있어 생산 효율을 극대화 시킬 수 있다.

    휴대 단말기의 프로세서 간 데이터 통신 방법 및 장치
    6.
    发明授权
    휴대 단말기의 프로세서 간 데이터 통신 방법 및 장치 有权
    用于在移动终端处理器之间传送数据的方法和装置

    公开(公告)号:KR101608671B1

    公开(公告)日:2016-04-05

    申请号:KR1020090125462

    申请日:2009-12-16

    Inventor: 이기용 최재경

    CPC classification number: G06F9/544

    Abstract: 본발명은휴대단말기의프로세서들간 데이터통신방법및 장치에관한것이다. 본발명의실시예에따른제1프로세서, 제2프로세서및 공유메모리를포함하는휴대단말기의프로세서들간의데이터통신방법은상기제1프로세서에서상기제2프로세서로송신할데이터의크기를확인하는단계와; 상기공유메모리를구성하는복수의버퍼영역들중 상기제1프로세서에서상기제2프로세서로의데이터송신에사용할버퍼영역의크기와상기확인된데이터의크기를비교하는단계와; 상기확인된데이터의크기가상기버퍼영역의크기보다큰 경우, 상기확인된데이터의크기에따라상기공유메모리를재설정하는단계와; 상기재설정된공유메모리를통해상기제2프로세서로데이터를송신하는단계를포함하는것을특징으로한다. 본발명을통해복수개의프로세서들을포함하는휴대단말기에서프로세서들이공유메모리를통해데이터통신을수행할때 데이터통신수행속도가향상될수 있다.

    휴대 단말기의 프로세서 간 데이터 통신 방법 및 장치
    7.
    发明公开
    휴대 단말기의 프로세서 간 데이터 통신 방법 및 장치 有权
    用于在移动终端处理器之间传送数据的方法和装置

    公开(公告)号:KR1020110068485A

    公开(公告)日:2011-06-22

    申请号:KR1020090125462

    申请日:2009-12-16

    Inventor: 이기용 최재경

    CPC classification number: G06F9/544

    Abstract: PURPOSE: A method and apparatus for communicating data between processors in mobile terminal are provided to increase data communication speed by enabling the processes to perform a data communication through a shared memory in a mobile terminal in which a plurality of process are included. CONSTITUTION: A shared memory(131) includes buffer areas. A first processor (161) confirms the size of data to be transmitted to a second processor(162) and compares the size of data and size of the buffer area to be used in a data transmission. If the size of data is bigger than that of the buffer area, the first processor resets the shared memory according to the size of data and transmits the data to the second processor through the reset shared memory. The second processor receives the data from the first processor through the shared memory.

    Abstract translation: 目的:提供一种用于在移动终端中的处理器之间传送数据的方法和装置,以通过使得处理能够通过包括多个处理的移动终端中的共享存储器执行数据通信来提高数据通信速度。 构成:共享存储器(131)包括缓冲区。 第一处理器(161)确认要发送到第二处理器(162)的数据的大小,并且比较要在数据传输中使用的数据的大小和缓冲区的大小。 如果数据的大小大于缓冲区的大小,则第一处理器根据数据的大小重置共享存储器,并通过复位共享存储器将数据发送到第二处理器。 第二处理器通过共享存储器从第一处理器接收数据。

    웨이퍼 감지 장치
    8.
    发明公开
    웨이퍼 감지 장치 无效
    WAFER SENSING装置

    公开(公告)号:KR1020030079133A

    公开(公告)日:2003-10-10

    申请号:KR1020020017950

    申请日:2002-04-02

    Inventor: 최재경

    Abstract: PURPOSE: A wafer sensing apparatus is provided to be capable of conserving good sensing efficiency for a long time and accurately sensing a wafer by using a lift part. CONSTITUTION: A wafer sensing apparatus(100) is provided with a sensing arm(110) including a light emitting part(112) for irradiating the light of predetermined frequency band to the inside of a wafer carrier parallel with a slot and a light receiving part(114) located opposite to the light emitting part for sensing the irradiated light, and a lift part for moving the sensing arm up and down. At this time, the lift part includes a lead screw(122), a support part(124) connected to the lead screw and fixed to the sensing arm, and a rotating part(130) for rotating the lead screw. Preferably, the wafer sensing apparatus further includes a controller for controlling the motion of the support part.

    Abstract translation: 目的:提供晶片感测装置,以便能够长时间地保持良好的感测效率,并且通过使用提升部件精确地感测晶片。 构成:晶片感测装置(100)设置有感测臂(110),该感测臂包括发光部(112),用于将预定频带的光照射到平行于槽的晶片载体的内部;以及光接收部 (114),其位于与用于感测照射的光的发光部相对的位置,以及用于上下移动感测臂的升降部。 此时,提升部分包括导螺杆(122),连接到导螺杆并固定到感测臂的支撑部分(124)和用于旋转丝杠的旋转部分(130)。 优选地,晶片感测装置还包括用于控制支撑部分的运动的控制器。

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