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公开(公告)号：KR100176627B1
公开(公告)日：1999-05-15
申请号：KR1019950069755
申请日：1995-12-30
IPC: H05K3/34
CPC classification number: G01R1/06705 , G01R31/2806
Abstract: 인쇄회로기판의 통전검사용 프로브 장치가 개시된다. 이 장치는 전자부품을 인쇄회로기판과 결합시키는 결합부와 접촉하여 통전검사를 수행하는 프로브 어셈블리와, 프로브 어셈블리가 직선운동하도록 구동하기 위한 제1구동수단과, 프로브 어셈블리의 직선운동을 안내하기 위한 가이드를 포함하는 인쇄회로기판의 통전검사용 프로브 장치에 있어서, 프로브 어셈블리는 그 선단에서 결합부와 접촉하여 통전검사에 따른 신호를 검출하기 위한 프로브 팁과; 이 프로브 팁의 후단에 결합되어 프로브 팁이 결합부에 접촉할 때 프로브 팁에 가해지는 접촉힘을 측정하기 위한 힘센서와; 프로브 팁이 결합부에 접촉할 때의 프로브 팁의 위치를 측정하기 위한 위치센서와; 측정된 접촉힘과 프로브 팁의 위치에 따라 프로브 팁의 위치를 조정하기 위한 위치조정수단;을 포함한다. 이 장치는 프로브 어셈블리의 결합부에 대한 경사각을 조정하기 위한 제2구동수단을 더 포함할 수 있다. 이에 따라 납땜불량 및 프로브 팁의 진동을 방지하여 안정된 통전검사를 수행할 수 있고, 다양한 납땜부의 표면형상에 대하여 적응성을 향상시킬 수 있다.
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公开(公告)号：KR100207737B1
公开(公告)日：1999-07-15
申请号：KR1019960029018
申请日：1996-07-18
IPC: H05K13/08
Abstract: 인쇄회로기판의 통전검사용 탐침장치가 개시된다. 본 발명에 의한 탐침장치는, 인쇄회로기판의 납땜부 표면에 대한 통전검사용 탐침 팁의 접촉 입사각을 자유롭게 조정할 수 있도록 된 위치측정 및 조정수단을 구비하여 납땜부의 표면에 대한 탐침 팁의 입사각 및 접촉힘을 적절하게 조정할 수 있도록 구성된다. 이러한 구성의 특징에 의하면, 납땜불량 및 탐침 팁의 진동을 방지하여 안정된 통전검사를 수행할 수 있을 뿐만 아니라 납땜부의 다양한 표면형상에 대해 적응성이 향상된 인쇄회로기판의 통전검사용 탐침장치를 제공할 수가 있다.
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公开(公告)号：KR1019970058441A
公开(公告)日：1997-07-31
申请号：KR1019950069755
申请日：1995-12-30
IPC: H05K3/34
Abstract: 인쇄회로기판의 통전검사용 프로브 장치가 개시된다. 이 장치는 전자부품을 인쇄회로기판과 결합시키는 결합부와 접촉하여 통전검사를 수행하는 프로브 어셈블리와, 프로브 어셈블리가 직선운동하도록 구동하기 위한 제1구동수단과, 프로브 어셈블리의 직선운동을 안내하기 위한 가이드를 포함하는 인쇄회로기판의 통전검사용 프로브 장치에 있어서, 프로브 어셈블리는 그 선단에서 결합부와 접촉하여 통전검사에 따른 신호를 검출하기 위한 프로브 팁과; 이 프로브 팁의 후단에 결합되어 프로브 팁이 결합부에 접촉할 때 프로브 팁에 가해지는 접촉힘을 측정하기 위한 힘센서와; 프로브 팁이 결합부에 접촉할 때의 프로브 팁의 위치를 측정하기 위한 위치센서와; 측정된 접촉힘과 프로브 팁의 위치에 따라 프로브 팁의 위치를 조정하기 위한 위치조정수단;을 포함한다. 이 장치는 프로브 어셈블리의 결합부에 대한 경사각을 조정하기 위한 제2구동수단을 더 포함할 수 있다. 이에 따라 납땜 불량 및 프로브 팁의 진동을 방지하여 안정된 통전검사를 수행할 수 있고, 다양한 납땜부의 표면형상에 대하여 적응성을 향상시킬 수 있다.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR200117212Y1
公开(公告)日：1998-07-01
申请号：KR2019950005318
申请日：1995-03-24
Applicant: 한국과학기술연구원
IPC: B23K31/00
Abstract: 본 고안은 납땜검사장치에 관한 것이다. 좀 더 구체적으로, 본 고안은 인쇄회로기판 상에 형성된 납땜부의 경사도와 높이를 동시에 고정밀도로 측정할 수 있는 납땜검사장치에 관한 것이다. 본 고안의 납땜검사장치는 레이저 방출부(51), 1차 집광렌즈(52) 및 레이저 스캐닝장치(53)로 구성된 레이저 방출수단; 원뿔면경(56), 포물면경(54) 및 센서 유니트(55)로 구성된 경사도 측정부; 전기한 원뿔면경(56)상에 구성된 복수의 광섬유(69), 광섬유(60)의 끝단에 연결된 하부 광센서(61), 빔 스피리터(57), 2차 집광렌즈(58) 및 상부 광센서(59)로 구성된 반사점 측정부; 및, 난반사 측정렌즈(62) 및 PSD 센서(63)로 구성된 반사점 위치측정부를 포함한다. 본 고안의 납땜검사장치에 의해 납땜부의 경사도와 높이를 동시에 고정밀도로 측정하여 납땜부의 형상을 정확히 측정할 수 있는 동시에, 납땜부의 측정시에 오차를 최소화할 수 있으므로, 납땜공정의 품질관리 및 납땜검사 공정개발을 효과적으로 수행할 수 있다.
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公开(公告)号：KR2019960030646U
公开(公告)日：1996-10-22
申请号：KR2019950005318
申请日：1995-03-24
Applicant: 한국과학기술연구원
IPC: B23K31/00
Abstract: 본고안은납땜검사장치에관한것이다. 좀더 구체적으로, 본고안은인쇄회로기판상에형성된납땜부의경사도와높이를동시에고정밀도로측정할수 있는납땜검사장치에관한것이다. 본고안의납땜검사치는레이저방출부(51), 1차집광렌즈(52) 및레이저스캐닝장치(53)로구성된레이저방출수단: 원뿔면경(56), 포물면경(54) 및센서유니트(55)로구성된경사도측정부: 전기한원뿔면경(56)상에구성된복수의광섬유(69), 광섬유(60)의끝단에연결된하부광센서(61), 빔스피리터(57), 2차집광렌즈(58) 및상부광센서(59)로구성된반사점측정부; 및, 난반사측정렌즈(62) 및 PSD 센서(63)로구성된반사점위치측정부를포함한다. 본고안의납땜검사장치에의해납땜부의경사도와높이를동시에고밀정도로측정하여납땜부의형상을정확히측정할수 있는동시에, 납땜부의측정시에오차를최소화할 수있으므로, 납땜공정의품질관리및 납땜검사공정개발을효과적으로수행할수 있다.
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公开(公告)号：KR1019950003260B1
公开(公告)日：1995-04-07
申请号：KR1019930009050
申请日：1993-05-25
Applicant: 한국과학기술연구원
IPC: B23K11/11
Abstract: The method for measuring the shunt current by using the difference of the electromotive forces induced from the both coils, has two opposite coils symmetrically arranged at the center of the welding electrode. The apparatus comprises a plate material having a through hole for inserting the electrode; a pair of coils each having the same diameter and the same winding number, symmetrically arranged at the insert hole; electrically connecting section for connecting the coils.
Abstract translation: 通过使用从两个线圈引起的电动势的差来测量分流电流的方法具有对称地布置在焊接电极的中心处的两个相对的线圈。 该装置包括具有用于插入电极的通孔的板材料; 一对线圈，每个线圈具有相同的直径和相同的绕组数量，对称地布置在插入孔处; 用于连接线圈的电连接部分。
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