비대칭 입자를 이용한 표적 물질 검출 키트 및 방법
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    发明公开
    비대칭 입자를 이용한 표적 물질 검출 키트 및 방법 审中-实审
    靶材检测试剂盒和使用不对称颗粒的方法

    公开(公告)号:KR1020170134188A

    公开(公告)日:2017-12-06

    申请号:KR1020170030065

    申请日:2017-03-09

    CPC classification number: G01N33/543 G01N33/545

    Abstract: 본발명은크기가상이한입자의비대칭응집을이용한표적물질검출키트및 표적물질의검출방법에관한것으로, 표적물질에대하여서로다른결합분자를사용하면입자간의비대칭복합체를얻을수 있으며, 이를분석하여불특정응집효과를배제하고, 높은특이적신호를확보할수 있어각종표적물질을효율적으로검출할수 있다.

    Abstract translation: 本发明是根据靶材料检测试剂盒的检测方法以及使用该不同的颗粒的不对称性聚集,针对靶材料使用不同的结合分子的靶材料的尺寸,并获得颗粒之间的不对称配合物,并进行分析的非特异性聚集 效果可以排除,并且可以确保高特异性信号,从而可以有效地检测各种目标物质。

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