公开(公告)号：KR1020120039327A

公开(公告)日：2012-04-25

申请号：KR1020100100981

申请日：2010-10-15

Applicant: 서울대학교산학협력단

Inventor： 조동현 ,  김장면

IPC: G01J3/26 ,  G01J3/02

Abstract: PURPOSE: A device for measuring wavelength of ray using fabry-perot interferometer is provide to measure the wavelength of ray through a simple structure not including separate frequency-stablized laser or components moving mechanically to equal accuracy level to existing commercial products. CONSTITUTION: A device for measuring wavelength of ray using fabry-perot interferometer comprises a laser(110), an optoelectronic modulator(120), a wave source(121), a beam-splitter, a 1/4 wavelength plate(131), an acousto-optic modulator(132), a frequency changeable wave source(133), a distributor, a demodulator(171), a circuit(172), a light detector(180), a demodulator(181), a circuit(182), a distributor(190), and a frequency detector. The light detector detects rays penetrated through a fabry-perot interferometer. The demodulator demodulates the output signal of the light tdetector to a micro wave source(141).

Abstract translation: 目的：使用fabry-perot干涉仪测量射线波长的设备是通过一种简单的结构来测量射线的波长，该结构不包括单独的频率稳定的激光器或机械元件与现有商业产品相同的精度水平。 构成：使用fabry-perot干涉仪测量射线波长的装置包括激光器（110），光电子调制器（120），波源（121），分光器，1/4波片（131）， 声光调制器（132），频率可变波源（133），分配器，解调器（171），电路（172），光检测器（180），解调器（181），电路 ），分配器（190）和频率检测器。 光检测器检测穿过fabry-perot干涉仪的光线。 解调器将光检测器的输出信号解调成微波源（141）。