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公开(公告)号:KR1020130001437A
公开(公告)日:2013-01-04
申请号:KR1020110062172
申请日:2011-06-27
Applicant: 서울대학교산학협력단
IPC: G01Q60/18
CPC classification number: G01Q60/22 , B82B3/0061 , G01Q20/02 , H01J2237/05
Abstract: PURPOSE: A near field scanning optical microscope is provided to access to an electric field or a magnetic field by using a single probe. CONSTITUTION: A near field scanning optical microscope(1) includes a probe unit(10), a grid unit(20) and a light source unit(30). The probe unit is in the form of a cone. The grid unit is carved in the probe unit. The light source unit is transmitted to both sides of the probe unit. When light in the light source unit is transmitted to the grid unit, surface plasmon is generated. The surface plasmon is propagated to the vertex in the probe unit.
Abstract translation: 目的:提供近场扫描光学显微镜,以通过使用单个探针来访问电场或磁场。 构成:近场扫描光学显微镜(1)包括探针单元(10),栅格单元(20)和光源单元(30)。 探针单元是锥体的形式。 网格单元刻在探头单元中。 光源单元被传送到探头单元的两侧。 当光源单元中的光被传输到网格单元时,产生表面等离子体激元。 表面等离子体激元传播到探针单元中的顶点。
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公开(公告)号:KR101287499B1
公开(公告)日:2013-07-19
申请号:KR1020110062172
申请日:2011-06-27
Applicant: 서울대학교산학협력단
IPC: G01Q60/18
Abstract: 본 발명은 근거리장 주사 광학 현미경에 관한 것으로서, 원뿔 형상을 갖는 탐침부와, 탐침부에 새겨지는 격자부 및 탐침부의 양면에 입사되는 광원부를 포함한다.
본 발명에 따른 근거리장 주사 광학 현미경은 탐침부의 양면에 각각 입사되는 광원을 조절하여 전기물질 또는 자기물질에 대한 탐구가 가능하다.
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