公开(公告)号：WO2011136527A9

公开(公告)日：2011-11-03

申请号：PCT/KR2011/003008

申请日：2011-04-26

Applicant: 천홍구 ,  서울대학교산학협력단

Inventor： 천홍구

IPC: G01Q60/20 ,  G01N33/483 ,  B82B1/00

Abstract: 나노유체역학 기반의 형광 근접장 현미경이 제공된다. 본 형광 근접장 현미경은, 입사광원을 좁은공간에 집중시키고 상기 좁은공간 안에 존재하는 형광시료의 양자수율(quantum yield)을 변경시키며 상기 좁은공간 안에서 발생한 형광신호출력을 특정방향으로 집중시키도록 구성된 나노안테나, 상기 나노안테나의 상기 좁은공간에 연결되어, 상기 좁은공간으로 형광시료를 도입하기 위한 이동통로를 제공하는 나노포어 또는 나노채널을 포함한다. 이에 의해, 나노안테나의 특정 좁은공간에 입사광원을 집중시키고 형광시료의 낮은 양자수율을 높이며 형광신호출력을 특정방향에서 효율적으로 검출할 수 있게되어, 높은 신호대잡음비 및 고분해능 형광검출이 가능해지고, 나노포어 또는 나노채널을 통해 형광시료를 나노안테나로 도입시킴으로써, 나노안테나의 기계적 움직임 없이 시료의 스캐닝이 가능해진다. 상기 나노유체역학 기반의 형광 근접장 현미경은, 형광표지된 DNA를 상기 나노포어 또는 나노채널을 통해 선형화하여 통과 시키면서, 상기 좁은공간 안에서 순차적으로 발생한 형광신호를 읽음으로써 DNA 염기서열 분석이 가능하다.

公开(公告)号：KR1020110125833A

公开(公告)日：2011-11-22

申请号：KR1020100045419

申请日：2010-05-14

Applicant: 서울대학교산학협력단

Inventor： 천홍구

IPC: G01N33/487 ,  G01N27/12 ,  G01N27/04

CPC classification number: G01N27/00 ,  G01N33/48721 ,  G01N27/04 ,  G01N27/12

Abstract: PURPOSE: A nano-pore particle detector through electric potential measurement of insulated thin film electrode is provided to detect high resolution particles and high signal-noise ratio by combining conductive thin film and nanpore. CONSTITUTION: A nano-pore particle detector through electric potential measurement of insulated thin film electrode comprises a nano-conductive membrane(15), an insulating nano membrane, a nano-pore(18), a power supply part(12) and an electric signal measure device(13). The nano-conductive membrane measures an electric signal. The insulating nano membrane is combined with both sides of the nano-conductive membrane. The nano-pore supplies a transfer path of simples. The electric signal measure device is connected to the nano-conductive membrane.

Abstract translation: 目的：通过电绝缘薄膜电极的电位测量，提供纳米孔粒子检测器，通过组合导电薄膜和纳米孔来检测高分辨率粒子和高信噪比。 构成：通过绝缘薄膜电极的电位测量的纳米孔粒子检测器包括纳米导电膜（15），绝缘纳米膜，纳米孔（18），电源部分（12）和电 信号测量装置（13）。 纳米导电膜测量电信号。 绝缘纳米膜与纳米导电膜的两面结合。 纳米孔提供了一个simples的传输路径。 电信号测量装置连接到纳米导电膜。

公开(公告)号：KR101648417B1

公开(公告)日：2016-08-16

申请号：KR1020100045419

申请日：2010-05-14

Applicant: 서울대학교산학협력단

Inventor： 천홍구

IPC: G01N33/487 ,  G01N27/12 ,  G01N27/04

CPC classification number: G01N27/00 ,  G01N33/48721

Abstract: 절연된박막전극의전위측정을통한나노포어입자검출기가제공된다. 본입자검출기는, 전기신호측정을위한전도성나노막, 절연을위해상기전도성나노막의양면에결합된절연나노막, 상기전도성나노막과상기절연나노막으로이루어진절연된전도성나노막에뚫려시료입자의이동통로를제공하는나노포어, 상기절연된전도성나노막양단에전기장을걸어주는전원장치, 상기전도성나노막에연결되어, 상기시료입자가상기나노포어를통해이동할때, 상기시료입자의전하량에따라상기전도성나노막에유도된전하또는상기시료입자의크기에따라야기된상기나노포어내부의부분적저항변화에의한상기전도성나노막의전위변화중 적어도하나이상을측정하기위한전기신호측정장치를포함한다. 이에의해, 나노포어를통해이동하는시료입자의전하와크기에따른전기신호를효율적으로검출할수 있게되어, 높은신호대잡음비및 고분해능입자검출이가능해지고, 나노포어를통해시료입자를전도성나노막에도입시킴으로써, 전도성나노막의기계적움직임없이시료의스캐닝이가능해진다. 상기입자검출기는, DNA를상기나노포어를통해선형화하여통과시키면서, 상기전기신호측정장치가순차적으로측정한신호를읽어 DNA 염기서열분석이가능하다.

公开(公告)号：KR1020110120415A

公开(公告)日：2011-11-04

申请号：KR1020100039815

申请日：2010-04-29

Applicant: 서울대학교산학협력단

Inventor： 천홍구

IPC: G01Q60/20 ,  G01N33/483 ,  B82B1/00

CPC classification number: G01Q60/20 ,  B82B1/00 ,  G01N33/483 ,  G01Q60/00

Abstract: PURPOSE: A nanofluidic fluorescence apertureless near-field microscopy is provided to realize to detect a high SNR(Signal to Noise Raito) and high resolution fluorescence through combination of a nano antenna and a nanopore. CONSTITUTION: A nano antenna(13a) concentrates a incoming light source to a narrow space. The nano antenna changes the quantum yield of fluorescent sample in the narrow space. The nano antenna concentrates fluorescent signal output to the narrow space in a particular direction. A nano pore(14) or a nano channel is connected to the narrow space of the nano antenna. The nano pore or the nano channel provides a moving path for introducing the fluorescent sample to the narrow space.

Abstract translation: 目的：提供纳米流体荧光无孔近场显微镜，以实现通过纳米天线和纳米孔的组合来检测高信噪比（Signal to Noise Raito）和高分辨率荧光。 构成：纳米天线（13a）将入射光源集中在狭窄的空间。 纳米天线改变了狭窄空间中荧光样品的量子产率。 纳米天线将荧光信号输出集中在特定方向的狭窄空间。 纳米孔（14）或纳米通道连接到纳米天线的狭窄空间。 纳米孔或纳米通道提供用于将荧光样品引入狭窄空间的移动路径。

公开(公告)号：KR101681951B1

公开(公告)日：2016-12-05

申请号：KR1020100039815

申请日：2010-04-29

Applicant: 서울대학교산학협력단

Inventor： 천홍구

IPC: G01Q60/20 ,  G01N33/483 ,  B82B1/00

CPC classification number: G01Q60/20

Abstract: 나노유체역학기반의형광근접장현미경이제공된다. 본형광근접장현미경은, 입사광원을좁은공간에집중시키고상기좁은공간안에존재하는형광시료의양자수율(quantum yield)을변경시키며상기좁은공간안에서발생한형광신호출력을특정방향으로집중시키도록구성된나노안테나, 상기나노안테나의상기좁은공간에연결되어, 상기좁은공간으로형광시료를도입하기위한이동통로를제공하는나노포어또는나노채널을포함한다. 이에의해, 나노안테나의특정좁은공간에입사광원을집중시키고형광시료의낮은양자수율을높이며형광신호출력을특정방향에서효율적으로검출할수 있게되어, 높은신호대잡음비및 고분해능형광검출이가능해지고, 나노포어또는나노채널을통해형광시료를나노안테나로도입시킴으로써, 나노안테나의기계적움직임없이시료의스캐닝이가능해진다. 상기나노유체역학기반의형광근접장현미경은, 형광표지된 DNA를상기나노포어또는나노채널을통해선형화하여통과시키면서, 상기좁은공간안에서순차적으로발생한형광신호를읽음으로써 DNA 염기서열분석이가능하다.

Abstract translation: 提供了一种纳米流体荧光无孔近场扫描光学扫描仪。 本发明的近场扫描光学扫描仪包括将入射光聚焦在狭窄空间中的纳米天线，改变了狭窄空间中的荧光样品的量子产率，并将在狭窄空间中产生的荧光信号的输出聚焦到特定的 方向; 以及连接到纳米天线的狭窄空间的纳米孔或纳米通道，以提供用于将荧光样品引入狭窄空间的路径。 如上所述，入射光聚焦在纳米天线的特定狭窄空间中，可以提高荧光样品的低量子产率，并且可以在特定方向上有效地检测荧光信号的输出，从而能够实现高信号 - 高比例和高分辨率荧光检测。 荧光样品通过纳米孔或纳米通道引入纳米天线，从而使样品能够在没有纳米天线的机械运动的情况下进行扫描。 本发明的纳米流体荧光无孔近场扫描光学微镜允许荧光标记的DNA线性化并通过纳米孔或纳米通道，并读取在狭窄空间中顺序生成的荧光信号，从而进行DNA测序。

公开(公告)号：KR101344040B1

公开(公告)日：2013-12-24

申请号：KR1020120053576

申请日：2012-05-21

Applicant: 서울대학교산학협력단

Inventor： 권성훈 ,  김준회 ,  천홍구 ,  김은근

IPC: G01N27/02 ,  G01N15/10 ,  G01N33/483 ,  B81B7/02

Abstract: 본발명은미세입자계측장치및 그제작방법에관한것으로, 특히, 측정시료인미세입자하나만통과할수 있는크기의미세유체관을구비하고미세유체관가운데에센싱전극을배치하고센싱전극을사이에두고미세입자유입되는측과배출되는측에기준전극을배치하여미세유체관을통과하는미세입자를독립적으로계측하여병렬측정이가능한미세입자계측방법및 장치및 그제조방법에관한것이다

公开(公告)号：KR1020120129836A

公开(公告)日：2012-11-28

申请号：KR1020120053576

申请日：2012-05-21

Applicant: 서울대학교산학협력단

Inventor： 권성훈 ,  김준회 ,  천홍구 ,  김은근

IPC: G01N27/02 ,  G01N15/10 ,  G01N33/483 ,  B81B7/02

Abstract: PURPOSE: A fine particle measuring device, a fine particle measuring method, and a manufacturing method thereof are provided to detect fine particles passing through a specific section by observing a potential value of the specific position in the inside of a fine fluid pipe and to distinguish a size of the particles. CONSTITUTION: A fine particle measuring device(100) comprises a substrate, a fine fluid pipe layer, a sensing electrode(120), and a reference electrode(130). The fine fluid pipe layer comprises a fine fluid pipe(110). The fine fluid pipe has a cross-sectional area in which fine particles desired to measure can be penetrated. The sensing electrode is formed on the substrate to across the fine fluid pipe. The reference electrode is formed on the substrate and reference voltage is applied to the reference electrode.

Abstract translation: 目的：提供微粒测量装置，微粒测量方法及其制造方法，通过观察细流体管内的特定位置的电位值来检测通过特定部分的微粒，并区分 颗粒的大小。 构成：细颗粒测量装置（100）包括基底，细流体管层，感测电极（120）和参比电极（130）。 细流体管层包括细流体管（110）。 细流体管具有可以渗透需要测量的微粒的横截面。 感测电极形成在衬底上以跨过精细流体管。 参考电极形成在基板上，参考电压被施加到参考电极。