公开(公告)号：KR101857061B1

公开(公告)日：2018-05-14

申请号：KR1020170052928

申请日：2017-04-25

Applicant: 서울시립대학교 산학협력단 ,  서강대학교산학협력단

Inventor： 최인희 ,  진창민 ,  강태욱 ,  신용희

IPC: G01N21/65 ,  G01N21/39 ,  G01N21/25

CPC classification number: G01N21/658 ,  G01N21/25 ,  G01N21/39 ,  G01N2021/258

Abstract: 본발명은표면에금속입자가부착된홀을포함하는광학체를사용한표면증강라만분석방법에관한것으로, 본발명에따른표면증강라만분석방법은분석대상물질이위치하는공간을특정하고레이저광을한 점으로집중시키는홀을포함하는광학체를사용함에따라현저히우수한라만신호를얻을수 있다.

公开(公告)号：KR102219329B1

公开(公告)日：2021-02-22

申请号：KR1020190090178

申请日：2019-07-25

Applicant: 서울시립대학교 산학협력단

Inventor： 최인희 ,  진창민 ,  강태호

IPC: G01N21/78 ,  G01N21/552 ,  G01N31/22 ,  G01N21/25

Abstract: 본발명은금속나노입자를이용하여 CMIT/MIT를정량및 정성적으로분석하기위한검출방법에관한것으로, 본발명의금속나노입자를이용한 CMIT/MIT를분석하는검출방법은분석을위한시료의복잡하거나추가적인전처리과정과화학링커의도움없이, 비색검출센서및 광학신호증폭기로서금 나노입자의이중기능을이용하여빠르고편리하게 CMIT/MIT를정량적이고정성적으로광학검출할수 있다.

公开(公告)号：KR102169064B1

公开(公告)日：2020-10-22

申请号：KR1020190030720

申请日：2019-03-18

Applicant: 서울시립대학교 산학협력단

Inventor： 최인희 ,  진창민

IPC: G03F7/00 ,  G03F7/20 ,  H01L29/06 ,  H01L21/02

公开(公告)号：KR1020210012441A

公开(公告)日：2021-02-03

申请号：KR1020190090178

申请日：2019-07-25

Applicant: 서울시립대학교 산학협력단

Inventor： 최인희 ,  진창민 ,  강태호

IPC: G01N21/78 ,  G01N21/552 ,  G01N31/22 ,  G01N21/25

Abstract: 본발명은금속나노입자를이용하여 CMIT/MIT를정량및 정성적으로분석하기위한검출방법에관한것으로, 본발명의금속나노입자를이용한 CMIT/MIT를분석하는검출방법은분석을위한시료의복잡하거나추가적인전처리과정과화학링커의도움없이, 비색검출센서및 광학신호증폭기로서금 나노입자의이중기능을이용하여빠르고편리하게 CMIT/MIT를정량적이고정성적으로광학검출할수 있다.