재료의 미세 변화 측정 방법 및 시스템
    1.
    发明授权
    재료의 미세 변화 측정 방법 및 시스템 有权
    测量材料和系统的分钟结构变化的方法

    公开(公告)号:KR101420092B1

    公开(公告)日:2014-07-21

    申请号:KR1020120138235

    申请日:2012-11-30

    Abstract: 본 발명에 따른 재료의 미세 변화 측정 방법은 피검사 재료에 제1 압축 응력을 제공하는 단계, 상기 재료에 제1 압축 응력이 제공된 상태에서 주파수가 다른 교류신호들을 입력하면서 상기 재료에서 출력되는 전기 임피던스를 측정하는 단계, 및 출력된 전기 임피던스를 분석하여 상기 재료의 미세 변화 여부를 결정하는 분석 단계를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.

    재료의 미세 변화 측정 방법 및 시스템
    2.
    发明公开
    재료의 미세 변화 측정 방법 및 시스템 有权
    用于测量材料及其系统的微小结构变化的方法

    公开(公告)号:KR1020140070930A

    公开(公告)日:2014-06-11

    申请号:KR1020120138235

    申请日:2012-11-30

    Abstract: According to the present invention, a method for measuring micro-changes of a material includes the steps of: providing a first compressive stress to a sample material to be tested; measuring electrical impedance from the material while alternating current signals in various frequencies are transmitted to the material; and analyzing the electrical impedance output to determine whether micro-changes of the material has occurred or not.

    Abstract translation: 根据本发明,用于测量材料的微观变化的方法包括以下步骤:向待测样品提供第一压缩应力; 测量来自材料的电阻抗,同时将不同频率的交流信号传输到材料; 并分析电阻抗输出以确定材料的微观变化是否已经发生。

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