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公开(公告)号：WO2020101420A1
公开(公告)日：2020-05-22
申请号：PCT/KR2019/015628
申请日：2019-11-15
Applicant: 숙명여자대학교산학협력단
Abstract: 증강현실 기기의 광학 특성 측정 방법을 개시한다. 본 발명의 일 실시예에 따른 증강현실 기기의 광학 특성 측정 방법은 소정의 측정기준위치를 중심으로 배치된 적어도 하나의 카메라를 이용하여, 증강현실 기기에 의해 가상평면 상에 출력되는 복수의 패턴을 포함하는 테스트이미지를 촬영하는 단계; 상기 적어도 하나의 카메라의 화각에 관한 정보를 포함하는 화각정보 및 상기 적어도 하나의 카메라의 배치에 관한 정보를 포함하는 촬영시스템정보를 획득하는 단계; 및 상기 적어도 하나의 카메라에 의해 촬영된 복수의 촬영이미지, 상기 화각정보 및 상기 촬영시스템정보에 기초하여, 상기 측정기준위치를 기준으로 하는 상기 복수의 패턴의 좌표를 산출하는 단계를 포함한다.
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