公开(公告)号：KR1020100126302A

公开(公告)日：2010-12-01

申请号：KR1020107017994

申请日：2008-01-23

Applicant: 아이지나

Inventor： 피롤버나드 ,  그레미레피리페 ,  마갱장-마리 ,  트레토장 ,  베망프레데릭

IPC: G01J3/51

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0278 ,  G01J3/51 ,  G01J3/513

Abstract: 본 발명은 다수의 분석 지점에 따라 물체의 비색 좌표(colorimetric coordinates) 및 낮은 양각 구조(low relief)를 디지털 방식으로 모델링하기 위한 3차원 물체의 공간-비색 측정 장치 및 방법에 관한 것이다. 이를 위해, 본 발명의 측정 장치는 분석된 물체의 낮은 양각 구조를 입체경 효과(stereoscopic effect)에 의해 산출하기 위해, 조명 수단과, 실질적으로 동일한 광 파장 범위에 대해 민감성을 갖는 적어도 2개의 트윈 검출 수단(twin detection means)을 포함하는 적어도 4개의 광 검출 수단을 결합하여 구성한다. 그래서, 본 발명은 물체(2)를 조명하기 위한 조명 수단(14)과 물체(2)에 의해 반사된 광선을 검출하기 위한 적어도 4개의 검출 수단(16)을 포함하는 검출 헤드(4)를 포함하며, 검출 수단(16)에 의해 수신된 정보를 처리하는 장치(8)를 더 포함하는 3차원 물체(2)의 공간-비색 측정용 장치를 제시한다. 적어도 2개의 트윈 검출 수단(16c, 16e)은 실질적으로 동일한 광 파장 범위에 대해 민감성을 갖는다.