테라헤르츠 메타 물질을 이용한 이물질 검출 장치
    1.
    发明公开
    테라헤르츠 메타 물질을 이용한 이물질 검출 장치 有权
    用TERAHERTZ METAMATERIALS检测外来材料的装置和方法

    公开(公告)号:KR1020140100135A

    公开(公告)日:2014-08-14

    申请号:KR1020130013009

    申请日:2013-02-05

    Abstract: A foreign substance detection device using terahertz metamaterials according to an embodiment of the present invention comprises terahertz metamaterials reacting in a terahertz frequency region; a terahertz wave generating unit which generates a terahertz frequency and emits the terahertz frequency to the terahertz metamaterials; an extraction unit which extracts a resonant frequency by analyzing the terahertz wave passing through the terahertz metamaterials; and a determination unit which determines that there are foreign substances in the terahertz metamaterials when the extracted resonant frequency is different from a reference resonant frequency.

    Abstract translation: 根据本发明的实施例的使用太赫兹超材料的异物检测装置包括在太赫兹频率区域中反应的太赫兹超材料; 太赫兹波发生单元,其产生太赫兹频率并向太赫兹超材料发射太赫兹频率; 提取单元,通过分析通过太赫兹超材料的太赫波提取共振频率; 以及当提取的谐振频率与参考共振频率不同时,确定在太赫兹超材料中存在异物的确定单元。

    테라헤르츠 메타 물질을 이용한 이물질 검출 장치
    5.
    发明授权
    테라헤르츠 메타 물질을 이용한 이물질 검출 장치 有权
    用TERAHERTZ METAMATERIALS检测外来材料的装置和方法

    公开(公告)号:KR101433268B1

    公开(公告)日:2014-08-26

    申请号:KR1020130013009

    申请日:2013-02-05

    Abstract: 본 발명의 일 실시예와 관련된 테라헤르츠 메타 물질을 이용한 이물질 검출 장치는 테라헤르츠 주파수 영역에서 반응하는 테라헤르츠 메타 물질과, 테라헤르츠 주파수를 생성하여 상기 테라헤르츠 메타 물질로 조사하는 테라헤르츠파 생성부와, 상기 테라헤르츠 메타 물질을 통과한 테라헤르츠파를 분석하여 공명 주파수를 추출하는 추출부 및 추출된 공명 주파수와 기준 공명 주파수가 다른 경우, 테라헤르츠 메타 물질 내부에 이물질이 존재한다고 판단하는 판단부를 포함한다.

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