근적외선용 디텍터소자 및 그 제조방법
    1.
    发明公开
    근적외선용 디텍터소자 및 그 제조방법 有权
    FNIR光电检测器及其制造方法

    公开(公告)号:KR1020160049760A

    公开(公告)日:2016-05-10

    申请号:KR1020140147376

    申请日:2014-10-28

    Abstract: 본발명은근적외선용디텍터소자및 그제조방법에관한것으로서, 기판; 상기기판상에코어/쉘형태로상호간격을두고다수의나노와이어들을형성하여마련되는나노와이어층; 상기나노와이어층상에형성되는양자점층; 상기코어에접속되는제1전극; 상기양자점층상에형성되는투명한제2전극;을포함하는것을특징으로한다. 이에의해, 저선량및 고감도의근적외선검출이가능한근적외선용디텍터소자및 그제조방법이제공된다. 또한, 피검체의상태및 다양한악조건에서도신뢰성이우수한근적외선검출데이터를획득할수 있는근적외선용디텍터소자및 그제조방법이제공된다. 특히, 본발명에따르면, 뇌의기능적근적외선을검출하는 fNIR 분야에매우적합한근적외선용디텍터소자및 그제조방법이제공된다.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于近红外线的光检测元件及其制造方法,其中用于近红外线的光检测元件包括:基板; 通过在基板上的芯/壳中具有相互距离形成多个纳米线而提供的纳米线层; 形成在纳米线层上的量子点层; 连接到所述芯的第一电极; 和形成在量子点层上的透明第二电极。 因此,公开了一种用于近红外线的光检测元件,其能够以低剂量和高灵敏度检测近红外线及其制造方法。 此外,公开了一种用于近红外线的光电检测元件,其能够在受试者的状态和各种不利条件下获得用于近红外线的高可靠性检测数据及其制造方法。 特别地,本发明提供了一种非常适合于检测大脑功能性近红外线的fNIR场的近红外线用光检测元件及其制造方法。

    근적외선용 디텍터소자 및 그 제조방법
    2.
    发明授权
    근적외선용 디텍터소자 및 그 제조방법 有权
    fNIR光电探测器及其制作方法

    公开(公告)号:KR101658896B1

    公开(公告)日:2016-09-22

    申请号:KR1020140147376

    申请日:2014-10-28

    Abstract: 본발명은근적외선용디텍터소자및 그제조방법에관한것으로서, 기판; 상기기판상에코어/쉘형태로상호간격을두고다수의나노와이어들을형성하여마련되는나노와이어층; 상기나노와이어층상에형성되는양자점층; 상기코어에접속되는제1전극; 상기양자점층상에형성되는투명한제2전극;을포함하는것을특징으로한다. 이에의해, 저선량및 고감도의근적외선검출이가능한근적외선용디텍터소자및 그제조방법이제공된다. 또한, 피검체의상태및 다양한악조건에서도신뢰성이우수한근적외선검출데이터를획득할수 있는근적외선용디텍터소자및 그제조방법이제공된다. 특히, 본발명에따르면, 뇌의기능적근적외선을검출하는 fNIR 분야에매우적합한근적외선용디텍터소자및 그제조방법이제공된다.

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