Abstract:
광 트랜지스터를 이용한 CMOS 이미지 센서용 단위 화소가 개시된다. 본 발명의 실시예에 따른 CMOS 이미지 센서의 단위 화소는 광 트랜지스터, 선택 트랜지스터 및 리셋 트랜지스터를 구비한다. 광 트랜지스터는 외부로부터 인가되는 빛을 감지하여 전하를 생성한다. 선택 트랜지스터는 선택 신호에 응답하여 상기 광 트랜지스터에 저장된 전하를 외부로 출력하거나 외부로부터 전하를 수신하여 상기 광 트랜지스터로 전달한다. 리셋 트랜지스터는 리셋 신호에 응답하여 상기 광 트랜지스터의 베이스를 리셋 전압 레벨로 변화시킨다. CMOS 이미지 센서의 단위 화소는 양의 입력 단자로 소정의 셋 전압이 인가되고 음의 입력 단자로 상기 선택 트랜지스터의 제 1 단이 연결되는 적분기를 더 구비하고, 상기 적분기는 적분기 제어 신호에 응답하여 상기 음의 입력 단자와 출력 단자를 연결하거나 차단하는 스위치를 구비한다. 본 발명에 따른 CMOS 이미지 센서의 단위 화소는 게이트와 바디(body)가 연결되어 베이스로서 동작되는 구조의 광 트랜지스터를 이용하여 약한 빛에서도 큰 광 전류를 얻을 수 있을 뿐만 아니라, 광 트랜지스터를 리셋 한 상태의 값을 읽어낼 수 있으므로 빛에 의해 생성된 전자-홀에 의한 출력을 읽고 리셋 상태의 값과의 차이를 구하는 CDS(correlated double sampling) 동작이 가능한 장점이 있다.
Abstract:
바이오 칩에서 발생되는 형광 빛의 파장을 측정하는 CIS(CMOS Image Sensor)의 측정 방법이 개시된다. 본 발명에 따른 측정 방법은 바이오 칩에서 발생되는 활성 빛의 영향을 제거하고 형광 빛의 세기를 측정하기 위하여, 깊이가 다른 포토 다이오드를 이용한 픽셀(pixel) 구조를 가지는 CIS(CMOS Image Sensor)의 측정 방법에 있어서, (a)CDS(Correlated Double Sampling)를 이용하여 소정의 피(P) 정션 전압과 엔(N) 정션 전압을 구하는 단계, (b)다양한 파장에 대하여 상기 엔 정션 전압의 레벨에서 상기 피 정션 전압의 전압 레벨을 M(실수)배 한 값을 감산한 값을 구하는 단계, (c)상기 (b) 단계에서 구한 값들을 이용하여 파장에 대한 전압 레벨의 파형을 구하는 단계 및 (d)상기 (c) 단계에서 구해진 파형을 이용하여, 활성 빛의 파장에 대응되는 전압 레벨이 0인 파형에서, 형광 빛의 파장에 대응되는 전압 레벨을 구하는 단계를 구비한다. 본 발명에 따른 바이오 칩에서 발생되는 형광 빛의 파장을 측정하는 CIS(CMOS Image Sensor)의 측정 방법은 약한 형광 빛을 쉽게 측정할 수 있는 장점이 있고, 본 방법을 사용하는 측정 칩은 종래의 고가의 측정 장비를 저가의 측정 칩으로 대체할 수 있는 장점이 있다. 나아가, 현재 연구 개발되고 있는 바이오 칩의 결과를 개인이 쉽게 알 수 있으므로 바이오 칩의 보급을 증가시키는 효과도 있다.
Abstract:
PURPOSE: A CMOS image sensor pixel is provided to obtain a large photocurrent from a weak light using a light transistor that a gate and a body are connected each other. CONSTITUTION: A CMOS image sensor pixel(200) includes a light transistor, a select transistor and a reset transistor. The light transistor generates a charge by detecting a light applied from the outside. The select transistor outputs to the outside the charge stored at the light transistor in response to a select signal, or sends the charge input from the outside to the light transistor. A reset transistor transforms a base of the light transistor into a reset voltage level in response to a reset signal.
Abstract:
PURPOSE: A measuring method for a CIS(CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) Image Sensor) which measures the strength of fluorescent light generated in a bio-chip is provided to embody a measurement chip and the bio-chip as one semiconductor chip and measure the fluorescent light generated in the bio-chip in the measurement chip. CONSTITUTION: A P-junction voltage and an N-junction voltage are obtained using CDS(Correlated Double Sampling)(110). A level of the P-junction voltage is multiplied by M times, the multiplied value is subtracted from a level of the P-junction voltage(120). A waveform of a voltage level with respect to wavelength is obtained using the subtracted value(130). A voltage level corresponding to the wavelength of fluorescent light is obtained using the obtained waveform in a waveform in which a voltage level corresponding to the wavelength of activated light is 0(140).