公开(公告)号：KR101602598B1

公开(公告)日：2016-03-11

申请号：KR1020150014777

申请日：2015-01-30

Applicant: 전북대학교산학협력단

Inventor： 김수영 ,  장매향 ,  이국문

IPC: H04L27/38 ,  H04L27/34

CPC classification number: H04L27/38 ,  H04L27/3405

Abstract: APSK 변조시스템에대한연판정비트검출방법이제공된다. 본발명의실시예에따른, 연판정비트검출방법은, M APSK로변조된수신심볼에대해채널이득을보상한평가심볼을검출하여각 비트에대한경판정경계선과의거리를초기연판정비트값으로계산하고, 계산된초기연판정비트값에스케일링인자를곱하여최종연판정값을계산한다. 이에의해, 미리결정된경판정경계값과의단순한거리계산만으로각 비트별연판정값을계산함으로써, 64, 128 및 256 APSK 변조시스템에서매우적은복잡도로연판정값을계산할수 있게된다.

Abstract translation: 提供了一种用于振幅和相移键控（APSK）调制系统的软判决位检测方法。 根据本发明的实施例的软判决比特检测方法检测补偿被调制成多维幅度和相移键控（M APSK）的接收符号的信道增益的评估符号，用硬计算距离 通过初始软判决比特值对每个比特值进行判定边界线，并通过将所计算的初始软判决比特值乘以比例因子来计算最终软判决值。 因此，由于通过具有预定硬判决边界值的简单距离计算来计算每个位的软判决值，所以可以在64,128和256个APSK调制系统中以非常小的复杂度来计算软判决值。