公开(公告)号：KR101147178B1

公开(公告)日：2012-05-25

申请号：KR1020100018010

申请日：2010-02-26

Applicant: 조선대학교산학협력단

Inventor： 이건호 ,  강치중 ,  신상모 ,  김유진

IPC: G01N33/483 ,  G01B5/28 ,  C12N5/09

CPC classification number: G01Q30/04

Abstract: 본 발명은 세포표면 미세구조분석을 이용한 암세포 분석 장치에 관한 것으로, 더욱 구체적으로 시료 세포 표면을 관찰하기 위한 원자력 주사 현미경(AFM); 상기 AFM에서 관찰된 시료 세포 표면의 이미지로부터 세포 경계(cell boundary)를 추출하기 위한 제1연산부; 및, 상기 추출된 세포 경계로부터 프랙탈 차원(fractal dimension; FD)을 계산하기 위한 제2연산부를 포함하는 암세포 분석 장치에 관한 것이다.
본 발명에 따르면, 상기 암세포 분석 장치를 이용하여 세포 경계의 미세구조에 대한 프랙탈 차원(Fractal dimension: FD)을 분석할 수 있으며, 종양세포를 비롯한 질환세포의 표면 미세구조는 정상세포와 다른 고유의 FD값을 갖는다. 특히 전이성 암세포는 비전이성 암세포 보다 낮은 프랙탈 차원을 갖는 경향이 뚜렷하다. 따라서 극미량의 종양세포에 대한 FD정보를 수집하여 종양세포의 진행정도 및 악성, 양성 여부 등 여러 가지 특성을 예측하고 진단하는데 효과적으로 사용될 수 있다. 또한 살아있는 세포의 표면구조에 대해 나노스케일 수준으로 측정할 수 있으므로, 세포 표면의 극미세구조 분석을 위한 세포 연구용 바이오툴 개발에 핵심적으로 활용될 수 있다.

公开(公告)号：KR1020110098406A

公开(公告)日：2011-09-01

申请号：KR1020100018010

申请日：2010-02-26

Applicant: 조선대학교산학협력단

Inventor： 이건호 ,  강치중 ,  신상모 ,  김유진

IPC: G01N33/483 ,  G01B5/28 ,  C12N5/09

CPC classification number: G01Q30/04

Abstract: 본 발명은 세포표면 미세구조분석을 이용한 암세포 분석 장치에 관한 것으로, 더욱 구체적으로 시료 세포 표면을 관찰하기 위한 원자력 주사 현미경(AFM); 상기 AFM에서 관찰된 시료 세포 표면의 이미지로부터 세포 경계(cell boundary)를 추출하기 위한 제1연산부; 및, 상기 추출된 세포 경계로부터 프랙탈 차원(fractal dimension; FD)을 계산하기 위한 제2연산부를 포함하는 암세포 분석 장치에 관한 것이다.
본 발명에 따르면, 상기 암세포 분석 장치를 이용하여 세포 경계의 미세구조에 대한 프랙탈 차원(Fractal dimension: FD)을 분석할 수 있으며, 종양세포를 비롯한 질환세포의 표면 미세구조는 정상세포와 다른 고유의 FD값을 갖는다. 특히 전이성 암세포는 비전이성 암세포 보다 낮은 프랙탈 차원을 갖는 경향이 뚜렷하다. 따라서 극미량의 종양세포에 대한 FD정보를 수집하여 종양세포의 진행정도 및 악성, 양성 여부 등 여러 가지 특성을 예측하고 진단하는데 효과적으로 사용될 수 있다. 또한 살아있는 세포의 표면구조에 대해 나노스케일 수준으로 측정할 수 있으므로, 세포 표면의 극미세구조 분석을 위한 세포 연구용 바이오툴 개발에 핵심적으로 활용될 수 있다.