전하결합소자의 평균값을 이용한 쉐딩 보정방법
    1.
    发明授权
    전하결합소자의 평균값을 이용한 쉐딩 보정방법 失效
    一种使用电荷耦合器件的平均值来补偿阴影的方法

    公开(公告)号:KR100161246B1

    公开(公告)日:1999-03-20

    申请号:KR1019950026991

    申请日:1995-08-28

    Inventor: 김석호

    Abstract: 본 발명은 화이트 레퍼런스 띠의 서로 다른 영역을 3번 스캐닝하여 평균값으로 화이트 쉐딩을 보정하는 방법에 관한 것으로, 소정수로 나뉘어진 레퍼런스 띠의 화이트 영역을 순차적으로 스캐닝하여 보정용 데이타 값을 얻되, 상기 각각의 화이트 영역 데이타 값이 화이트 한계값 이하인가를 판단하는 단계(21:22); 상기 단계후 화이트 한계 값보다 적은 값이 산출되면, 그때의 화이트 영역은 오염되었음을 판단하여 버리고, 다음 화이트 영역으로 계속 증가하여 스캐닝한 각각의 데이타 값이 오염되었는지를 판단하되, 상기 각각의 화이트 영역이 화이트 한계 값보다 적은 값으로 전부 산출되면, 그때의 화이트 영역은 쉐딩보정에 문제가 있음을 인지하는 단계(23 내지 25); 상기 스캐닝한 각 화이트 영역의 데이타값중 화이트 한계 값보다 큰 값이 산출되면, 오염되지 않았음을 인지하고, 계속하여 화이트 영역을 증가시키면서 오염이 안된 화이트 영역의 스캔 데이타값을 전하 결합소자의 화소값에 더하여 저장하는 단계(26, 27); 상기 단계 수행후 오염이 안된 화이트영역과 오염된 화이트영역을 더한 것이 소정수로 나눈 영역수보다 초과했는지를 판단하여 초과하였으면, 저장된 전하결합소자의 화소값을 오염이 안된 영역수로 나누어 평균값을 구하고, 초과하지 않았으면 나머지 화이트 영역을 계속하여 스캐닝하는 단계(28,29); 및 상기 저장된 전하결합소자의 화소값을 오염이 안된 영역수로 나누어 산출한 평균값을 화이트 쉐딩값으로 저장하되, 이 값을 기준으로 쉐딩을 보정하는 단계(30)를 제공한다.

    전하결합소자의 평균값을 이용한 쉐딩 보정방법

    公开(公告)号:KR1019970012043A

    公开(公告)日:1997-03-29

    申请号:KR1019950026991

    申请日:1995-08-28

    Inventor: 김석호

    Abstract: 본 발명은 화이트 레퍼런스 띠의 서로 다른 영역을 3번 스캐닝하여 평균값으로 화이트 쉐딩을 보정하는 방법에 관한 것으로, 소정수로 나뉘어진 레퍼런스 띠의 화이트 영역을 순차적으로 스캐닝하여 보정용 데이터 값을 얻되, 상기 각각의 화이트 영역 데이터 값이 화이트 한계값 이하인가를 판단하는 단계(21, 22); 상기 단계 후 화이트 한계값보다 적은값이 산출되면, 그때의 화이트 영역은 오염도었음을 판단하여 버리고, 다음 화이트 영역으로 계속 증가하여 스캐닝한 각각의 데이터값이 오염되었는지를 판단하되, 상기 각각의 화이트 영역이 화이트 한계값도다 적은 값으로 전부 산출되면, 그때의 화이트 영역은 쉐딩보정에 문제가 있음을 인지하는 단계(23 내지 25); 상기 스캐닝한 각 화이트 영역의 데이터값중 화이트 한계값보다 큰값이 산출되면, 오염되지 않았음을 인지하고, 계속하여 화이트 영역을 증가시키면서 오염이 않된 화이트 영역의 스캔 데이터값을 전하결합소자의 화소값에 더하여 저장하는 단계(26, 27); 상기 단계 수행 후 오염이 않된 화이트영역과 오염된 화이트영역을 더한 것이 소정수로 나눈 영역수보다 초과했는지를 판단하여 초과하였으면, 저장된 전하결합소자의 화소값을 오염이 않된 영역수로 나누어 평균값을 구하고, 초과하지 않았으면 나머지 화이트 영역을 계속하여 스캐닝하는 단계(28, 29); 및 상기 저장된 전하결합소자의 화소값을 오염이 않된 영역수로 나누어 산출한 평균값을 화이트 쉐딩값으로 저장하되, 이 값을 기준으로 쉐딩을 보정하는 단계(30)를 제공한다.

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