公开(公告)号：KR1020130065186A

公开(公告)日：2013-06-19

申请号：KR1020110131934

申请日：2011-12-09

Applicant: 지니포토닉스주

Inventor： 양병관 ,  김성훈

IPC: G01B9/02 ,  G01N21/45

Abstract: PURPOSE: A device for measuring a phase difference and a main axis of a three-dimension film and a measuring method thereof are provided to measure the phase difference and the main axis in a one-dimension domain of the film simultaneously on a real time basis. CONSTITUTION: A device for measuring a phase difference and a main axis of a three-dimension film is as follows. The lights polarized by a polarizing plate(11) are penetrated through a sample of the three-dimension film. The lights penetrated through the sample are penetrated through a wedge-shaped birefractive prism(15) and a test plate(16) which are aligned to be parallel with a main axis of the sample successively so that two orthogonal components of an electric field are joined. The joined orthogonal components are overlapped so that interference patterns are formed. The main axis and the phase difference of the sample are calculated based on the interference patterns.

Abstract translation: 目的：提供用于测量三维膜的相位差和主轴的装置及其测量方法，以实时测量胶片的一维域中的相位差和主轴 。 构成：用于测量三维膜的相位差和主轴的装置如下。 由偏光板（11）偏振的光穿过三维膜的样品。 穿透样品的光穿过楔形双折射棱镜（15）和测试板（16），测试板连续对准以与样品的主轴平行，使得电场的两个正交分量被连接 。 连接的正交分量重叠，形成干涉图案。 基于干涉图案计算样品的主轴和相位差。

公开(公告)号：KR101373709B1

公开(公告)日：2014-04-21

申请号：KR1020110131934

申请日：2011-12-09

Applicant: 지니포토닉스주

Inventor： 양병관 ,  김성훈

IPC: G01B9/02 ,  G01N21/45

Abstract: 2차원 검출기의 한쪽 방향으로는 3차원 필름의 확대 또는 축소한 상을 만들고 다른 방향으로는 각 상점의 켤레점(conjugate point)에서 나온 빛의 두 직교 전기장 성분의 간섭무늬가 생기도록 비균등 광학계(anamorphic optical system)를 구성하여 움직이는 부분 없이 위상차와 주축을 잴 수 있는 장치와 그 데이터 처리 방식에 관한 발명이다.
시료에서 나온 빛은 원형렌즈(spherical lens)와 쐐기형 복굴절 프리즘(birefringence wedge), 검광판과 원통렌즈(cylindrical lens)를 차례로 지난 후 2차원 검출기에 입사한다. 쐐기형 복굴절 프리즘은 두 직교 전기장 성분의 위상차를 위치에 따라 연속적으로 바꾸는 구실을 하고, 검광판은 전기장의 두 직교성분을 결합하여 서로 중첩하여 간섭하게 한다. 원통렌즈는 곡률이 있는 방향만 결상하여 상기의 2차원 신호를 만든다. 데이터 처리과정을 거쳐 3차원 필름의 주축과 위상차의 1차원 분포를 결정한다.