公开(公告)号：KR102200665B1

公开(公告)日：2021-01-12

申请号：KR1020190161422

申请日：2019-12-06

Applicant: 충남대학교산학협력단

Inventor： 유호영 ,  신화수

IPC: G06F11/10 ,  G06F5/08

Abstract: 본발명은 LFSR(Linear feedback shift register)의이전출력값을이용하여추정패리티를예측하고, 예측된추정패리티와현재의 LFSR 출력값에대한실제패리티를비교하여오류를검출함으로써작은하드웨어오버헤드(Overhead)를통해원치않는오류를검출할수 있는면적-효율적인내결함성을갖는선형피드백시프트레지스터와이를이용한오류검출방법에관한것이다. 본발명에따른면적-효율적인내결함성을갖는선형피드백시프트레지스터는 LFSR과, 패리티생성부, 패리티추정부, 패리티저장부, 비교부및 피드백선택부를포함할수 있다. 상기패리티생성부는상기 LFSR의각 시프트레지스터에저장된신호를이용하여순차적으로패리티비트를생성한다. 또한, 상기패리티추정부는 LFSR의출력이전상태에서생성되는패리티비트와, 상기 LFSR의다항식패리티에따라 LFSR로부터출력되는피드백신호또는 0을이용하여추정패리티비트를생성한다. 상기패리티저장부는패리티추정부에서생성되는추정패리티비트를저장한다. 또한, 상기비교부는 LFSR로부터출력되는신호를이용하여생성되는실제패리티비트와, 상기추정패리티비트를비교하여 LFSR의오류를검출한다.