다수의 입사각 반도체 계측 시스템 및 방법
    2.
    发明公开
    다수의 입사각 반도체 계측 시스템 및 방법 审中-实审
    多个角度的半导体计量系统和方法

    公开(公告)号:KR1020160055908A

    公开(公告)日:2016-05-18

    申请号:KR1020167009901

    申请日:2014-09-15

    Abstract: 장치는, (i) 딥(deep) 자외선파장으로부터적외선파장까지의범위를가지고선택가능한다수의파장에서조명빔을제공하기위한밝은광원, (ii) 입사각(AOI) 및/또는방위각(AZ)의선택가능한세트와복수의편광상태에서샘플을향해조명빔을지향시키기위한조명광학장치 - 조명광학장치는, 선택가능한 AOI/AZ 세트의각각에서샘플에대한조명빔의스팟사이즈를제어하기위한아포다이저를포함함 - , (iii) 선택가능한 AOI/AZ 세트와편광상태의각각에서조명빔에응답하여샘플로부터의출력빔을, 출력빔에기초하여출력신호또는이미지를생성하는검출기를향해지향시키기위한수집광학장치, (v) 출력신호또는이미지에기초한샘플의피쳐의특성을묘사하기위한검출기를포함한다.

    Abstract translation: 一种装置包括(i)用于提供在从深紫外波长到红外波长的范围内可选择的多个波长的照明光束的明亮光源,(ii)照明光学器件,用于将照明光束以可选择的角度集合 (AOI)或方位角(AZ)和极化状态以提供光谱椭偏仪,其中照明光学器件包括用于控制每个可选AOI / AZ组上样品上的照明光束的光斑尺寸的变迹器,(iii )收集光学器件,用于响应于在每个可选择的AOI / AZ集合处的照明光束和朝向基于输出光束产生输出信号或图像的检测器的偏振状态来引导来自样品的输出光束,以及(v) 控制器,用于基于输出信号或图像来表征样本的特征。

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