公开(公告)号：KR1020060016781A

公开(公告)日：2006-02-22

申请号：KR1020057021509

申请日：2004-03-04

Applicant: 텔레폰악티에볼라겟엘엠에릭슨(펍)

Inventor： 뵈르예슨퍼올라 ,  페르트네르안토니 ,  옌센액셀프랑크 ,  린드크비스트프레드릭 ,  로젠베르그조나스 ,  위아아담 ,  오들린퍼

IPC: H04B3/46 ,  H04B17/00 ,  H04M3/22

CPC classification number: G01R27/04 ,  H04B3/46 ,  H04M1/24 ,  H04M3/305 ,  H04M3/306

Abstract: The invention refers to single-ended test of a loop (2, 3) with the aid of a transceiver (1), wherein an input impedance (Zin(f)) of the loop is generated. The transceiver (1) has a digital part (41), a codec (42) and an analog part (43) and is connected to the loop. With the aid of a transmitted and a reflected braodband signal (vin, vout) an echo transfer function Hecho(f) = V(f)out/Vin (f) is generated, which also can be expressed as formula (I). Here Zho(f), Zhyb(f) and Hepsilon(f) are model values for the transceiver (1). IN a calibration process a test transceiver, with the same type of hardware as the transceiver (1), is connected to known impedances, replacing the loop (2, 3). Hecho(f) = V( f)out/Vin(f) is generated for the known impedances and th emodel values are generanted and are stored in a memory (11) in the transceiver (1). The stored model values are then used when the input impedance (Zin(f)) for the loop (2, 3) is generated after a measurement of the broadband signal (V in, Vout) is performed.

Abstract translation: 本发明涉及借助于收发器（1）的环路（2,3）的单端测试，其中产生环路的输入阻抗（Zin（f））。 收发器（1）具有数字部分（41），编解码器（42）和模拟部分（43），并且连接到环路。 通过发送和反射的信号带信号（vin，vout）的帮助，生成回波传递函数Hecho（f）= V（f）out / Vin（f），其也可以表示为公式（I）。 这里Zho（f），Zhyb（f）和Hepsilon（f）是收发器（1）的模型值。 在校准过程中，具有与收发器（1）相同类型的硬件的测试收发器连接到已知阻抗，代替环路（2,3）。 对于已知阻抗产生Hecho（f）= V（f）out / Vin（f），并且生成第三模型值并存储在收发器（1）中的存储器（11）中。 然后当在执行宽带信号（V in，Vout）的测量之后产生用于环路（2,3）的输入阻抗（Zin（f））时，存储所存储的模型值。

公开(公告)号：KR101018972B1

公开(公告)日：2011-03-02

申请号：KR1020057021509

申请日：2004-03-04

Applicant: 텔레폰악티에볼라겟엘엠에릭슨(펍)

Inventor： 뵈르예슨퍼올라 ,  페르트네르안토니 ,  옌센액셀프랑크 ,  린드크비스트프레드릭 ,  로젠베르그조나스 ,  위아아담 ,  오들린퍼

IPC: H04B3/46 ,  H04B17/00 ,  H04M3/22

CPC classification number: G01R27/04 ,  H04B3/46 ,  H04M1/24 ,  H04M3/305 ,  H04M3/306

Abstract: 본 발명은 송수신기(1)의 도움으로 루프(2, 3)의 싱글-엔디드 테스트에 관한 것이며, 여기서 루프의 입력 임피던스(Z
in (f))가 발생된다. 송수신기(1)는 디지털부(41), 코덱(42) 및 아날로그부(43)를 가지며, 루프에 접속된다. 송신되고 반사된 광대역 신호(vin, vout)의 도움으로, 에코 전달 함수(H
echo (f)=V
out (f)/V
in (f))가 발생되며, 이것은 또한 식(I)으로서 표현될 수 있다. 여기서, Z
ho (f), Z
hyb (f) 및 H
ε (f)는 송수신기(1)에 대한 모델 값이다. 교정 프로세스에서, 송수신기(1)와 동일한 형태의 하드웨어를 갖는 테스트 송수신기는 루프(2, 3)를 대체하는 공지된 임피던스에 접속된다. Hecho(f)=V
out (f)/V
in (f)는 공지된 임피던스에 대하여 발생되고, 모델 값이 발생되어 송수신기(1) 내의 메모리(11)에 저장된다. 그리고 나서, 저장된 모델 값은 루프(2, 3)에 대한 입력 임피던스(Z
in (f))가 광대역 신호(V
in , V
out )의 측정이 수행된 이후에 발생된다.
싱글 엔디드 테스트, 송수신기, 에코 전달 함수, 루프, 임피던스