저온분광실험장치
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:KR1020180115150A

    公开(公告)日:2018-10-22

    申请号:KR1020170047472

    申请日:2017-04-12

    Abstract: 본발명은저온분광실험장치에관한것으로써, 구체적으로상호밀착된한 쌍의열전소자이중구조를통해용이하게시료의온도를저온상태로유지할수 있는저온분광실험장치에관한것이다. 본발명은시료에전자기파를조사하여상기시료의분광학적특성을측정하는분광실험부가설치된진공챔버; 상기시료가배치된샘플셀; 및상기샘플셀의일측에배치되어상기시료의온도를조절하는열전소자부; 상기열전소자부의온도를조절하는냉매순환부;를포함한다. 또한, 본발명은시료에전자기파를조사하여상기시료의분광학적특성을측정하는분광실험부가설치된진공챔버; 상기시료가배치된샘플셀; 상기샘플셀의양측에배치되어상기시료의온도를조절하는열전소자부; 및상기열전소자부의온도를조절하는냉매순환부;를포함한다.

    저온분광실험장치
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:KR101923505B1

    公开(公告)日:2018-11-29

    申请号:KR1020170047472

    申请日:2017-04-12

    Abstract: 본발명은저온분광실험장치에관한것으로써, 구체적으로상호밀착된한 쌍의열전소자이중구조를통해용이하게시료의온도를저온상태로유지할수 있는저온분광실험장치에관한것이다. 본발명은시료에전자기파를조사하여상기시료의분광학적특성을측정하는분광실험부가설치된진공챔버; 상기시료가배치된샘플셀; 및상기샘플셀의일측에배치되어상기시료의온도를조절하는열전소자부; 상기열전소자부의온도를조절하는냉매순환부;를포함한다. 또한, 본발명은시료에전자기파를조사하여상기시료의분광학적특성을측정하는분광실험부가설치된진공챔버; 상기시료가배치된샘플셀; 상기샘플셀의양측에배치되어상기시료의온도를조절하는열전소자부; 및상기열전소자부의온도를조절하는냉매순환부;를포함한다.

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