Abstract:
본 발명은 이중파장 영사식 모아레 기반 형상측정장치 및 멀티헤드 시스템의 캘리브레이션 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 이중파장 영사식 모아레 기반 형상측정장치는, 영사계 광축과 결상계 광축을 평행하게 설치하고, 다파장 방법중의 하나인 이중파장법을 적용하여, 큰 단차에 구애받지 않고 피측정물체의 형상을 측정할 수 있다. 또한, 물리적으로 고정된 격자 대신 컴퓨터를 사용하여 피치가 다른 두 개의 조절 가능한 가상의 기준 격자를 만들어, 분해능을 조절하면서 다양한 높이의 물체를 측정 할 수 있으며, 격자 구동부가 필요 없기 때문에 측정 시간을 크게 줄일 수 있다. 또한, 백색광을 사용하는 비접촉식 측정 방식이므로, 인체에 해가 없으며 문화재와 같이 손상이 철저히 배제되어야 하는 물체 측정도 가능하다. 또한, 복수의 개별 측정기를 유연하게 연결시켜 레지스트레이션 기반의 캘리브레이션 방법을 적용하여 피측정물의 크기에 제한 없이 멀티헤드시스템의 캘리브레이션 작업을 간단하면서도 정밀하게 수행할 수 있다.
Abstract:
PURPOSE: A dual wavelength projective moire based shape measuring apparatus, and a method for automatical calibration for a multihead system using registration are provided to freely control resolving power by using virtual grids using a computer. CONSTITUTION: A virtual grid forming unit makes virtual grids having predetermined virtual grid gaps. A projecting unit projects the virtual grids to an object(10) to be measured. A video input unit obtains video data of transformed grids on the object according to moire generated by unevenness of a surface of the object. A digital data converter converts the video data into digital data. A video data operating unit receives the digital data of the transformed grids, and forms shape data of the object through operation of the received digital data with data of reference grids which are straight line grids having the same pitch as the virtual grids.