公开(公告)号：KR100279062B1

公开(公告)日：2001-01-15

申请号：KR1019970034886

申请日：1997-07-25

Applicant: 한국과학기술연구원

Inventor： 김봉규 ,  김명욱 ,  전영민 ,  김상국 ,  조재철 ,  최상삼 ,  김상혁

IPC: G02F2/00 ,  G02F2/02

Abstract: 능동형 모드 록킹된 광섬유 고리형 극초단 펄스 레이저 장치 및 이를 이용한 펄스의 폭 및 반복성 조절 방법이 개시된다. 종래의 능동형 모드 록킹된 펄스형 레이저 장치에서 출력되는 펄스의 펄스 폭과 반복성이 광 변조기의 주파수에 관계되기 때문에 레이저 장치에서 출력되는 펄스의 반복성과 펄스 폭은 광 변조기가 작동하는 최대 주파수에 의해서 제한된다는 문제가 있었다. 따라서, 본 발명에서는 종래의 능동형 모드 록킹된 레이저 장치에 두 개의 광 변조기를 사용하여, 상기 두 개의 광 변조기에 0 또는 π이외의 위상차 신호를 인가하여 반복성을 변화시키지 않으면서 레이저 출력의 펄스 폭을 줄일 수 있고, 또 위상차가 π인 신호를 인가하여 반복성은 두배로 되면서 펄스 폭이 줄어든 레이저 펄스를 얻을 수 있도록 하였다. 따라서, 레이저 장치의 출력 외부에서 펄스를 압축하는 종래의 방법에 비하여 방법이 극히 간단하고, 레이저 펄스의 펄스 폭만 또는 반복성과 펄스 폭을 동시에 줄일 수 있는 작용 효과가 있다.

公开(公告)号：KR1019990073862A

公开(公告)日：1999-10-05

申请号：KR1019980007065

申请日：1998-03-04

Applicant: 한국과학기술연구원

Inventor： 김명욱 ,  김봉규 ,  전영민 ,  김상국

IPC: H01S3/00

Abstract: 본 발명에 따른 편광의존형 방향성 고립기는 광이 진행하는 경로 상에 배치되어 입사되는 광의 진행 방향에 따라 상기 입사광의 빛의 편광의 회전 방향을 변경시키기 위한 한 쌍의 제1 광학 수단; 상기 입사광을 소정의 각도로 회전시키기 위한 한 쌍의 제2 광학 수단; 및 상기 한 쌍의 제2 광학 수단 사이에 배치되어 상기 입사광의 성분중 특정 성분의 광만을 통과시키기 위한 제3 광학 수단을 구비함으로써, 양방향으로 독립적으로 발진하는 레이저 출력을 얻을 수 있다.

公开(公告)号：KR1019990011686A

公开(公告)日：1999-02-18

申请号：KR1019970034886

申请日：1997-07-25

Applicant: 한국과학기술연구원

Inventor： 김봉규 ,  김명욱 ,  전영민 ,  김상국 ,  조재철 ,  최상삼 ,  김상혁

IPC: G02F2/00 ,  G02F2/02

Abstract: 능동형 모드 록킹된 광섬유 고리형 극초단 펄스 레이저 장치 및 이를 이용한 펄스의 폭 및 반복성 조절 방법이 개시된다. 종래의 능동형 모드 록킹된 펄스형 레이저 장치에서 출력되는 펄스의 펄스 폭과 반복성이 광 변조기의 주파수에 관계되기 때문에 레이저 장치에서 출력되는 펄스의 반복성과 펄스 폭은 광 변조기가 작동하는 최대 주파수에 의해서 제한된다는 문제가 있었다. 따라서, 본 발명에서는 종래의 능동형 모드 록킹된 레이저 장치에 두개의 광 변조기를 사용하여, 상기 두개의 광 변조기에 0 또는 π이외의 위상차 신호를 인가하여 반복성은 변화시키지 않으면서 레이저 출력의 펄스 폭을 줄일 수 있고, 또 위상차가 π인 신호를 인가하여 반복성은 두배로 되면서 펄스 폭이 줄어든 레이저 펄스를 얻을 수 있도록 하였다. 따라서, 레이저 장치의 출력 외부에서 펄스를 압축하는 종래의 방법에 비하여 방법이 극히 간단하고, 레이저 펄스의 펄스 폭만 또는 반복성과 펄스 폭을 동시에 줄일 수 있는 작용 효과가 있다.

公开(公告)号：KR100122501B1

公开(公告)日：1997-12-05

申请号：KR1019940020542

申请日：1994-08-19

Applicant: 주식회사 엘에스 ,  한국과학기술연구원

Inventor： 김병윤 ,  김봉규 ,  승우성 ,  김만식

IPC: G01R23/00

Abstract: The signal process device using measurement of the number of varied interfering patterns is embodied to design a larger amount of variation of phase for an applied physical quantity, when compared with typical optical sensors, thus to measure the size of the applied physical quantity, regardless of an external influence, by using the measurement of the number of varied interfering patterns. Furthermore, the device can measure the size and waveform of the applied physical quantity, irrespective of the frequency thereof.

Abstract translation: 使用测量变化的干扰图案的数量的信号处理装置被体现为针对所应用的物理量设计更大量的相位变化量，与典型的光学传感器相比较，从而测量施加的物理量的大小，而不管 通过使用多个干扰模式的数量的测量来实现外部影响。 此外，该装置可以测量所施加的物理量的大小和波形，而与其频率无关。

公开(公告)号：KR100275653B1

公开(公告)日：2001-01-15

申请号：KR1019980007065

申请日：1998-03-04

Applicant: 한국과학기술연구원

Inventor： 김명욱 ,  김봉규 ,  전영민 ,  김상국

IPC: H01S3/00

CPC classification number: G02F1/093 ,  H01S3/083 ,  H01S5/1071

Abstract: PURPOSE: A polarized light-dependent directive isolator and a ring type resonator laser using the same are provided to obtain a laser oscillating in two directions wherein polarization directions of light are orthogonal to each other without interference with each other in a gain medium by causing the propagating direction to be determined depending on a polarization status. CONSTITUTION: A pair of first optical units(11,14) are disposed in a path in which a light propagates for changing a rotating direction of a polarized light of an incident light depending on a propagating direction of the incident light. A pair of second optical units(12,15) rotates the incident light by a predetermined angle. A third optical unit(13) is disposed between the pair of the second optical units for passing only a specific component among components of the incident light.

Abstract translation: 目的：提供一种偏振光依赖指示隔离器和使用该偏振光的指向隔离器和使用其的环形谐振器激光器，以获得激光器在两个方向上振荡，其中光的偏振方向彼此正交，而在增益介质中彼此不干扰， 传播方向取决于极化状态。 构成：一对第一光学单元（11,14）设置在光的传播路径上，用于根据入射光的传播方向改变入射光的偏振光的旋转方向。 一对第二光学单元（12,15）使入射光旋转预定角度。 第三光学单元（13）设置在所述一对第二光学单元之间，用于仅使入射光的分量中的特定分量通过。

公开(公告)号：KR1019960008325A

公开(公告)日：1996-03-22

申请号：KR1019940020542

申请日：1994-08-19

Applicant: 주식회사 엘에스 ,  한국과학기술연구원

Inventor： 김병윤 ,  김봉규 ,  승우성 ,  김만식

IPC: G01R23/00

Abstract: 본 발명은 보통의 광학센서들과 달리 인가물리량에 대해 위상의 변화량을 크게 설계하여 일정시간동안 간섭무늬의 변화갯수를 세는 방법을 이용하여, 온도, 변화, 진동, 전자기파 등의 외부 영향에 대해 거의 관계없이 인가물리량의 크기를 측정하는 것이다. 또한, 간섭무늬의 변화갯수를 측정함으로서 인가물리량의 주파수에 상관없이 인가 물리량의 크기와 파형을 측정할 수 있게 한 것이다.