公开(公告)号：KR100868029B1

公开(公告)日：2008-11-11

申请号：KR1020070068968

申请日：2007-07-10

Applicant: 한국과학기술연구원

Inventor： 강성철 ,  최혁렬

IPC: G01N33/36 ,  G01N27/00

CPC classification number: G01B5/28 ,  G01B7/34

Abstract: A device for measuring texture is provided to measure minutely a surface roughness by measuring a stillness surface force and a dynamic surface force of objects and to make users easily use the device for measuring texture. A device for measuring texture contains a probe(20) contacted to objects, a first sensor part(50) reading a strength of a vertical direction acting on the probe, a second sensor part reading a strength of a longitudinal direction acting on the probe, a third sensor unit(60) sensing an amount of change of the power acting on the probe and a circuit part(70) controlling a signal generated in the first sensor part, the second sensor part and the third sensor unit. The first sensor part is a strain gage.

Abstract translation: 提供用于测量纹理的装置，通过测量物体的静止表面力和动态表面力来微小地测量表面粗糙度，并且使得用户容易地使用用于测量纹理的装置。 用于测量纹理的装置包括与物体接触的探针（20），读取作用在探针上的垂直方向的强度的第一传感器部分（50），读取作用在探针上的纵向强度的第二传感器部分， 感测作用在探针上的功率变化量的第三传感器单元（60）和控制在第一传感器部分，第二传感器部分和第三传感器单元中产生的信号的电路部分（70）。 第一传感器部件是应变计。