Abstract:
본 발명은 연 X-선 현미경의 존 플레이트 및 시편 정렬 광학시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 시편과 존 플레이트 사이의 초점거리를 조정하기 위해 진공챔버의 외부에 구동기가 장착된 시준렌즈를 설치하여 시편 또는 존 플레이트의 위치를 검출하도록 한 연 X-선 현미경의 존 플레이트 및 시편 정렬 광학시스템에 관한 것이다. 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 연 X-선 현미경의 존 플레이트 및 시편 정렬 광학시스템은 투과창을 구비한 진공챔버의 내부에, 연 X-선 광원으로부터 입사한 연 X-선을 시편으로 집광하는 집광기구; 상기 시편에서 방출된 상기 연 X-선을 연 X-선 검출기로 집광하는 존 플레이트; 상기 시편 및 존 플레이트로부터 같은 방향에서 고정설치되고 가시광선을 상기 시편 또는 상기 존 플레이트로 집광하는 중앙이 관통된 대물렌즈; 및 상기 대물렌즈로부터 상기 같은 방향에 배치되어 상기 가시광선을 반사하는 중앙이 관통된 반사용 거울;이 설치되고, 상기 진공챔버의 외부에, 가시광선 광원으로부터 방출된 가시광선의 진행경로상에 설치되며 상기 가시광선을 전달하는 시준렌즈; 상기 가시광선 진행경로상에서 상기 시준렌즈를 지나서 설치되며 양측면에서 상기 가시광선의 일부를 투과시키고 나머지를 반사하는 광분리기; 상기 광분리기의 일측에 상을 맺기 위해 설치되고 이동을 위한 구동기가 장착된 결상렌즈; 및 상기 결상렌즈로부터 입사하는 가시광선을 검출하는 가시광선 검출기;가 설치되는 것을 특징으로 한다.
Abstract:
본 발명은 전자후방산란회절(electron backscatter diffraction, EBSD) 기법을 활용한 금속재료의 풀림 열처리 시 미세조직의 재결정율 정량화에 관한 것이다. 본 발명에 따른 재결정율 측정 방법은 (a) 재결정 여부의 판단 기준인 결정립내방위퍼짐(intragranular orientation spread)의 임계값을 구하는 단계와, (b)전자후방산란회절(electron backscatter diffraction, EBSD) 맵에서 결정립으로 인식되는 최소유효결정립 크기(effective minimun diameter, EMD)를 구하는 단계와, (c) 상기 전자후방산란회절 맵에서 최소유효결정립 크기 이상인 결정립들의 결정립내방위퍼짐 값을 구하는 단계와, (d) 측정된 결정립들의 결정립내방위퍼짐 값과 결정립내방위퍼짐의 임계값을 비교하여 결정립들의 재결정화 여부를 판단하여, 재결정화율을 측정하는 단계를 포함한다. 본 발명에 따른 재결정율 측정 방법은, 체계적인 접근을 통해서 재결정율을 측정하므로, 항상 신뢰할 수 있는 일정한 측정결과를 얻을 수 있다는 장점이 있다.
Abstract:
본 발명은 마이크로스코프의 정밀 스캐닝 또는 파이버 정렬 등에 관련된 2축 운동을 위한 판스프링 가이드를 이용한 이중서보 XY 스테이지에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 케이스의 내측으로 보조운동부와 판스프링을 대칭으로 배치하여 열적 특성과 안정적 운동을 보장하고 X 스테이지와 Y 스테이지를 같은 평면상에 구성하여 X , Y 방향외에 다른 방향의 기생운동을 방지하도록 하는 판스프링 가이드를 이용한 이중서보 XY 스테이지에 관한 것이다. 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 판스프링 가이드를 이용한 이중서보 XY 스테이지는 케이스의 내측에 대향하여 설치되는 X축 보조운동부들과; X축 방향에 수직하도록 상기 X축 보조운동부에 대향하여 설치되는 복수의 제1판스프링들과; 상기 X축 방향으로 인접한 내측의 상기 제1판스프링들 사이에 설치되며 내측공간을 갖는 X축 주운동부와; 및 상기 X축 주운동부의 일측에 인접하고 상기 케이스에 일측이 고정되는 상기 제1판스프링에 설치되며 상기 X축 주운동부의 일측에 접촉하는 X축 구동기를 포함하는 X 스테이지; 및 상기 X 스테이지의 X축 주운동부의 내측공간에서 대향하여 설치되는 Y축 보조운동부들과; Y축 방향에 수직하도록 상기 Y축 보조운동부에 대향하여 설치되는 복수의 제2판스프링들과; 상기 Y축 방향으로 인접한 내측의 제2판스프링들 사이에 설치되는 Y축 주운동부와; 및 상기 Y축 주운동부의 일측에 인접하고 상기 X축 주운동부에 일측이 고정되는 상기 제2스프링에 설치되며 상기 Y축 주운동부의 일측에 접촉하는 Y축 구동기를 포함하는 Y 스테이지로 구성된다.
Abstract:
본 발명은 연 X-선 현미경의 존 플레이트 및 시편 정렬 광학시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 시편과 존 플레이트 사이의 초점거리를 조정하기 위해 진공챔버의 외부에 구동기가 장착된 시준렌즈를 설치하여 시편 또는 존 플레이트의 위치를 검출하도록 한 연 X-선 현미경의 존 플레이트 및 시편 정렬 광학시스템에 관한 것이다. 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 연 X-선 현미경의 존 플레이트 및 시편 정렬 광학시스템은 투과창을 구비한 진공챔버의 내부에, 연 X-선 광원으로부터 입사한 연 X-선을 시편으로 집광하는 집광기구; 상기 시편에서 방출된 상기 연 X-선을 연 X-선 검출기로 집광하는 존 플레이트; 상기 시편 및 존 플레이트로부터 같은 방향에서 고정설치되고 가시광선을 상기 시편 또는 상기 존 플레이트로 집광하는 중앙이 관통된 대물렌즈; 및 상기 대물렌즈로부터 상기 같은 방향에 배치되어 상기 가시광선을 반사하는 중앙이 관통된 반사용 거울;이 설치되고, 상기 진공챔버의 외부에, 가시광선 광원으로부터 방출된 가시광선의 진행경로상에 설치되며 상기 가시광선을 전달하는 시준렌즈; 상기 가시광선 진행경로상에서 상기 시준렌즈를 지나서 설치되며 양측면에서 상기 가시광선의 일부를 투과시키고 나머지를 반사하는 광분리기; 상기 광분리기의 일측에 상을 맺기 위해 설치되고 이동을 위한 구동기가 장착된 결상렌즈; 및 상기 결상렌즈로부터 입사하는 가시광선을 검출하는 가시광선 검출기;가 설치되는 것을 특징으로 한다.
Abstract:
본 발명은 마이크로스코프의 정밀 스캐닝 또는 파이버 정렬 등에 관련된 2축 운동을 위한 판스프링 가이드를 이용한 이중서보 XY 스테이지에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 케이스의 내측으로 보조운동부와 판스프링을 대칭으로 배치하여 열적 특성과 안정적 운동을 보장하고 X 스테이지와 Y 스테이지를 같은 평면상에 구성하여 X , Y 방향외에 다른 방향의 기생운동을 방지하도록 하는 판스프링 가이드를 이용한 이중서보 XY 스테이지에 관한 것이다. 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 판스프링 가이드를 이용한 이중서보 XY 스테이지는 케이스의 내측에 대향하여 설치되는 X축 보조운동부들과; X축 방향에 수직하도록 상기 X축 보조운동부에 대향하여 설치되는 복수의 제1판스프링들과; 상기 X축 방향으로 인접한 내측의 상기 제1판스프링들 사이에 설치되며 내측공간을 갖는 X축 주운동부와; 및 상기 X축 주운동부의 일측에 인접하고 상기 케이스에 일측이 고정되는 상기 제1판스프링에 설치되며 상기 X축 주운동부의 일측에 접촉하는 X축 구동기를 포함하는 X 스테이지; 및 상기 X 스테이지의 X축 주운동부의 내측공간에서 대향하여 설치되는 Y축 보조운동부들과; Y축 방향에 수직하도록 상기 Y축 보조운동부에 대향하여 설치되는 복수의 제2판스프링들과; 상기 Y축 방향으로 인접한 내측의 제2판스프링들 사이에 설치되는 Y축 주운동부와; 및 상기 Y축 주운동부의 일측에 인접하고 상기 X축 주운동부에 일측이 고정되는 상기 제2스프링에 설치되며 상기 Y축 주운동부의 일측에 접촉하는 Y축 구동기를 포함하는 Y 스테이지로 구성된다.
Abstract:
PURPOSE: A detecting method of a shear friction factor is provided to conveniently measure a shear friction factor occurring in the volume formation applicable to wide range friction condition and to reproduce the friction condition of a complex process. CONSTITUTION: An extrusion material(30) is placed on the upper face of a lower die. The material has a columnar shape, and the diameter of the material is the average of the diameter of a punch(21) and the inner diameter of an outer die(11). The center of the extrusion material is aligned with the centers of the punch and the outer die. If an extruding load is applied to the material by lifting down of the punch, the material is sequentially deformed. Then a typical formed product is produced by the shapes of the outer die and the punch. A sharp peak(33) of the formed product has a triangular sectional shape, and the upper apex of the triangle is spaced apart from the inner face of the outer die by a specific vertical distance(d). The vertical distance(d) is a factor determining friction condition.
Abstract:
본 발명은 부피 성형 가공시 전단 마찰 인자의 산출을 위하여 후방 압출 방식으로 압출 부재에 팁을 형성하는 팁 시험 장치, 이를 이용한 전단 마찰 인자의 측정 방법 및 윤활제 특성 평가 방법을 개시한다. 본 발명의 팁 시험장치는 압출 부재가 삽입되는 금형 구멍이 형성되는 금형; 금형 구멍과 동중심으로 삽입되며 압출 부재를 가압하는 펀치; 펀치와 대면되도록 금형 구멍에 삽입되어 압출 부재를 지지하는 보조 금형; 금형 구멍에 삽입되는 원기둥 형상으로서 압출 부재가 끼워진 상태로 금형 구멍에 삽입되어 압출 부재를 금형 구멍과 동중심에 정렬하며, 압출 부재를 눌러 압출 부재에 예압을 주는 예압 수단을 유입할 수 있는 센터링 수단 구멍을 갖는 센터링 수단; 을 포함한다.
Abstract:
A tip testing method is provided to measure more accurate friction factor by employing a tip testing device using backward extrusion instead of a ring compression testing device. A tip testing method comprises a step of inserting a work piece(220) in a centering unit(250), a step of inserting an auxiliary die(230) in a die opening(245), a step of inserting the centering unit with the work piece into the die opening, a step of inserting a punch into a centering unit hole(255) so that the punch presses the work piece against the auxiliary die, a step of pre-pressing the work piece by discharging air through a die outlet port, a step of separating the centering unit from the work piece, a step of extruding the work piece by pressing it with the punch, a step of separating the work piece from the die, and a step of calculating a shear friction factor by measuring the tip distance of the work piece.
Abstract:
A tip testing device is provided to use a centering unit in measuring shear friction factor using backward extrusion so that a tip is formed symmetrically, thereby improving the measurement accuracy. A tip testing device comprises a die(240) with an opening(245) and an exit(246) connected to the inlet, a punch(210) pressing a work piece(220), an auxiliary die(230) which is inserted into the opening to face the punch and supports the work piece, and a centering unit(250) with a hole(255) in which the punch and the work piece are inserted. The centering unit aligns the work piece to be concentric with the die opening. The work piece is pressed against the auxiliary die by the punch before extrusion.