公开(公告)号：KR101785204B1

公开(公告)日：2017-10-17

申请号：KR1020160056939

申请日：2016-05-10

Applicant: 한국과학기술원

Inventor： 김준모 ,  이가영 ,  유윙타이

IPC: G06T7/40 ,  G06T7/00

Abstract: 일실시예에따르면, 핵심영역검출방법은이미지에포함되는복수의슈퍼픽셀(superpixel)들사이의로우레벨피처(low level feature)의차이를나타내는로우레벨차이맵(low level distance map)을생성하는단계; 상기이미지에대해하이레벨피처(high level feature) 탐색알고리즘을수행하는단계; 상기로우레벨차이맵 및상기하이레벨피처탐색알고리즘이수행된결과에기초하여, 상기복수의슈퍼픽셀들각각의핵심스코어(saliency score)를획득하는단계; 및상기복수의슈퍼픽셀들각각의핵심스코어에기초하여, 상기이미지에서핵심영역을검출하는단계를포함한다.

Abstract translation: 根据一个实施例，关键区域检测方法生成表示图像中包括的多个超级像素之间的低级特征的差异的低级别距离图 步骤; 在图像上执行高级特征搜索算法; 基于执行低级别差异图和高级特征搜索算法的结果获得多个超级像素中的每一个的显着性分数; 并且基于多个超级像素中的每一个的核心分数检测图像中的关键区域。