다중 특허지표를 이용한 기술 수명 주기 분석 장치
    1.
    发明授权
    다중 특허지표를 이용한 기술 수명 주기 분석 장치 有权
    使用多种专利指标的技术生命分析设备

    公开(公告)号:KR101629178B1

    公开(公告)日:2016-06-21

    申请号:KR1020150183080

    申请日:2015-12-21

    Abstract: 본발명은대상기술이포함된분야의특허를수집하는데이터수집모듈, 수집한특허를구조화하는데이터전처리모듈, 특허에서기술수명주기분석을위한시계열특허지수를정의하고추출하는특허지수추출모듈, 대상기술이현재속해있는기술수명주기의진행단계를측정하는분석모듈을포함하는다중특허지표를이용한기술수명주기분석장치에관한것이다.

    Abstract translation: 本发明的目的是提供一种使用多个专利指标的技术生命周期分析装置,其收集和预处理专利数据库中的数据,提取时间序列专利指标,并分析技术进步阶段。 使用多个专利指标的技术生命周期分析装置包括:收集包括目标技术的领域专利的数据收集模块; 数据预处理模块,用于结构化收集的专利; 专利指标提取模块,其定义和提取用于分析专利技术生命周期的时间序列专利指标; 以及目标技术所属技术生命周期进度阶段的分析模块。

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