Abstract:
본 발명은 자유지지형 나노박막의 기계적 특성 측정 장치 및 방법에 관한 것으로서, 구체적으로는 자유지지형 나노박막을 부상액 위에 띄워 자유지지 박막의 형태를 유지한 후 별도로 제작된 지그를 사용하여 100nm 두께이하의 시편에 대한 자유지지형 나노박막의 인장 특성을 측정하는 장치 및 방법을 제공한다.
Abstract:
The present invention provides a device and a method for measuring mechanical properties of a free-standing nanofilm and, specifically, to a device and a method for measuring the tensile properties of a free-standing nanofilm for specimens with a thickness of 100 nm or less using a separately manufactured jig after floating the free-standing nanofilm on a floating liquid and maintaining the shape of the free-standing thin film.