公开(公告)号：KR100708254B1

公开(公告)日：2007-04-17

申请号：KR1020060013323

申请日：2006-02-11

Applicant: 한국기계연구원

Inventor： 이학주 ,  김정엽 ,  이도영 ,  송지호

IPC: H02K33/02

Abstract: 본 발명은 베이스 플레이트 상에 코일이 권취된 보빈을 구동 가능하게 지지하는 액추에이터의 보빈지지구조에 관한 것으로서, 보빈을 지지하는 지지 스프링의 구조를 개선하여 설계 및 제작 공정을 단순화할 수 있어 제작비용을 절감할 수 있고, 축방향 이동의 선형성을 더욱 높여 정밀한 시험이 가능하도록 한 액추에이터의 보빈지지구조를 제공하는 것을 목적으로 한다. 상기한 목적을 달성하기 위해 본 발명에 따른 액추에이터의 보빈지지구조는 베이스 플레이트 상에 코일이 권취된 보빈을 구동 가능하게 지지하는 액추에이터의 보빈지지구조에 있어서, 상기 보빈을 탄성적으로 지지하는 보부재와, 상기 보부재의 양단에 형성되며 상기 베이스 플레이트와 상기 보부재 사이에서 상기 보부재를 뜬 상태로 유지시키는 지지부재로 이루어진 지지 스프링을 포함하며, 상기 보빈을 지지하기 위해 상기 지지 스프링의 지지부재가 상기 베이스 플레이트에 설치된다.
액추에이터, 자성체, 보빈, 스프링, 댐퍼, 굽힘 모멘트, 보부재, 지지부재, 지주부

Abstract translation: 本发明是一个，所以制造成本可以改善支撑线轴简化了设计和制造工艺涉及支持的致动器的线圈架的支撑结构，以便能够驱动线圈绕着线轴卷绕在基板上的支撑弹簧的结构 并且本发明的目的是提供一种致动器的线轴支撑结构，其能够通过进一步增加轴向移动的线性来执行精确测试。 根据本发明来实现上述目的，致动器的线圈架支撑结构被根据所支持的致动器的线圈架的支撑结构，以便能够驱动线圈架线圈缠绕在一个底板，一个梁构件用于支撑所述线轴以弹性 并且，在该梁部件的两端形成有支撑部件，该支撑部件由支撑部件构成，所述支撑部件将所述梁部件以悬浮状态保持在所述基座板与所述梁部件之间， 安装在底板上。

公开(公告)号：KR100776391B1

公开(公告)日：2007-11-16

申请号：KR1020060013253

申请日：2006-02-10

Applicant: 한국기계연구원

Inventor： 이학주 ,  김정엽 ,  송지호

IPC: G01B7/16

Abstract: 본 발명은, 정전용량형 변위 게이지 및 이를 이용한 시편의 변형 측정방법에 관한 것으로서, 시편, 특히, MEMS(Micro Electro-Mechanical Systems) 기기 분야에 이용되는 수 마이크로미터 두께의 시편의 변형을 측정함에 있어서, 높은 측정 속도를 가지며, 또한, 그 측정의 선형성이 향상된 정전용량형 변형 게이지를 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.
이를 위해, 본 발명은, 인가되는 하중에 의한 시편의 변형을 측정하는 정전용량형 변위 게이지를 제공한다. 본 발명에 따른 정전용량형 변위 게이지는, 프레임과; 시편을 지지하도록 상기 프레임에 설치되는 제 1 및 제 2 그립과; 제 1 전극 및 상기 제 1 전극에 대향하는 제 2 및 제 3 전극을 구비하며, 상기 제 1 전극에 대한 상기 제 2 및 제 3 전극의 대향면적 및 이에 따른 정전용량이 상기 시편의 변형에 따라 상대적으로 증감되는 전극유닛을 포함한다.
정전용량, 변형, 대향면적, 전극, 접지, 가동, 고정, 그립,

公开(公告)号：KR101353542B1

公开(公告)日：2014-01-27

申请号：KR1020120053716

申请日：2012-05-21

Applicant: 한국기계연구원

Inventor： 이학주 ,  김경식 ,  송지호 ,  김정엽

IPC: G01N3/04

Abstract: 본 발명의 일 측면에 따른 시험편 축 정렬 장치는 홀더를 지지하는 제1 지지부재와, 상기 제1 지지부재와 이격되어 마주하도록 배치된 제2 지지부재와, 상기 제2 지지부재를 상기 제1 지지부재에 대하여 고정하며, 상기 제1 지지부재에 대한 상기 제2 지지부재의 경사를 조절하는 복수 개의 조절부재와, 상기 제1 지지부재와 상기 제2 지지부재에 삽입된 홀더와, 상기 홀더에 대하여 고정되며 시편의 일측 단부를 고정하는 제1 그리퍼, 및 상기 제1 그리퍼에서 이격 배치되며 시편의 타측 단부를 고정하는 제2 그리퍼를 포함한다.

公开(公告)号：KR1020130129671A

公开(公告)日：2013-11-29

申请号：KR1020120053716

申请日：2012-05-21

Applicant: 한국기계연구원

Inventor： 이학주 ,  김경식 ,  송지호 ,  김정엽

IPC: G01N3/04

CPC classification number: G01N3/02 ,  B25B11/00 ,  G01N2203/0405

Abstract: The present invention relates to a shaft aligning device for a specimen including a first supporting member supporting a holder; a second supporting member which is separately arranged to face the first supporting member; a plurality of adjusting members which fixes the first second supporting member to face the first supporting member and adjusts an inclination of the second supporting member in respect to the first supporting member; the holder inserted into the first and second supporting members; a first gripper which is fixed to the holder and fixes one end portion of the specimen; and a second gripper which is separately arranged from the first gripper and fixes the other end portion of the specimen.

Abstract translation: 本发明涉及一种用于试样的轴对准装置，其包括支撑保持器的第一支撑构件; 第二支撑构件，其分开地布置成面对第一支撑构件; 多个调节构件，其将所述第一第二支撑构件固定成面对所述第一支撑构件，并且调节所述第二支撑构件相对于所述第一支撑构件的倾斜度; 所述保持器插入到所述第一和第二支撑构件中; 第一夹持器，其固定到保持器并固定样本的一个端部; 以及第二夹持器，其与第一夹持器分开布置并固定样本的另一端部。

公开(公告)号：KR1020070081357A

公开(公告)日：2007-08-16

申请号：KR1020060013253

申请日：2006-02-10

Applicant: 한국기계연구원

Inventor： 이학주 ,  김정엽 ,  송지호

IPC: G01B7/16

Abstract: A capacitance type displacement gauge and a method for measuring the deformation of a specimen using the same are provided to give an effect of measuring the deformation of the specimen with the linearity of improved measurement in real time. A capacitance type displacement gauge(1) includes a frame(10), first and second grips(20,30) to support both ends of the specimen, and an electrode unit(60) to generate a capacitance change corresponding to the deformation of the specimen. The frame is consisted of a bottom frame unit(12), a middle frame unit(14), and a top frame unit(16). The electrode unit and the first grip are positioned at the bottom frame unit. The middle frame unit performs an installation and separation of the specimen. The second grip is fixed to the top frame unit. A first electrode(62) is positioned at an inside cavity by integrated with the first grip and the second grip moved up and down by an actuator(40). The electrode unit further includes a second electrode(64) and a third electrode(66). The second electrode and the third electrode are faced to the first electrode with a predetermined distance at an inner surface of the bottom frame unit.

Abstract translation: 提供电容型位移计和用于测量使用其的试样的变形的方法，以实现以实时改进的测量的线性度测量样品的变形的效果。 电容型位移计（1）包括框架（10），支撑样本的两端的第一和第二手柄（20,30）以及电极单元（60），以产生对应于 标本。 框架由底部框架单元（12），中间框架单元（14）和顶部框架单元（16）构成。 电极单元和第一把手位于底部框架单元。 中间框架单元执行样品的安装和分离。 第二把手固定在顶部机架上。 第一电极（62）通过与第一手柄一体地定位在内腔中，并且第二手柄通过致动器（40）上下移动。 电极单元还包括第二电极（64）和第三电极（66）。 第二电极和第三电极在底部框架单元的内表面处面对具有预定距离的第一电极。