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公开(公告)号：WO2015199472A1
公开(公告)日：2015-12-30
申请号：PCT/KR2015/006512
申请日：2015-06-25
Applicant: 한국기계전기전자시험연구원 , 국민대학교산학협력단
CPC classification number: G06K19/07363
Abstract: 본 발명은 연산 증폭기(OP-AMP)를 이용하여 전력 분석 회로를 구성함으로써 스마트 카드에 인가되는 전압을 감소시키지 않으면서도 전력 분석을 위한 전압 스펙트럼을 크게 할 수 있는 스마트 카드의 접촉식 부채널 검사장치 및 방법을 제공하는데 그 주된 목적이 있다. 상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 스마트 카드의 접촉식 부채널 검사장치는, 스마트 카드가 암호 알고리즘을 수행하는 동안에 상기 스마트 카드의 접지 단자(GND)와 연결된 연산 증폭기(OP-AMP)를 이용하여 전력 분석을 위한 전압레벨을 조절하는 접촉식 검사부; 상기 접촉식 검사부로부터 상기 스마트 카드가 암호 알고리즘을 수행할 때 발생하는 전압 변화 신호를 입력받아 파형을 분석하는 신호 분석부; 및 상기 접촉식 검사부, 상기 신호 분석부의 동작을 제어하는 제어부;를 포함한다.
Abstract translation: 本发明的主要目的是提供一种用于检查智能卡的侧面通道的接触式装置和方法，其能够在不降低施加到智能卡的电压的情况下实现功率分析的大的电压谱，通过配置功率分析 电路采用运算放大器（OP-AMP）。 为了实现该目的，根据本发明的用于检查智能卡的侧通道的接触式装置包括：接触检查单元，用于控制电压电平以使用连接到地面的OP-AMP来分析功率 终端（GND），智能卡执行加密算法; 信号分析单元，用于从所述接触检查单元接收当所述智能卡执行所述加密算法时产生的电压变化的输入; 以及控制单元，用于控制接触检查单元和信号分析单元的操作。
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公开(公告)号：WO2015199471A1
公开(公告)日：2015-12-30
申请号：PCT/KR2015/006511
申请日：2015-06-25
Applicant: 한국기계전기전자시험연구원 , 국민대학교산학협력단
CPC classification number: G06K19/07363 , G01R31/2822 , G06K7/0004 , G06K19/07769
Abstract: 접촉단자와 비접촉 RF회로를 모두 이용하여 콤비형 스마트카드의 전자기 방출에 따른 누설 전력을 분석하며, 회로의 노이즈에 둔감하면서도 스마트카드의 오작동을 방지할 수 있도록 하는 콤비형 스마트카드의 부채널 검사 장치 및 방법이 개시된다. 일측면에 따른 콤비형 스마트카드의 부채널 검사 장치는, 콤비형 스마트카드의 RF회로와 유도결합하여 콤비형 스마트카드에 전력을 공급하고, 콤비형 스마트카드와 통신하는 비접촉식 검사부; 콤비형 스마트카드의 접촉단자들 중 일부에 연결되어, 유도결합에 따라 발생하는 콤비형 스마트카드의 전자기 누설 신호를 측정하는 접촉식 검사부; 접촉식 검사부로부터 전자기 누설 신호를 입력받아 파형을 분석하는 신호분석부; 및 비접촉식 검사부, 접촉식 검사부 및 신호분석부의 동작을 제어하는 제어부;를 포함하여 이루어진다
Abstract translation: 公开了一种用于检查组合智能卡的侧信道的装置和方法，其能够通过使用接触终端和非接触式RF电路来分析由于将组合的智能卡暴露给电子设备而泄露的功率，以及防止智能卡的故障，同时减少 对电路噪声敏感。 根据一个实施例，用于检查组合智能卡的侧面通道的装置包括：非接触检查单元，用于通过与组合的智能卡的RF电路的感应耦合向组合的智能卡提供电力，并用于与组合的智能卡通信; 接触检查单元，其连接到组合的智能卡的接触端子的一部分，用于测量由于感应耦合而产生的组合智能卡的电磁装置泄漏信号; 信号分析单元，用于接收来自接触检查单元的电磁装置泄漏信号的输入并分析波形; 以及用于控制非接触检查单元，接触检查单元和信号分析单元的操作的控制单元。
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公开(公告)号：KR101528251B1
公开(公告)日：2015-06-11
申请号：KR1020140078276
申请日：2014-06-25
Applicant: 재단법인 한국기계전기전자시험연구원 , 국민대학교산학협력단
CPC classification number: G06K19/07363 , G01R31/2822 , G06K7/0004 , G06K19/07769
Abstract: 접촉단자와비접촉 RF회로를모두이용하여콤비형스마트카드의전자기방출에따른누설전력을분석하며, 회로의노이즈에둔감하면서도스마트카드의오작동을방지할수 있도록하는콤비형스마트카드의부채널검사장치및 방법이개시된다. 일측면에따른콤비형스마트카드의부채널검사장치는, 콤비형스마트카드의 RF회로와유도결합하여콤비형스마트카드에전력을공급하고, 콤비형스마트카드와통신하는비접촉식검사부; 콤비형스마트카드의접촉단자들중 일부에연결되어, 유도결합에따라발생하는콤비형스마트카드의전자기누설신호를측정하는접촉식검사부; 접촉식검사부로부터전자기누설신호를입력받아파형을분석하는신호분석부; 및비접촉식검사부, 접촉식검사부및 신호분석부의동작을제어하는제어부;를포함하여이루어진다
Abstract translation: 公开了一种组合型智能卡的子通道测试装置，其通过使用接触端子和非接触RF电路来分析由于组合型智能卡的电磁放电引起的泄漏功率，并且能够防止智能卡的故障 同时对电路的噪声不敏感，及其方法。 根据一个方面的组合型智能卡的子通道测试装置包括： 非接触型测试单元，其通过感应耦合到组合型智能卡的RF电路并与组合型智能卡通信来向组合型智能卡供电; 接触型测试单元，其连接到所述组合型智能卡的接触端子的一部分，并且测量由所述电感耦合产生的所述组合型智能卡的电磁泄漏信号; 信号分析单元，用于通过接收来自接触型测试单元的电磁泄漏信号来分析波形; 以及用于控制非接触型测试单元，接触型测试单元和信号分析单元的操作的控制单元。
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公开(公告)号：KR101528253B1
公开(公告)日：2015-06-11
申请号：KR1020140078284
申请日：2014-06-25
Applicant: 재단법인 한국기계전기전자시험연구원 , 국민대학교산학협력단
CPC classification number: G06K19/07363
Abstract: 본발명은연산증폭기(OP-AMP)를이용하여전력분석회로를구성함으로써스마트카드에인가되는전압을감소시키지않으면서도전력분석을위한전압스펙트럼을크게할 수있는스마트카드의접촉식부채널검사장치및 방법을제공하는데그 주된목적이있다. 상기한목적을달성하기위한본 발명에따른스마트카드의접촉식부채널검사장치는, 스마트카드가암호알고리즘을수행하는동안에상기스마트카드의접지단자(GND)와연결된연산증폭기(OP-AMP)를이용하여전력분석을위한전압레벨을조절하는접촉식검사부; 상기접촉식검사부로부터상기스마트카드가암호알고리즘을수행할때 발생하는전압변화신호를입력받아파형을분석하는신호분석부; 및상기접촉식검사부, 상기신호분석부의동작을제어하는제어부;를포함한다.
Abstract translation: 本发明的目的是提供一种智能卡的接触型子通道测试装置，其能够在不降低施加到智能卡的电压的情况下放大用于功率分析的电压谱，通过使用功率分析电路 运算放大器（OP-AMP）及其方法。 根据本发明的智能卡的接触型子通道测试装置实现目的包括： 接触型测试单元，其在智能卡执行加密算法时，通过使用连接到智能卡的接地端子（GND）的OP-AMP来控制功率分析的电压电平; 信号分析单元，其接收当所述智能卡从所述接触型测试单元执行所述加密算法时产生的电压变化信号，并分析波形; 以及控制单元，其控制接触型测试单元和信号分析单元的操作。
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