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发明授权
반도체／금속체의 ＤＣ 특성 및 전기적 잡음 특성의 동시 측정 시스템 및 방법 有权

公开(公告)号：KR101948715B1

公开(公告)日：2019-05-30

申请号：KR1020170171445

申请日：2017-12-13

Applicant: 한국산업기술대학교산학협력단

Inventor： 안승언 , 최재완

IPC: G01R29/26 , G01R23/177 , G01R23/20 , G01R27/26 , G01R27/08

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