公开(公告)号：WO2015102174A1

公开(公告)日：2015-07-09

申请号：PCT/KR2014/004885

申请日：2014-06-02

Applicant: 한국산업기술대학교산학협력단 ,  ㈜광개토연구소

Inventor： 이영곤 ,  공성랑 ,  강민수

IPC: G06F19/00

CPC classification number: G06Q10/00

Abstract: 본 발명은 (A) 적어도 2 이상의 소송 특허 및 준 소송 특허로 구성되는 분쟁 특허 집합을 입수 받는 단계; (B) 상기 분쟁 특허와 관련된 분쟁 정보를 입수 받는 단계; (C) 상기 분쟁 특허 집합에 속하는 분쟁 특허에 대하여 분쟁 수치값을 부여하는 단계; 및 (D) 상기 분쟁 수치값이 부여된 분쟁 특허 집합과 분쟁 수치값이 비분쟁 수치 기준값으로 부여되는 적어도 2 이상의 비분쟁 특허로 구성되는 비분쟁 특허 집합에 대하여, 상기 분쟁 수치값과 비분쟁 수치 기준값을 반응 변수값으로 하고, 상기 분쟁 특허와 상기 비분쟁 특허에 대하여 적어도 2 이상의 설명 변수별 설명 변수값을 사용하여 통계학적 기법을 사용하여 적어도 하나 이상의 특허 분쟁 리스크 계량 모델을 수립하는 단계;를 포함한다.

Abstract translation: 本发明包括以下步骤：（A）接收至少两项诉讼专利和上诉专利的争议专利集; （二）收到与争议专利相关的争议信息; （C）将争议数值分配给争议专利组的争议专利; 和（D）关于争议数字值分配的争议专利集以及包含两个或两个以上非争议专利的非争议专利组，争议数字值被分配为非争议数字参考值， 通过将争议数值和非争议数字参考值设置为反应变量值并使用两个或多个描述变量中的每一个的描述变量值和争议专利的统计方案来建立至少一个专利纠纷风险度量模型，以及 非争议专利。

公开(公告)号：KR1020150077796A

公开(公告)日：2015-07-08

申请号：KR1020130166642

申请日：2013-12-30

Applicant: 한국산업기술대학교산학협력단 ,  (주)광개토연구소

Inventor： 이영곤 ,  공성랑 ,  강민수

IPC: G06F19/00

CPC classification number: G06Q10/00

Abstract: 본발명은분쟁특허별중요도가반영되는특허분쟁리스크계량정보처리시스템및 그시스템의정보처리방법에관한것이다. 특허분쟁리스크계량정보처리시스템은 (A) 적어도 2 이상의소송특허및 준소송특허로구성되는분쟁특허집합을입수받는단계; (B) 상기분쟁특허집합을구성하는분쟁특허에대하여, 상기분쟁특허와관련된분쟁정보를입수받는단계; (C) 상기분쟁특허집합에속하는분쟁특허에대하여분쟁수치값을부여하는단계;및(D) 상기분쟁수치값이부여된분쟁특허집합과분쟁수치값이비분쟁수치기준값으로부여되는적어도 2 이상의비분쟁특허로구성되는비분쟁특허집합에대하여, 상기분쟁수치값과비분쟁수치기준값을반응변수값으로하고, 상기분쟁특허와상기비분쟁특허에대하여적어도 2 이상의설명변수별설명변수값을사용하여통계학적기법을사용하여적어도하나이상의특허분쟁리스크계량모델을수립하는단계;를포함하는방식으로정보처리하는것이특징이다. 본발명을활용하면분쟁특허별중요도가반영되는특허분쟁리스크계량정보모델이가능하게되며, 분쟁특허별중요도가반영되는특허분쟁리스크계량정보모델을탑재한정보처리시스템및 그정보처리시스템을활용한정보서비스가가능하게된다.

Abstract translation: 本发明涉及一种处理专利纠纷风险度量信息的系统，其反映了每个专利纠纷的重要性以及该系统的信息处理方法。 处理专利纠纷风险测量信息的系统包括：（A）接收专利的步骤，包括至少两项专利诉讼或上诉; （B）收到与上述专利有争议的争议信息的步骤; （C）向属于上述争议专利组的争议专利分配争议数值的步骤; 和（D）通过将争议数值和非争议数值参考值作为反应变量值设置为与争议数值分配的争议专利集相对应的建立至少一个专利纠纷风险度量模型的步骤; 一个非争议专利组，包括两个或多个非争议专利，争议数字值被分配为非争议数字参考值，并使用两个或多个描述变量中的每一个的描述变量值和 争议专利和非争议专利。 本发明的使用提供了专利争议风险测量信息模型，其反映了每个专利纠纷的重要性以及使用信息处理系统的信息服务。

公开(公告)号：KR1020150114028A

公开(公告)日：2015-10-12

申请号：KR1020140037466

申请日：2014-03-31

Applicant: 한국산업기술대학교산학협력단

Inventor： 이영곤

IPC: G06F19/00

CPC classification number: G06Q10/0637 ,  G06F2216/11

Abstract: 본발명은단위산업별기술가치예측시스템및 그시스템의정보처리방법에관한것이다. 본발명의단위산업별기술가치예측시스템은 (A) 단위산업에대응되는특허로구성되는단위산업별입수특허집합을가공하고, 상기단위산업별입수특허집합에포함된특허를대상으로, 적어도하나이상의단위산업요소지수의단위산업요소지수별단위산업요소지수값를산출하는단계;(B) 단위산업요소지수값을사용하여단위산업요소지수별예측모델을생성하는단계;및(C) 상기단위산업요소지수별예측모델을사용하여단위산업요소지수별단위산업요소지수예측값을생성하는단계;를포함하고, 상기단위산업에대응되는특허는상기단위산업에대응되는기 설정된적어도하나이상의특허분류값을공유하는특허를포함한다. 본발명을활용하면기업이나연구기관등이신사업또는신규먹거리발견을위하여새로운산업분야로뛰어들기전에, 이러한단위산업별기술가치예측정보를제공해주어합리적인의사결정을수행할수 있게되며, 단위산업별기술가치예측결과는개별기업이나연구기관뿐만아니라각종컨설팅기관이나공공영역에도지원해줄 수있으며, 나아가단위산업별로유망성지수, 융합성지수및 파급성지수를산출할수 있고, 단위산업별로각 연도별로유망성지수, 융합성지수및 파급성지수를산출할수 있으며, 현재까지의단위산업요소지수값을사용하며, 미래의단위산업요소지수별예측값을산출할수 있다.

Abstract translation: 本发明涉及一种用于预测每个单位行业的技术价值的系统及其处理信息的方法。 本发明的系统包括以下步骤：（A）处理每个单位行业接收到的专利集，其中包括与每个单位行业相对应的专利，以及为每个单位行业因素指数计算一个或多个单位行业因素指数 以单位行业为对象的收到的专利中包含的专利的单位行业要素指标; （B）利用单位行业因素指标值为每个单位行业因素指数生成预测模型; （C）通过使用每个单位行业因素指标的预测模型，为每个单位行业因素指数生成单位行业因素指标预测值。 与单位行业相对应的专利包括共享与单位行业对应的一个或多个预定专利分类值的专利。 根据本发明，在公司或研究机构在新领域开展行业发现新业务或新产品的情况下，提供了各单位行业的技术价值预测信息，可以进行合理的判断。 每个单位行业的技术价值预测结果不仅可以支持个别公司或研究机构，还可以支持几种咨询机构和公共领域。 另外，可以计算每个单位行业有前途的指标，融合指标和影响指标，可以计算每个单位行业每年有希望的指标，融合指标和影响指数。 使用目前单位行业因素指标值，可以计算未来单位行业因素指标的预测值。

公开(公告)号：KR1020140106272A

公开(公告)日：2014-09-03

申请号：KR1020130020614

申请日：2013-02-26

Applicant: 한국산업기술대학교산학협력단

Inventor： 이영곤

IPC: G06F19/00

CPC classification number: G06Q10/0637 ,  G06Q10/04

Abstract: The present invention relates to a system for predicting a technology value and a method for processing information of the system. The system for predicting the technology value of the present invention comprises step (A) for processing a patent group comprising two or more patents and calculating an element index value for each element index of one or more element indexes based on the patent included in the patent group; step (B) for generating a prediction model for each element index by using the element index value; and step (C) for generating the element index prediction value for each element index by using the prediction model for each element index. The present invention calculates a promising index, a fusion index, and a peracute index for each technology field., The present invention calculates the promising index, the fusion index, and the peracute index for each year and each technology field. The present invention calculates a future prediction value for element index by using a current element index value. The present invention calculates the element index value for each technology field and the prediction value for each element index. The calculated element index value and the prediction value for each element index are utilized for technology analysis and technology prediction in various technology and industry fields.

Abstract translation: 本发明涉及一种用于预测技术价值的系统和一种用于处理系统信息的方法。 用于预测本发明的技术价值的系统包括用于处理包括两个或更多个专利的专利组的步骤（A），并且基于专利中包含的专利来计算一个或多个元素指数的每个元素指数的元素指数值 组; 步骤（B），用于通过使用所述元素索引值来生成每个元素索引的预测模型; 以及步骤（C），用于通过使用每个元素索引的预测模型来生成每个元素索引的元素索引预测值。 本发明计算每个技术领域的有希望的指数，融合指数和peracute指数，本发明计算每年和每个技术领域的有希望的指数，融合指数和peracute指数。 本发明通过使用当前元素索引值来计算元素索引的未来预测值。 本发明计算各技术领域的元素指标值和各元素指标的预测值。 计算的元素指标值和各元素指标的预测值用于各种技术和行业领域的技术分析和技术预测。

公开(公告)号：KR1020150114029A

公开(公告)日：2015-10-12

申请号：KR1020140037467

申请日：2014-03-31

Applicant: 한국산업기술대학교산학협력단

Inventor： 이영곤

IPC: G06F19/00

CPC classification number: G06F17/30994 ,  G06F2216/11 ,  G06N3/02

Abstract: 본발명은기술가치예측배치처리시스템및 그시스템의정보처리방법에관한것이다. 본발명의기술가치예측배치처리시스템은 (A) 제1 단위기술에대응되는특허로구성되는제1 단위기술별제1 입수특허집합을입수하는단계; (B) 입수한특허집합에포함된특허를대상으로, 적어도하나이상의단위기술요소지수의단위기술요소지수별단위기술요소지수값를산출하는단계; (C) 단위기술요소지수값을사용하여단위기술요소지수별예측모델을생성하는단계; (D) 상기단위기술요소지수별예측모델을사용하여단위기술요소지수별단위기술요소지수예측값을생성하는단계; 및 (E) 제2 단위기술에대응되는특허로구성되는제2 단위기술별제2 입수특허집합을입수하고, 상기제2 입수특허집합에대하여, 상기 (B) 내지 (D) 단계를수행하는단계;를포함하여정보처리하는것이특징이다. 본발명을활용하면다양한관점에서다양한규모의기술각각에대하여기술분야별로유망성지수, 융합성지수및 파급성지수를주기적으로대량산출할수 있고, 각각의기술분야별로각 연도별로유망성지수, 융합성지수및 파급성지수를산출할수 있으며, 현재까지의요소지수값을사용하며, 미래의요소지수별예측값을산출할수 있으며, 나아가특허분류를기술분야로활용할수 있어, IPC 7만여개, USPC 16만여개중에서선택되는깊이별로사전에대량생산하여, 필요한때에조회하여활용할수 있게된다.

Abstract translation: 本发明涉及技术价值预测批量处理系统及其处理信息的方法。 本发明的系统包括以下步骤：（A）接收包括与第一单元技术相对应的专利的每个第一单元技术的第一接收专利组; （B）以接收专利组为对象的专利中的一项或多项单位技术要素指标的单位技术要素指标的单位技术要素指标值计算; （C）通过使用单位技术因素指标值为每个单位技术因素指标生成预测模型; （D）通过使用每个单位技术因素指标的预测模型，为每个单位技术因素生成单位技术因素指标预测值; 以及（E）接收第二单元技术的第二接收专利组，其包括对应于第二单元技术的专利，并且对第二接收专利组执行步骤（B）至（D）。 根据本发明，对于各种具有各种尺寸的各种技术，每个技术领域的有希望的指标，融合指标和影响指标可以周期性地大量计算，并且每年有希望的指标，融合指标和影响指数 可以计算每个技术领域。 使用到目前为止的因子指标值，并且可以计算未来因子指数的预测值。 此外，专利分类可以用作技术领域，每个深度选自70,000个IPC和160,000个USPC中，可以在字典中大量生产，仅在需要时才能搜索和利用。