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公开(公告)号：KR1019960019635A
公开(公告)日：1996-06-17
申请号：KR1019940028978
申请日：1994-11-05
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: H01L21/66
Abstract: 본 발명은 반도체에서 전기적 성질에 영향을 주는 에너지 갭내에 존재하는 결합레벨을 특성분석을 위해 결함을 영상화하는 영상기법을 이용한 화합물 반도체(GaAs)의 결함 인식방법에 관한 것으로 종래에는 성장기술이 미숙하고 결함분포가 균일하지 않아 동일 칩내의 각 소자간 전기적 특성이 일정않고 심한 분산을 일으키는 문제점들이 있었다.
본 발명은 상술한 문제점을 극복하기 위한 것으로 제품의 성능에 영향을 주는 결함분포를 이해할 수 있도록 한 것으로 광원을 통해 시편을 투과시키는 이 투사된 광을 카메라로 영상을 취득하여 실연영상을 모터하고 동시에 카메라에서 취득된 아나로그 디지탈 신호로 변환시켜 주는 PC로 전송시켜 필요한 영상처리를 하여 결함의 공간적 분포와 상대적 밀도를 시각화 한 것이다.-
公开(公告)号：KR1019940010644B1
公开(公告)日：1994-10-24
申请号：KR1019910022922
申请日：1991-12-13
IPC: H01L21/66
Abstract: The apparatus for screening energy gap of semiconductor material using an image processing system comprises a polychromator (3) for projecting the spectrum of light on a sample (4) through a lens (2), optical filters (5) for passing the image of transmission spectrum according to specific wave lengths, an image device (6) for converting image made of the corresponding filter's wave length to analog electrical signal, an image processing system (7) for converting digital signal and memorizing it an energy gap access & display device (8) for deciding function relation between pixel coordinates value and wave length.
Abstract translation: 用于使用图像处理系统筛选半导体材料的能隙的装置包括用于通过透镜（2）将样品（4）投射光谱的多色体（3），用于使透射图像通过的滤光器（5） 根据特定波长的光谱，用于将由相应滤波器的波长构成的图像转换为模拟电信号的图像装置（6），用于转换数字信号并将其存储的能量空间访问和显示装置（7）的图像处理系统（7） 8）用于决定像素坐标值和波长之间的函数关系。
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公开(公告)号：KR100155520B1
公开(公告)日：1998-11-16
申请号：KR1019950052673
申请日：1995-12-20
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: H04L7/00
Abstract: 본 발명은 카운터를 이용한 PN 코드 탐색 및 잠금논리회로에 관한 것으로서, 종래기술에서의 탐색 및 잠금논리회로가 매우 복잡했던 문제점을 해결하기 위해 수시된 PN 코드와 수신측에서 발생한 PN 코드의 일치여부를 비교하여 반전시킨 임계값 ( )의 신호와 추정신호를 논리곱한 결과에 따라 동기포착을 하는 동기포착수단과, 임계값 ( )과 동기포착수단의 촐력에 따라 카운터를 동작시켜 잠금상태를 해제시키는 신호를 발생하는 잠금해제신호 발생수단과, 잠금해제신호 발생수단으로부터 출력된 신호에 따라 클리어되고, 추정신호에 의해 동기되어 입력된 동기상태 제어신호에 따라 코드 검색, 코드 확인 및 잠금상태에 상응한 동기상태표시신호를 출력하는 동기상태표시수단과, 동기상태표시수단으로 출력된 신호와 임계값 (
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR100138855B1
公开(公告)日：1998-06-01
申请号：KR1019940028978
申请日：1994-11-05
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: H01L21/66
Abstract: 본 발명은 반도체에서 전기적 성질에 영향을 주는 에너지 갭내에 존재하는 결함레벨을 특성분석을 위해 결함을 영상화 하는 영상기법을 이용한 화합물 반도체(GaAs)의 결함 인식방법에 관한 것으로 종래에는 성장기술이 미숙하고 결함분포가 균일하지 않아 동일 칩내의 각 소자간 전기적 특성이 일정않고 심한 분산을 일으키는 문제점들이 있었다.
본 발명은 상술한 문제점을 극복하기 위한 것으로 제품의 성능에 영향을 주는 결함분포를 이해할 수 있도록 한 것으로 광원을 통해 시편을 투과시키고 이 투사된 광을 카메라로 영상을 취득하여 실연 영상을 모니터하고 동시에 카메라에서 취득된 아나로그 디지탈 신호로 변환시켜 주는 PC로 전송시켜 필요한 영상처리를 하여 결함의 공간적 분포와 상대적 밀도를 시각화 한 것이다.-
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公开(公告)号：KR1019970056140A
公开(公告)日：1997-07-31
申请号：KR1019950052673
申请日：1995-12-20
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: H04L7/00
Abstract: 본 발명은 카운터를 이용한 PN 코드 탐색 및 잠금논리회로에 관한 것으로서, 종래기술에서의 탐색 및 잠금논리회로가 매우 복잡했던 문제점을 해결하기 위해 수시된 PN 코드와 수신측에서 발생한 PN 코드의 일치여부를 비교하여 반전시킨 임계값 (
)의 신호와 추정신호를 논리곱한 결과에 따라 동기포착을 하는 동기포착수단과, 임계값 (
)과 동기포착수단의 촐력에 따라 카운터를 동작시켜 잠금상태를 해제시키는 신호를 발생하는 잠금해제신호 발생수단과, 잠금해제신호 발생수단으로부터 출력된 신호에 따라 클리어되고, 추정신호에 의해 동기되어 입력된 동기상태 제어신호에 따라 코드 검색, 코드 확인 및 잠금상태에 상응한 동기상태표시신호를 출력하는 동기상태표시수단과, 동기상태표시수단으로 출력된 신호와 임계값 (
)의 신호의 논리적 결과값에 따라 동기상태 제어신호를 출력하는 동기상태 제어수단으로 구성되어 무선단말기의 경량, 소형화를 유도할 수가 있는 것이다.-
公开(公告)号：KR1019970010661B1
公开(公告)日：1997-06-30
申请号：KR1019930026134
申请日：1993-12-01
Applicant: 한국전자통신연구원
Inventor： 강성준
IPC: H01L21/66
Abstract: The method and apparatus for displaying thermal characteristics of an energy gap by using an optic system and an image system consists of a cryostat(100) holding temperature of a semiconductor reagent low, a light projection unit(200) emitting light having a specified bandwidth on the semiconductor reagent in the cryostat(4) and an image processing unit(300) for processing an image and displaying a degree of its absorption and transparency.
Abstract translation: 通过使用光学系统和图像系统来显示能隙的热特性的方法和装置包括：保持半导体试剂低温的低温恒温器（100），将具有指定带宽的光发射到光投射单元（200）上 低温恒温器（4）中的半导体试剂和用于处理图像并显示其吸收和透明度的图像处理单元（300）。
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