Abstract:
1. 청구범위에 기재된 발명이 속하는 기술분야 본 발명은, 채널 신뢰도 값의 비균일 양자화를 이용한 복호 전처리 장치 및 그를 이용한 저밀도패리티검사 복호 시스템에 관한 것임. 2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제 본 발명은, 사전 시뮬레이션을 통해 예측된 비트 에러율(BER)과 채널 잡음의 표준편차(σ)와의 관계를 통해 소정의 잡음평가에러 범위 내에서 채널 신뢰도 값을 비균일 양자화하여 이산치 채널 신뢰도 값(L c *)을 추정하고, 수신 신호를 이산치 채널 신뢰도 값만큼 비트 쉬프팅시켜 복호 전처리함으로써, 성능열화를 막고 하드웨어적으로도 간단히 구현할 수 있도록 하는, 채널 신뢰도 값의 비균일 양자화를 이용한 복호 전처리 장치 및 그를 이용한 저밀도패리티검사 복호 시스템을 제공하는데 그 목적이 있음. 3. 발명의 해결 방법의 요지 본 발명은, 채널 신뢰도 값의 비균일 양자화를 이용한 복호 전처리 장치에 있어서, 채널 잡음의 표준편차에 따른 비트 에러율에 대한 성능 시뮬레이션 결과에 따라 소정의 범위 내에서 이산치 채널 신뢰도 값을 추정하기 위한 채널 신뢰도 추정수단; 외부로부터 수신한 수신 신호의 채널 신뢰도 값을 상기 채널 신뢰도 추정수단에서 추정한 이산치 채널 신뢰도 값으로 비균일 양자화하기 위한 비균일 양자화수단; 상기 외부로부터 수신한 수신 신호에 부호 비트를 추가하기 위한 부호 비트 추가수단; 및 상기 부호 비트 추가수단에서 부호 비트를 추가한 수신 신호를 상기 비균일 양자화수단에서 비균일 양자화한 이산치 채널 신뢰도 값만큼 비트 쉬프팅시키기 위한 비트 쉬프팅수단을 포함함. 4. 발명의 중요한 용도 본 발명은 저밀도패리티검사(LDPC) 복호 시스템 등에 이용됨.
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1. 청구범위에 기재된 발명이 속하는 기술분야 본 발명은, 채널 신뢰도 값의 비균일 양자화를 이용한 복호 전처리 장치 및 그를 이용한 저밀도패리티검사 복호 시스템에 관한 것임. 2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제 본 발명은, 사전 시뮬레이션을 통해 예측된 비트 에러율(BER)과 채널 잡음의 표준편차(σ)와의 관계를 통해 소정의 잡음평가에러 범위 내에서 채널 신뢰도 값을 비균일 양자화하여 이산치 채널 신뢰도 값(L c *)을 추정하고, 수신 신호를 이산치 채널 신뢰도 값만큼 비트 쉬프팅시켜 복호 전처리함으로써, 성능열화를 막고 하드웨어적으로도 간단히 구현할 수 있도록 하는, 채널 신뢰도 값의 비균일 양자화를 이용한 복호 전처리 장치 및 그를 이용한 저밀도패리티검사 복호 시스템을 제공하는데 그 목적이 있음. 3. 발명의 해결 방법의 요지 본 발명은, 채널 신뢰도 값의 비균일 양자화를 이용한 복호 전처리 장치에 있어서, 채널 잡음의 표준편차에 따른 비트 에러율에 대한 성능 시뮬레이션 결과에 따라 소정의 범위 내에서 이산치 채널 신뢰도 값을 추정하기 위한 채널 신뢰도 추정수단; 외부로부터 수신한 수신 신호의 채널 신뢰도 값을 상기 채널 신뢰도 추정수단에서 추정한 이산치 채널 신뢰도 값으로 비균일 양자화하기 위한 비균일 양자화수단; 상기 외부로부터 수신한 수신 신호에 부호 비트를 추가하기 위한 부호 비트 추가수단; 및 상기 부호 비트 추가수단에서 부호 비트를 추가한 수신 신호를 상기 비균일 양자화수단에서 비균일 양자화한 이산치 채널 신뢰도 값만큼 비트 쉬프팅시키기 위한 비트 쉬프팅수단을 포함함. 4. 발명의 중요한 용도 본 발명은 저밀도패리티검사(LDPC) 복호 시스템 등에 이용됨.