公开(公告)号：KR1019990017088A

公开(公告)日：1999-03-15

申请号：KR1019970039858

申请日：1997-08-21

Applicant: 한국전자통신연구원

Inventor： 장웅 ,  손홍세 ,  황익순

IPC: H04L12/26

Abstract: 본 발명은 일반적인 통신 프로토콜의 적합성 시험을 효과적으로 수행하기 위한 시험 규격 작성 및 시험 규격 작성을 위한 시험열을 생성하는 방법에 대한 것이다. 일반적으로 프로토콜의 적합성 시험에서 시험자는 시험 대상(IUT: Imple- mentation Under Test)의 내부를 관찰하거나 제어할 수 없으며, 적절한 입력을 주고 출력을 관찰하여 오류가 있는지를 판단하는 형태로 시험이 이루어진다. 그러나 입력으로 제공되는 시험열에 따라서 프로토콜을 시험할 수 있는 능력, 즉 시험의 정확성 및 범위가 달라지기 때문에 입력으로 사용되는 시험열을 생성할 때 시험 대상 프로토콜의 시험 적용 범위가 포괄적이 되도록 시험열을 생성하여야 한다. 프로토콜이 복잡해질수록 시험열을 효율적으로 생성하기는 어려워지며, 시험열 생성에 대한 비용도 커지게 되는 것을 해결하고자 한다. 따라서, 본 발명은 상기한 난점을 극복하기 위해서 일반적인 통신 프로토콜의 경우와 같이 다중 모듈로 확장된 유한성 상태 기계(EFSM:Extended Finite State Machine)적합성 시험에서 데이터 부분 시험열 생성을 위한 다중 확장된 유한성 상태 기계(Multi-EFSM) 모델로부터 단일 확장된 유한성 상태 기계(Single-EFSM) 모델로의 변환 방법을 제시하고 이를 이용한 시험 시스템을 구축하는 방법을 제시하고자 한다.

公开(公告)号：KR100243109B1

公开(公告)日：2000-02-01

申请号：KR1019970039858

申请日：1997-08-21

Applicant: 한국전자통신연구원

Inventor： 장웅 ,  손홍세 ,  황익순

IPC: H04L12/26

Abstract: 본 발명은 일반적인 통신 프로토콜의 적합성 시험을 효과적으로 수행하기 위한 시험 규격 작성 및 시험 규격 작성을 위한 시험열을 생성하는 방법에 대한 것이다. 일반적으로 프로토콜의 적합성 시험에서 시험자는 시험 대상(IUT: Imple- mentation Under Test)의 내부를 관찰하거나 제어할 수 없으며, 적절한 입력을 주고 출력을 관찰하여 오류가 있는지를 판단하는 형태로 시험이 이루어진다. 그러나 입력으로 제공되는 시험열에 따라서 프로토콜을 시험할 수 있는 능력, 즉 시험의 정확성 및 범위가 달라지기 때문에 입력으로 사용되는 시험열을 생성할 때 시험 대상 프로토콜의 시험 적용 범위가 포괄적이 되도록 시험열을 생성하여야 한다. 프로토콜이 복잡해질수록 시험열을 효율적으로 생성하기는 어려워지며, 시험열 생성에 대한 비용도 커지게 되는 것을 해결하고자 한다. 따라서, 본 발명은 상기한 난점을 극복하기 위해서 일반적인 통신 프로토콜의 경우와 같이 다중 모듈로 확장된 유한성 상태 기계(EFSM:Extended Finite State Machine)적합성 시험에서 데이터 부분 시험열 생성을 위한 다중 확장된 유한성 상태 기계(Multi-EFSM) 모델로부터 단일 확장된 유한성 상태 기계(Single-EFSM) 모델로의 변환 방법을 제시하고 이를 이용한 시험 시스템을 구축하는 방법을 제시하고자 한다.