公开(公告)号：KR101783541B1

公开(公告)日：2017-10-11

申请号：KR1020160035668

申请日：2016-03-25

Applicant: 한국표준과학연구원

Inventor： 이윤희 ,  김용재 ,  이근우 ,  이수형 ,  김용일

IPC: G01N3/12 ,  G01N21/17 ,  G01N23/207

Abstract: 본발명은압입곡선의변화와함께압입자상부에서발생하는변형이나상변태를실시간으로측정할수 있는광학및 분광시스템이융합된국소압입장치를이용한국소압입분석시스템및 국소압입분석방법을제공하는것이다. 이를위해, 본발명은대상시험편이배치되는지지대, 대상시험편의상면에특정하중을가하는하중부, 대상시험편의하면을향하도록지지대에설치되는투광성의압입자및 압입자를통해대상시험편으로특정광원을입사하고, 대상시험편에서반사되는특정광원을수신하는광원송수신부를포함하는것을특징으로하는광학및 분광시스템이융합된국소압입장치를이용한국소압입분석시스템및 국소압입분석방법을개시한다.

Abstract translation: 本发明是提供一种使用局部压分析系统和本地压分析方法局部压合到光学和光谱系统，可以在实时测量从压头顶部而产生与所述压入曲线的变形的变形和相变装置。 为此，本发明进入特定光源在这些压头和光透射性的，其被安装在支撑，以便面对装载的压在受试者样品，根据落入在上表面上的方便目标测试支持者特定负载的目标试样布置受试者标本 并启动本地压分析系统和使用该压入装置被局部融合本地压分析方法，以及光学光谱系统包括：用于接收所述特定光源的光源单元收发器从目标样本反射。

公开(公告)号：KR101901789B1

公开(公告)日：2018-09-27

申请号：KR1020160144354

申请日：2016-11-01

Applicant: 한국표준과학연구원

Inventor： 이윤희 ,  김용재 ,  조상희 ,  김용일

IPC: G01N3/14 ,  G01N3/42

Abstract: 본발명의일 관점에따르면, 무응력상태의재료및 잔류응력상태의재료에각각계장화압입시험을수행하는단계; 상기계장화압입시험의결과로형성된압흔의투영접촉면적() 정보와상기계장화압입시험중에도출된압입하중-변위곡선정보로부터최대압입깊이()와잔류압입깊이() 정보를획득하는단계; 상기압흔의투영접촉면적() 정보와, 상기최대압입깊이()와잔류압입깊이() 정보로부터무응력상태에서의재료쌓임의높이() 및잔류압입깊이(), 잔류응력상태에서의재료쌓임의높이() 및잔류압입깊이()를도출하는단계; 및상기무응력상태에서의재료쌓임의높이()및잔류압입깊이()와, 상기잔류응력상태에서의재료쌓임의높이() 및잔류압입깊이()을포함하는수학식으로부터상기재료의잔류응력을계산하는단계;를포함하는, 재료의잔류응력계산방법이제공된다.

公开(公告)号：KR20180047708A

公开(公告)日：2018-05-10

申请号：KR20160144354

申请日：2016-11-01

Applicant: 한국표준과학연구원

Inventor： 이윤희 ,  김용재 ,  조상희 ,  김용일

IPC: G01N3/14 ,  G01N3/42

CPC classification number: G01N3/14 ,  G01N3/42

Abstract: 본발명의일 관점에따르면, 무응력상태의재료및 잔류응력상태의재료에각각계장화압입시험을수행하는단계; 상기계장화압입시험의결과로형성된압흔의투영접촉면적() 정보와상기계장화압입시험중에도출된압입하중-변위곡선정보로부터최대압입깊이()와잔류압입깊이() 정보를획득하는단계; 상기압흔의투영접촉면적() 정보와, 상기최대압입깊이()와잔류압입깊이() 정보로부터무응력상태에서의재료쌓임의높이() 및잔류압입깊이(), 잔류응력상태에서의재료쌓임의높이() 및잔류압입깊이()를도출하는단계; 및상기무응력상태에서의재료쌓임의높이()및잔류압입깊이()와, 상기잔류응력상태에서의재료쌓임의높이() 및잔류압입깊이()을포함하는수학식으로부터상기재료의잔류응력을계산하는단계;를포함하는, 재료의잔류응력계산방법이제공된다.