Patent search ap:("한국항공대학교산학협력단") AND inv:"함석주" Page 1

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发明授权
회전체 치 기반의 회전체 결함 분석 장치 및 방법 有权

公开(公告)号：KR102171505B1

公开(公告)日：2020-10-30

申请号：KR1020190009196

申请日：2019-01-24

Applicant: 한국항공대학교산학협력단

Inventor： 김석구 , 박형준 , 함석주 , 최주호

IPC: G01N29/09 , G01N29/04 , G06N3/08

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