Abstract:
부품 표면의 이물질 검출 시스템 및 이를 이용한 부품 표면의 이물질 제외 방법이 제공된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 부품 표면의 이물질 검출 시스템은, 컨베이어에 의해 이물질 검출 스테이션으로 이송되는 평평한 부품의 표면에 있는 이물질을 검출하는 부품 표면의 이물질 검출 시스템에 있어서, 상기 이물질 검출 스테이션으로 이송된 상기 부품의 표면에 15도 이하의 각도로 입사광을 조사하도록 상기 컨베이어의 상부에 배치되는 입사 광원부; 상기 컨베이어의 가상 연직선을 기준으로 10~50도의 각도로 상기 부품의 표면에서 반사되는 상기 입사광의 반사광을 검출하여 촬영하도록 상기 컨베이어의 상부에 배치되는 이미지 촬영부; 및 상기 이미지 촬영부에 의해 획득된 이미지의 광량을 분석하여 상기 부품의 이물질을 검출하는 이물질 검출부를 포함한다.
Abstract:
텔레센트릭 광학계 및 이를 구비하는 전자 부품 실장 장치가 제공된다. 상기 텔레센트릭 광학계는 물체측으로부터 차례로 메니스커스(meniscus) 렌즈를 구비하는 제1 렌즈, 상기 제1 렌즈의 후면에 접촉되는 양볼록 렌즈를 구비하는 제2 렌즈와 메니스커스 렌즈를 구비하는 제3 렌즈를 포함하되, 전체로서 양의 굴절력을 갖는 제1 렌즈군을 구비한다. 상기 제1 렌즈군과 소정 간격으로 이격되어 차례로 메니스커스 렌즈를 구비하는 제4 렌즈와 상측으로 오목한 편면 오목 렌즈를 구비하는 제5 렌즈를 포함하는 제2 렌즈군이 제공된다. 상기 제2 렌즈군과 소정 간격으로 이격되어 차례로 물측으로 오목한 편면 오목 렌즈를 구비하는 제6 렌즈와 물측으로 오목한 메니스커스 렌즈를 구비하는 제7 렌즈를 구비하는 제3 렌즈군이 제공된다. 상기 제3 렌즈군과 소정 간격으로 이격되어 차례로 상측으로 볼록한 메니스커스 렌즈를 구비하는 제8 렌즈, 양볼록 렌즈를 구비하는 제9 렌즈와 물측으로 볼록한 메니스커스 렌즈를 구비하는 제10 렌즈를 포함하되, 전체로서 양의 굴절력을 갖는 제4 렌즈군이 제공된다. 아울러, 상기 전자 부품 실장 장치도 제공된다. 텔레센트릭 광학계, 전장, 왜곡, 전자부품검사
Abstract:
PURPOSE: A recognizing device of a chip mounter is provided to improve productivity by increasing the working speed of a pickup head through one recognizing device. CONSTITUTION: A camera(200) recognizes a part(700) adsorbed in a nozzle. A rotary mirror(300) is rotatably positioned on the lower side of the camera. The rotary mirror reflects bottom information(B) or side information(S) at a right position and makes a device recognize a substrate which is supplied downward by avoiding a light path of the camera in a rotation state. A bottom mirror(400) focuses the bottom information of the part on the camera through the rotary mirror at the right position. A side mirror(500) passes the side information through the lower side of the bottom mirror and reflects and focuses the side information on the camera through the rotary mirror at the right mirror.
Abstract:
PURPOSE: A device for inspecting component absorption is provided to photograph fiducial mark images and lateral images of parts with one camera when inspecting lateral surfaces of the parts being attached on a fiducial mark and a nozzle, thereby reducing a volume of part inspecting equipment and costs for manufacturing the equipment. CONSTITUTION: A device for inspecting component absorption comprises a first front lens(310), a second front lens(320), a first reflecting plate(410), a second reflecting plate(420), and a beam splitter(500). The first front lens accepts a first shape with respect to a fiducial mark marked on a printed circuit substrate. The second front lens accepts a second shape with respect to a lateral surface of a part being absorbed on a nozzle. The first reflecting plate reflects the first shape. The second reflecting plate reflects the second shape. The beam splitter transmits the first shape transmitted through the first front lens and reflected by the first reflecting plate and makes the same incident to a camera and reflects the second shape transmitted through the second front lens and reflected by the second reflecting plate and makes the same incident to the camera.
Abstract:
PURPOSE: A component recognition device of a part-mounter is provided to accurately mount parts on an electronic circuit substrate by compensating errors between an ideal pattern and a distorted pattern. CONSTITUTION: A plurality of nozzles(10-1~10-6) mount parts(20-1~20-6) on an electronic circuit substrate. A teaching camera(50) outputs the visions of the parts mounted on the electronic circuit substrate. A video processing unit gets an image of parts absorbed through a plurality of nozzles. An error computation and correction unit computes and compensates the error of distorted image due to a lens. A controlling unit(500) controls the location of parts by changing the location of a plurality of nozzles.
Abstract:
An electronic lens system and chip mounting unit is provided to reduce installation space by making the device configuration simple. A first optic(L1) including a first optic group(G1) is the meniscus lens and a second lens(L2) including a biconvex lens. A second lens group is composed of a fourth lens(L4) including the second lens group(G2). A third lens group is composed of the seventh lens(L7) of the meniscus lens pressed to the object side and sixth lens(L6). A fourth lens group is composed of an eighth lens(L8) including the meniscus lens which the fourth lens group(G4) is bulging to the upper and ninth lens(L9).