부품 표면의 이물질 검출 시스템 및 이를 이용한 부품 표면의 이물질 제외 방법
    1.
    发明公开
    부품 표면의 이물질 검출 시스템 및 이를 이용한 부품 표면의 이물질 제외 방법 无效
    用于检测部件表面材料的系统和使用它来排除部件表面材料的方法

    公开(公告)号:KR1020150026527A

    公开(公告)日:2015-03-11

    申请号:KR1020130105509

    申请日:2013-09-03

    Inventor: 노주윤 강민수

    Abstract: 부품 표면의 이물질 검출 시스템 및 이를 이용한 부품 표면의 이물질 제외 방법이 제공된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 부품 표면의 이물질 검출 시스템은, 컨베이어에 의해 이물질 검출 스테이션으로 이송되는 평평한 부품의 표면에 있는 이물질을 검출하는 부품 표면의 이물질 검출 시스템에 있어서, 상기 이물질 검출 스테이션으로 이송된 상기 부품의 표면에 15도 이하의 각도로 입사광을 조사하도록 상기 컨베이어의 상부에 배치되는 입사 광원부; 상기 컨베이어의 가상 연직선을 기준으로 10~50도의 각도로 상기 부품의 표면에서 반사되는 상기 입사광의 반사광을 검출하여 촬영하도록 상기 컨베이어의 상부에 배치되는 이미지 촬영부; 및 상기 이미지 촬영부에 의해 획득된 이미지의 광량을 분석하여 상기 부품의 이물질을 검출하는 이물질 검출부를 포함한다.

    Abstract translation: 提供了用于组分表面的异物的检测系统及其使用方法。 根据本发明的一个实施例,用于元件表面异物的检测系统检测由输送机输送到异物检测站的平坦部件的表面上的异物。 用于元件表面的外部材料的检测系统包括:入射光源单元,布置在输送机的上部,并将15°角或更小的入射光照射到输送到异物检测站的部件的表面 ; 图像捕获单元,布置在传送器的上部,以基于输送机的虚拟垂直线以10-50°的角度检测从部件的表面反射的入射光的反射光,以便捕获; 以及异物检测单元,其分析由所述图像捕获单元获得的图像的光量,以检测所述部件的异物。

    텔레센트릭 광학계 및 이를 구비하는 전자 부품 실장 장치
    2.
    发明授权
    텔레센트릭 광학계 및 이를 구비하는 전자 부품 실장 장치 有权
    远心透镜系统和芯片贴片机相同

    公开(公告)号:KR101172516B1

    公开(公告)日:2012-08-10

    申请号:KR1020070104999

    申请日:2007-10-18

    Inventor: 강민수

    Abstract: 텔레센트릭 광학계 및 이를 구비하는 전자 부품 실장 장치가 제공된다. 상기 텔레센트릭 광학계는 물체측으로부터 차례로 메니스커스(meniscus) 렌즈를 구비하는 제1 렌즈, 상기 제1 렌즈의 후면에 접촉되는 양볼록 렌즈를 구비하는 제2 렌즈와 메니스커스 렌즈를 구비하는 제3 렌즈를 포함하되, 전체로서 양의 굴절력을 갖는 제1 렌즈군을 구비한다. 상기 제1 렌즈군과 소정 간격으로 이격되어 차례로 메니스커스 렌즈를 구비하는 제4 렌즈와 상측으로 오목한 편면 오목 렌즈를 구비하는 제5 렌즈를 포함하는 제2 렌즈군이 제공된다. 상기 제2 렌즈군과 소정 간격으로 이격되어 차례로 물측으로 오목한 편면 오목 렌즈를 구비하는 제6 렌즈와 물측으로 오목한 메니스커스 렌즈를 구비하는 제7 렌즈를 구비하는 제3 렌즈군이 제공된다. 상기 제3 렌즈군과 소정 간격으로 이격되어 차례로 상측으로 볼록한 메니스커스 렌즈를 구비하는 제8 렌즈, 양볼록 렌즈를 구비하는 제9 렌즈와 물측으로 볼록한 메니스커스 렌즈를 구비하는 제10 렌즈를 포함하되, 전체로서 양의 굴절력을 갖는 제4 렌즈군이 제공된다. 아울러, 상기 전자 부품 실장 장치도 제공된다.
    텔레센트릭 광학계, 전장, 왜곡, 전자부품검사

    부품실장기의 인식장치
    3.
    发明公开
    부품실장기의 인식장치 无效
    芯片安装器的识别装置

    公开(公告)号:KR1020110020431A

    公开(公告)日:2011-03-03

    申请号:KR1020090078039

    申请日:2009-08-24

    Inventor: 강민수

    Abstract: PURPOSE: A recognizing device of a chip mounter is provided to improve productivity by increasing the working speed of a pickup head through one recognizing device. CONSTITUTION: A camera(200) recognizes a part(700) adsorbed in a nozzle. A rotary mirror(300) is rotatably positioned on the lower side of the camera. The rotary mirror reflects bottom information(B) or side information(S) at a right position and makes a device recognize a substrate which is supplied downward by avoiding a light path of the camera in a rotation state. A bottom mirror(400) focuses the bottom information of the part on the camera through the rotary mirror at the right position. A side mirror(500) passes the side information through the lower side of the bottom mirror and reflects and focuses the side information on the camera through the rotary mirror at the right mirror.

    Abstract translation: 目的:提供一种芯片贴片机的识别装置,通过一个识别装置提高拾取头的工作速度来提高生产率。 构成:相机(200)识别吸附在喷嘴中的部分(700)。 旋转镜(300)可旋转地定位在相机的下侧。 旋转镜在右位置反映底部信息(B)或侧面信息(S),并且通过避免相机处于旋转状态的光路而使装置识别向下供给的基板。 底部反射镜(400)将部件的底部信息通过位于相应位置的旋转镜聚焦在相机上。 侧面反光镜(500)将侧面信息通过底部反射镜的下侧,并通过右侧镜子上的旋转镜将侧面信息反射并聚焦在相机上。

    표면 곡률 측정 방법
    4.
    发明公开
    표면 곡률 측정 방법 审中-实审
    如何测量表面曲率

    公开(公告)号:KR1020170088517A

    公开(公告)日:2017-08-02

    申请号:KR1020160008470

    申请日:2016-01-25

    Inventor: 강민수

    Abstract: 본발명은소정각도로경사진방향으로부터조명장치의빛을특정곡률의투명부재에조사하는단계, 상기투명부재상에변형패턴이투영되도록패턴형성부재를배치하는단계및 상기변형패턴을촬영하되, 상측으로부터하측으로수직하게촬영하는단계를포함하는표면곡률측정방법을제공한다.

    Abstract translation: 但是,本发明采取的相位和经修改的图案来放置图案形成构件的变形图案投影到舞台,为以一定角度从倾斜方向照射照明装置的光以一个特定的曲率的透明构件的透明构件, 并从上侧向下侧垂直拍摄表面。

    부품 장착 검사 방법 및 장치
    5.
    发明授权
    부품 장착 검사 방법 및 장치 有权
    检查芯片容纳的方法和装置

    公开(公告)号:KR101604783B1

    公开(公告)日:2016-03-21

    申请号:KR1020100118989

    申请日:2010-11-26

    Inventor: 강민수

    Abstract: 부품의외곽정보및 부품에구비된볼(ball)의위치정보를이용하여부품의정확한장착여부를검사하는부품장착검사방법및 장치가제공된다. 본발명의일 실시예에따른부품장착검사방법은, 픽업된부품의외곽정보및 상기부품에구비된복수의볼(ball)의위치정보를획득하여저장하는단계; 기판에상기부품을장착하는단계; 및상기부품의외곽정보를기초로상기기판에장착된부품의볼의장착정보를획득하는단계를포함한다. 그리고, 본발명의일 실시예에따른부품장착검사장치는, 부품을픽업하여기판에장착하는이송수단; 픽업및 장착된상기부품의외곽정보및 상기부품에구비된복수의볼(ball)의위치정보를획득하는정보획득수단; 상기외곽정보와상기위치정보를저장하며, 상기위치정보와비교하기위한기준정보를저장하는저장수단; 상기기판에장착된부품의볼의장착정보를상기외곽정보를기초로산출하는정보산출수단; 및상기장착정보를상기기준정보와비교하여상기부품의오장착여부를판단하는비교판단수단을포함한다.

    부품 흡착 검사 장치
    6.
    发明公开
    부품 흡착 검사 장치 无效
    检查芯片取样的装置

    公开(公告)号:KR1020120101866A

    公开(公告)日:2012-09-17

    申请号:KR1020110019944

    申请日:2011-03-07

    Inventor: 강민수

    CPC classification number: G01B11/24 G01B11/2545 H01L21/681

    Abstract: PURPOSE: A device for inspecting component absorption is provided to photograph fiducial mark images and lateral images of parts with one camera when inspecting lateral surfaces of the parts being attached on a fiducial mark and a nozzle, thereby reducing a volume of part inspecting equipment and costs for manufacturing the equipment. CONSTITUTION: A device for inspecting component absorption comprises a first front lens(310), a second front lens(320), a first reflecting plate(410), a second reflecting plate(420), and a beam splitter(500). The first front lens accepts a first shape with respect to a fiducial mark marked on a printed circuit substrate. The second front lens accepts a second shape with respect to a lateral surface of a part being absorbed on a nozzle. The first reflecting plate reflects the first shape. The second reflecting plate reflects the second shape. The beam splitter transmits the first shape transmitted through the first front lens and reflected by the first reflecting plate and makes the same incident to a camera and reflects the second shape transmitted through the second front lens and reflected by the second reflecting plate and makes the same incident to the camera.

    Abstract translation: 目的:提供一种用于检查部件吸收的装置,用于在检查附着在基准标记和喷嘴上的部件的侧表面时,使用一台照相机拍摄基准标记图像和侧面图像,从而减少零件检查设备的数量和成本 用于制造设备。 构成:用于检查部件吸收的装置包括第一前透镜(310),第二前透镜(320),第一反射板(410),第二反射板(420)和分束器(500)。 相对于在印刷电路基板上标记的基准标记,第一前透镜接受第一形状。 第二前透镜相对于被吸收在喷嘴上的部分的侧表面接受第二形状。 第一反射板反映第一形状。 第二反射板反映第二形状。 分束器透射通过第一前透镜的第一形状并被第一反射板反射并且对照相机进行相同的入射并反射透过第二前透镜并被第二反射板反射的第二形状 摄像机事件。

    부품 실장기의 부품 인식 장치
    7.
    发明公开
    부품 실장기의 부품 인식 장치 有权
    识别芯片安装电子部件的装置

    公开(公告)号:KR1020100031020A

    公开(公告)日:2010-03-19

    申请号:KR1020080090047

    申请日:2008-09-11

    Inventor: 강민수

    Abstract: PURPOSE: A component recognition device of a part-mounter is provided to accurately mount parts on an electronic circuit substrate by compensating errors between an ideal pattern and a distorted pattern. CONSTITUTION: A plurality of nozzles(10-1~10-6) mount parts(20-1~20-6) on an electronic circuit substrate. A teaching camera(50) outputs the visions of the parts mounted on the electronic circuit substrate. A video processing unit gets an image of parts absorbed through a plurality of nozzles. An error computation and correction unit computes and compensates the error of distorted image due to a lens. A controlling unit(500) controls the location of parts by changing the location of a plurality of nozzles.

    Abstract translation: 目的:通过补偿理想图案和失真图案之间的误差,提供零件贴装机的元件识别装置,以准确地将零件安装在电子电路基板上。 构成:多个喷嘴(10-1〜10-6)在电子电路基板上安装零件(20-1〜20-6)。 教学用摄像机(50)输出安装在电子电路基板上的部件的视野。 视频处理单元获得通过多个喷嘴吸收的部件的图像。 误差计算和校正单元计算和补偿由于透镜引起的失真图像的误差。 控制单元(500)通过改变多个喷嘴的位置来控制部件的位置。

    텔레센트릭 광학계 및 이를 구비하는 전자 부품 실장 장치
    8.
    发明公开
    텔레센트릭 광학계 및 이를 구비하는 전자 부품 실장 장치 有权
    电子透镜系统和芯片安装套件

    公开(公告)号:KR1020090039386A

    公开(公告)日:2009-04-22

    申请号:KR1020070104999

    申请日:2007-10-18

    Inventor: 강민수

    CPC classification number: G02B13/22 G02B9/34 G02B13/0045 G02B15/14

    Abstract: An electronic lens system and chip mounting unit is provided to reduce installation space by making the device configuration simple. A first optic(L1) including a first optic group(G1) is the meniscus lens and a second lens(L2) including a biconvex lens. A second lens group is composed of a fourth lens(L4) including the second lens group(G2). A third lens group is composed of the seventh lens(L7) of the meniscus lens pressed to the object side and sixth lens(L6). A fourth lens group is composed of an eighth lens(L8) including the meniscus lens which the fourth lens group(G4) is bulging to the upper and ninth lens(L9).

    Abstract translation: 提供电子透镜系统和芯片安装单元以通过使装置构造简单来减少安装空间。 包括第一光学组(G1)的第一光学元件(L1)是弯月透镜和包括双凸透镜的第二透镜(L2)。 第二透镜组由包括第二透镜组(G2)的第四透镜(L4)组成。 第三透镜组由按压到物体侧的弯月形透镜的第七透镜(L7)和第六透镜(L6)组成。 第四透镜组由包括第四透镜组(G4)向第九透镜(L9)凸出的弯月透镜的第八透镜(L8)组成。

    시간 지연 및 가변 분해능을 가진 클럭 발생 회로
    9.
    实用新型
    시간 지연 및 가변 분해능을 가진 클럭 발생 회로 无效
    具有时间延迟和可变分辨率的时钟发生电路

    公开(公告)号:KR2019960027872U

    公开(公告)日:1996-08-17

    申请号:KR2019950001044

    申请日:1995-01-24

    Inventor: 정인식 강민수

    Abstract: 본고안은시간지연및 가변분해능을가진클럭발생회로에관한것으로, 상세하게는전자회로설계응용에사용되는전자제어시스템특히데이타분해능을자주바꿔야하거나시간지연이필요하거나디지탈데이타의직렬대 병렬혹은그 역으로의상호변환시에사용될수 있는시간지연및 가변분해능을가진클럭발생회로에관한것이다. 즉, 본고안에따른시간지연및 가변분해능을가진클럭발생회로는 PAL(programmable array logic)소자를이용하여(카운터의출력을 PAL입력으로사용) CL 및 B 신호를임의로조정할수 있으므로데이타의분해능과 INHIBT 타임이자주변하거나다른시스템에회로의수정없이프로그램수정만으로유용하게사용할수 있다.

    부품실장기의 Z축 초점 면 보정장치 및 이를 사용하는 Z축 초점 면 보정방법
    10.
    发明授权
    부품실장기의 Z축 초점 면 보정장치 및 이를 사용하는 Z축 초점 면 보정방법 有权
    用于校准芯片安装机的z轴聚焦位置的装置和使用该芯片安装器的芯片安装器的z轴聚焦位置的校准方法

    公开(公告)号:KR101583669B1

    公开(公告)日:2016-01-12

    申请号:KR1020090100178

    申请日:2009-10-21

    Inventor: 강민수

    Abstract: 본발명에따른부품실장기의 Z축초점면 보정장치는, 헤드의스핀들에연결되어 Z축높낮이가조절되며, 하부에주기적인제1패턴이형성된인식부재와, 상기인식부재의하부에설치되며, CCD의주기적인제2패턴과상기제1패턴이형성하는무아레간섭무늬를스캔하여상기무아레간섭무늬가가장선명해지는 Z축인식지점을획득하는부품인식부및, 상기획득된 Z축인식지점과기설정된 Z축초점면의차이값을보상하여, 상기획득된 Z축인식지점을상기부품인식부의 Z축초점면으로설정하는제어부를포함한다. 또한, 본발명에따른부품실장기의 Z축초점면 보정방법은, 승강가능하게설치되는인식부재를부품인식부와마주보도록이동위치시키는제1단계와, 상기인식부재의하부면에형성된주기적인제1패턴과상기부품인식부에형성된주기적인제2패턴의교차되는부위에무아레간섭무늬가형성되는제2단계와, 상기무아레간섭무늬의밝고어두운부분의명암비가가장큰 Z축인식지점과, 기설정된상기부품인식부의 Z축초점면의차이값을연산하는제3단계및, 상기차이값을보상하여상기 Z축인식지점을상기부품인식부의 Z축초점면으로설정하는제4단계를포함한다.

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