公开(公告)号：WO1991014934A1

公开(公告)日：1991-10-03

申请号：PCT/US1991001143

申请日：1991-02-21

Applicant: ABB PROCESS AUTOMATION INC.

Inventor： ABB PROCESS AUTOMATION INC. ,  BURK, Gary, N.

IPC: G01N21/86

CPC classification number: G01J3/46 ,  G01J3/465 ,  G01J2003/467 ,  G01N21/86 ,  G01N2021/8663 ,  Y10S162/11

Abstract: The stack reflectance is predicted from an on-line, wavelength dependent measurement of the sheet reflectance and the on-line measurement of the sheet opacity at a wavelength interval. The stack reflectance Rst is then used to predict and/or control stack color, preferably by using the parameter K/S = (1-Rst2)/2 Rst.

公开(公告)号：EP0521881A1

公开(公告)日：1993-01-13

申请号：EP91905085.0

申请日：1991-02-21

Applicant: ABB PROCESS AUTOMATION INC.

Inventor： BURK, Gary, N.

IPC: G01J3 ,  G01N21

CPC classification number: G01J3/46 ,  G01J3/465 ,  G01J2003/467 ,  G01N21/86 ,  G01N2021/8663 ,  Y10S162/11

Abstract: La réflectance de pile est prédite à partir d'une mesure en ligne, se rapportant à la longueur d'onde, de la réflectance d'une feuille et de la mesure en ligne de l'opacité de la feuille à un intervalle de longueur d'onde. La réflectance de pile Rst est alors utilisée pour prédire et/ou régler la couleur de la pile, de préférence en utilisant le paramètre K/S = (1-Rst2)/2 Rst.