-
公开(公告)号:FR3060121B1
公开(公告)日:2019-05-17
申请号:FR1662258
申请日:2016-12-09
Applicant: COMMISSARIAT ENERGIE ATOMIQUE
Inventor: FOURNEL FRANK , DEKIOUS ALI , DELOFFRE EMILIE , DESPAUX GILLES , LARREY VINCENT , LE CLEZIO EMMANUEL
Abstract: L'invention concerne un procédé de contrôle d'un assemblage comprenant des premier (W1) et deuxième (W2) substrats accolés, ce procédé comportant les étapes suivantes : a) émettre un signal ultrasonore d'excitation en direction de l'assemblage au moyen d'un transducteur ultrasonore (301) placé du côté de la face avant (A1) du premier substrat (W1) ; b) mesurer, au moyen dudit transducteur (301), un signal ultrasonore retour comportant au moins un écho (EF1) du signal d'excitation sur la face arrière (B2) du deuxième substrat (W2) ; c) calculer, au moyen d'un circuit de traitement (303), un signal spectral représentatif de l'évolution en fréquence d'un coefficient de réflexion global de l'assemblage, défini comme étant le rapport du signal retour mesuré à l'étape b) sur le signal d'excitation ; et d) déduire dudit signal spectral une information quant à la qualité du collage entre les premier (W1) et deuxième (W2) substrats.
-
公开(公告)号:FR3060121A1
公开(公告)日:2018-06-15
申请号:FR1662258
申请日:2016-12-09
Applicant: COMMISSARIAT ENERGIE ATOMIQUE
Inventor: FOURNEL FRANK , DEKIOUS ALI , DELOFFRE EMILIE , DESPAUX GILLES , LARREY VINCENT , LE CLEZIO EMMANUEL
Abstract: L'invention concerne un procédé de contrôle d'un assemblage comprenant des premier (W1) et deuxième (W2) substrats accolés, ce procédé comportant les étapes suivantes : a) émettre un signal ultrasonore d'excitation en direction de l'assemblage au moyen d'un transducteur ultrasonore (301) placé du côté de la face avant (A1) du premier substrat (W1) ; b) mesurer, au moyen dudit transducteur (301), un signal ultrasonore retour comportant au moins un écho (EF1) du signal d'excitation sur la face arrière (B2) du deuxième substrat (W2) ; c) calculer, au moyen d'un circuit de traitement (303), un signal spectral représentatif de l'évolution en fréquence d'un coefficient de réflexion global de l'assemblage, défini comme étant le rapport du signal retour mesuré à l'étape b) sur le signal d'excitation ; et d) déduire dudit signal spectral une information quant à la qualité du collage entre les premier (W1) et deuxième (W2) substrats.
-