AUTOMATIC OR SEMI-AUTOMATIC DEVICE FOR TRIMMING AN OPHTHALMIC LENS
    1.
    发明申请
    AUTOMATIC OR SEMI-AUTOMATIC DEVICE FOR TRIMMING AN OPHTHALMIC LENS 审中-公开
    自动或半自动装置,用于调整眼镜

    公开(公告)号:WO02098606A3

    公开(公告)日:2003-09-25

    申请号:PCT/FR0201918

    申请日:2002-06-05

    CPC classification number: B24B49/12 B24B9/148 B24B13/0055 B24B41/02

    Abstract: The invention concerns a device comprising in combination: means for detecting (4) characteristics of a lens; means for integrating characteristics representing a patient's morphology; a support (3) of the mobile lens along a predetermined trajectory between a first measuring position and a loading position; grinding means (20); and means forming a gripping and clamping clip (25) for transporting the lens from said loading position to said grinding position.

    Abstract translation: 本发明涉及一种包括组合的装置:用于检测(4)透镜特性的装置; 用于整合代表患者形态的特征的手段; 沿第一测量位置和装载位置之间的预定轨迹的移动透镜的支撑件(3); 研磨装置(20); 以及形成用于将所述透镜从所述装载位置传送到所述研磨位置的夹紧夹具(25)的装置。

    PROCEDIMIENTO Y APARATO DE MEDIDA LOCAL DE LAS CARACTERISTICAS DE REFRIGERACION DE UNA LENTE EN UNO O VARIOS PUNTOS ESPECIFICOS DE ESTA LENTE.

    公开(公告)号:ES2307226T3

    公开(公告)日:2008-11-16

    申请号:ES05822973

    申请日:2005-11-24

    Applicant: ESSILOR INT

    Abstract: Procedimiento de medida por deflectometría de al menos una característica de refracción de una lente (L) en al menos un punto de medida específico de esta lente, que incluye las etapas que consisten en: - elaborar un haz luminoso (28) colimado dirigido hacia la lente (L), - separar un grupo localizado de al menos tres rayos luminosos (35) no coplanares del haz luminoso (28), siendo reagrupados estos rayos alrededor de un eje de medida (37) en un cilindro de medida que tiene una sección sensiblemente más pequeña que la lente medida (L), - medir la desviación imprimida por la lente (L) a estos rayos luminosos, - deducir el valor de la característica de refracción de la lente (L) en el punto de medida, caracterizado porque, permaneciendo la lente medida (L) fija con relación al haz luminoso, la posición del eje de medida (37) es variable de una medida a otra para adaptarse a la del punto de medida.

    PROCEDE ET APPAREIL DE MESURE LOCALE DES CARACTERISTIQUES DE REFRACTION D'UNE LENTILLE EN UN OU PLUSIEURS POINTS SPECIFIQUES DE CETTE LENTILLE

    公开(公告)号:FR2880118A1

    公开(公告)日:2006-06-30

    申请号:FR0413877

    申请日:2004-12-23

    Applicant: ESSILOR INT

    Abstract: L'appareil de mesure comporte :- un support (40) agencé pour accueillir une telle lentille, seule ou sur sa monture,- d'un premier côté dudit support, des moyens d'éclairement (21) incluant un système optique pour élaborer un faisceau lumineux collimaté (28) dirigé vers la lentille (L) installée sur ledit support (40), et- d'un côté ou de l'autre du support (40), des moyens (23) de détachement de rayons lumineux du faisceau lumineux, aptes à détacher un groupe localisé d'au moins trois rayons lumineux non coplanaires regroupés autour d'un axe de mesure passant par le point de mesure de la lentille, dans un cylindre de mesure ayant une section sensiblement plus petite que la lentille mesurée,- d'un second côté du support (40), des moyens d'acquisition (30) propres à relever les déviations imprimées par la lentille à ces rayons lumineux détachés et à délivrer un signal représentatif de cette déviation,- un système électronique et informatique (50) programmé pour déduire desdites déviations la valeur de la caractéristique de réfraction de la lentille (L) au point de mesure.Le support (40) étant fixe par rapport aux moyens d'éclairement (21), les moyens de détachement des rayons lumineux possèdent une géométrie adaptative pilotée par le système électronique et informatique (50) pour modifier la position de l'axe de mesure en fonction de la position du point de mesure.

    5.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:FR2880118B1

    公开(公告)日:2007-03-02

    申请号:FR0413877

    申请日:2004-12-23

    Applicant: ESSILOR INT

    Abstract: The method involves measuring the deviation produced by a lens (L) to light rays, and determining the value of refraction characteristics of the lens at a measurement point. The lens is maintained fixed with respect to a lighting unit. The position of measurement axis is variable from one measurement from to anther measurement for adapting to that of the measurement point of the lens. An independent claim is also included for an apparatus for measuring refraction characteristics of a lens in a specific point.

    7.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:FR2825308A1

    公开(公告)日:2002-12-06

    申请号:FR0107315

    申请日:2001-06-05

    Applicant: ESSILOR INT

    Abstract: The invention concerns a device comprising in combination: means for detecting (4) characteristics of a lens; means for integrating characteristics representing a patient's morphology; a support (3) of the mobile lens along a predetermined trajectory between a first measuring position and a loading position; grinding means (20); and means forming a gripping and clamping clip (25) for transporting the lens from said loading position to said grinding position.

    8.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:AT499181T

    公开(公告)日:2011-03-15

    申请号:AT02745486

    申请日:2002-06-05

    Applicant: ESSILOR INT

    Abstract: Device comprising in combination: elements for detecting ( 4 ) characteristics of a lens; elements for integrating characteristics representing a patient's morphology; a support ( 3 ) of the mobile lens along a predetermined trajectory between a first measuring position and a loading position; grinding elements ( 20 ); and elements forming a gripping and clamping clip ( 25 ) for transporting the lens from the loading position to the grinding position.

    9.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE602005006620D1

    公开(公告)日:2008-06-19

    申请号:DE602005006620

    申请日:2005-11-24

    Applicant: ESSILOR INT

    Abstract: The method involves measuring the deviation produced by a lens (L) to light rays, and determining the value of refraction characteristics of the lens at a measurement point. The lens is maintained fixed with respect to a lighting unit. The position of measurement axis is variable from one measurement from to anther measurement for adapting to that of the measurement point of the lens. An independent claim is also included for an apparatus for measuring refraction characteristics of a lens in a specific point.

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