PROCEDE ET DISPOSITIF POUR LA MESURE DE LA PHASE SPECTRALE OU DE PHASES SPECTRALE ET SPATIALE COMBINEES D'IMPULSIONS LUMINEUSES ULTRA BREVES.

    公开(公告)号:FR2925956A1

    公开(公告)日:2009-07-03

    申请号:FR0709092

    申请日:2007-12-26

    Applicant: FASTLITE SARL

    Abstract: Le procédé et le dispositif pour la mesure de la phase spectrale ou de phases spectrale et spatiale combinées d'impulsions lumineuses ultra brèves, consistent à effectuer :- une décomposition (S) de l'impulsion lumineuse (Ii) à mesurer en deux répliques identiques dénommées respectivement impulsion signal (Is) et impulsion de référence primaire (Irp), de polarisation ou de direction différentes et dont les caractéristiques de phase sont essentiellement identiques à l'impulsion d'origine (Ii),- un filtrage temporel (DMNL) de l'impulsion de référence primaire (Irp) par une interaction non linéaire générant une impulsion de référence secondaire (Irs) de fréquence moyenne essentiellement identique et de largeur spectrale supérieure à la largeur spectrale de l'impulsion de référence primaire (Irp),- une mesure d'interférométrie spectrale (SPEC) par recombinaison (R) de cette impulsion de référence secondaire (Irs) et de l'impulsion signal (Is) avec un décalage temporel donné.

Patent Agency Ranking