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    Instrumento de medida y método para determinación de las propiedades de un artículo y su superficie
    5.
    发明专利
    Instrumento de medida y método para determinación de las propiedades de un artículo y su superficie 未知

    公开(公告)号：ES2743461T3

    公开(公告)日：2020-02-19

    申请号：ES10821623

    申请日：2010-10-07

    Applicant: FOCALSPEC OY

    Inventor： NIEMELÄ KARRI ,  KERÄNEN HEIMO

    IPC: G01N21/41 ,  G01B11/06 ,  G01N21/57

    Abstract: Un dispositivo de medida (100, 150, 180) para la determinación de una o más propiedades de un objeto medido por medio de una radiación óptica, en donde el dispositivo de medida comprende: - al menos una fuente de radiación óptica (101) para emitir radiación óptica (102) hacia el objeto medido, y - al menos un detector (107) para recibir la radiación reflejada desde el objeto medido y para generar una señal eléctrica proporcional a su intensidad, en donde, el dispositivo comprende, además - una unidad (108a) de procesamiento de radiación óptica, la cual está ajustada para dividir la radiación óptica (102) emitida por la fuente óptica en longitudes de onda (103, 104a, 104b, 104c) separadas y para dirigir dichas longitudes de onda separadas (103) hacia el objeto medido (109) en una dirección que difiere de la normal (110) de la superficie que está siendo medida de forma que al menos las longitudes de onda más corta y más larga (104a, 104b, 104c) de dichas longitudes de onda sean enfocadas sobre lados diferentes (109a, 109b) de la superficie del objeto medido y hacia diferentes alturas (109a, 109b) en la dirección de la normal (110) de la superficie (109) que está siendo medida, - una unidad (108b) de procesamiento de radiación óptica reflejada la cual está ajustada para recibir una radiación óptica (106) reflejada desde el objeto medido (109) al menos en la dirección de una reflexión especular (105), la cual difiere de la normal (110) de la superficie que está siendo medida (109) y para dirigir la radiación óptica recibida hacia dicho detector (107), en donde el dispositivo de medida (100, 150, 180) está ajustado para analizar una señal eléctrica producida por el detector y proporcional a la intensidad de la radiación enfocada hacia el mismo, caracterizado por que el dispositivo de medida está ajustado, además, para determinar al menos una característica que describe el brillo de la superficie del objeto medido, tal como grado de brillo, basándose en la intensidad de aquella longitud de onda cuyo punto de enfoque estaba situado (104a, 104b, 104c) sobre la superficie medida (109) y, así, es reflejada desde ese punto hacia el detector (107) como la longitud de onda más fuerte en la geometría especular.

    MEASURING INSTRUMENT AND METHOD FOR DETERMINATION OF THE PROPERTIES OF AN ITEM AND ITS SURFACE
    8.
    发明公开
    MEASURING INSTRUMENT AND METHOD FOR DETERMINATION OF THE PROPERTIES OF AN ITEM AND ITS SURFACE 审中-公开
    仪表和方法确定物件及其表面的特性

    公开(公告)号：EP2486392A4

    公开(公告)日：2017-01-04

    申请号：EP10821623

    申请日：2010-10-07

    Applicant: FOCALSPEC OY

    Inventor： NIEMELÄ KARRI ,  KERÄNEN HEIMO

    IPC: G01B11/06 ,  G01N21/41 ,  G01N21/57

    CPC classification number: G01B11/0633 ,  G01B11/065 ,  G01B2210/50 ,  G01N21/41 ,  G01N21/57

    Abstract: A measurement device for the determination of the characteristics of the object's surface by means of the optical radiation, wherein a measurement device comprises an optical radiation source and a detector to receive the radiation reflected from the surface being measured. In addition, a measurement device comprises an emitted optical radiation processing unit, which is adjusted to split optical radiation emitted by an optical source into separate wavelengths and to direct said separate wavelengths to the object being measured in a direction, that differs from the normal of the surface being measured so, that at least the shortest and the longest wavelengths of said wavelengths are focused on different halves and different heights of the measured object's surface, in the direction of the normal of the surface being measured. In addition, a measurement device comprises a reflected optical radiation processing unit, which is adjusted to receive an optical radiation reflected from the measured object at least in the direction of a specular reflection, which differs from the normal of the surface being measured, and to direct received optical radiation to said detector. Still further, the measurement device is adjusted to analyze an electric signal produced by the detector and proportional to the intensity of the radiation focused thereto, and to further determine a surface gloss (gloss degree) and/or thickness characteristic property of the measured object, based on the intensity of its wavelength, the focus point of which was located on the measured surface, and which wavelength was the strongest reflected from that point to the detector in the specular geometry.

    Abstract translation: 对的对象的表面的特性的确定由所述光辐射的手段，worin光辐射源和检测器的测量装置包括用于接收辐射的测量装置从所述表面被测量反射。 另外，被调整的测量装置发射的光辐射处理单元包括，全部以在光源分割由发射的光辐射成单独的波长，并引导所述分离波长的对象被测量的方向上，从正常的那样而异 表面被测量所以没有至少所述的波长的最短和最长的波长集中在不同的半部与被测物体表面的不同高度，在正常的表面的方向测量的。 此外，测量设备包括被调整以接收的光辐射从至少一个镜面反射，其从正常的表面的不同的方向上的测量对象物反射的被测量的反射光辐射处理单元，全部和向 直接接收到的光辐射到所述检测器。 更进一步地，所述测量装置被调整来分析由所述检测器和比例产生的聚焦到其上的辐射的强度的电信号，和つweiterer确定性矿的表面光泽度（光泽度），和/或测量对象物的厚度特征性质， 基于其波长的强度，其中聚焦点位于被测表面上，并且其波长从做点在镜面几何形状检测器，其最强的反射。

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