Verfahren zum Prüfen eines Arbeitsspeichers
    2.
    发明公开
    Verfahren zum Prüfen eines Arbeitsspeichers 有权
    Verfahren zumPrüfeneines Arbeitsspeichers

    公开(公告)号:EP2063432A1

    公开(公告)日:2009-05-27

    申请号:EP07075997.2

    申请日:2007-11-15

    CPC classification number: G11C29/02 G11C29/024 G11C29/12 G11C2029/0409

    Abstract: Das Verfahren zum Prüfen eines Arbeitsspeichers, der eine Matrix von Speicherzellen, einen Adressbus/-codierer und einen Schalt-/Lesekreis aufweist, besteht aus zwei Verfahrensteilen, bei dem in einem Schritt zumindest ein Teil des Adressbus/-codierers auf Adressfehler hin überprüft wird und in einem anderen Schritt zumindest ein Teil der Speicherzellen auf Zellfehler überprüft wird. Die Prüfschritte sind zeitlich unabhängig voneinander und können somit auch während des Betriebs erfolgen.

    Abstract translation: 该方法涉及测试地址错误的寻址单元的一部分,以及测试用于单元错误的存储器单元(3)的一部分,其中测试步骤在时间上彼此独立地进行。 确定地址错误和耦合地址错误。 地址总线(5)的n位的地址位在保持用于确定卡在地址错误的剩余地址位的状态下从0到1和从1到0被设置。 基于地址位的设置,不同的位模式被写入存储器单元。

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